一种半导体芯片封装测试装置制造方法及图纸

技术编号:40289048 阅读:6 留言:0更新日期:2024-02-07 20:40
本技术公开了一种半导体芯片封装测试装置,属于封装测试技术领域,包括测试台、压板、测试端子以及放置槽,测试台一侧连接有压板,压板上安装有测试端子,测试台中部开设有放置槽,测试端子与放置槽插接配合,放置槽内对称安装有支撑组件,放置槽一侧安装有滑轨,滑轨上安装有多个取放料机构。解决了对测试后的半导体芯片不能够自动分类,从而容易造成混装,降低了交付产品质量,且为了避免混装,需要人工测试后进行分类,从而降低了工作效率,以及人工成本的使用提高问题。具有能够对芯片进行自动上下料,且进行分类,并将不同类别的芯片进行分别存放,从而实现自动分类,且降低人工使用,提高测试效率,以及降低人工成本使用的优点。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及封装测试,具体涉及一种半导体芯片封装测试装置


技术介绍

1、在集成电路封装完成后,离厂前必须先经过抽样测试,确认其设计功能确已达到要求。一般ic封装测试需借由三个主要构件加以接合测试。首先,由一搬运系统的测试处理机,将封装后的ic封装件由承载器取出,并将ic封装件装置于配合其引脚的测试插座上,并设定环境参数。接着,将测试插座与测试板接合,该测试板为讯号传送接点的转换接口,可将受测ic封装件引脚上的讯号连接至测试机台的测试头。最后,测试机执行其预设的测试程序,完整地评估芯片的预设功能是否均能达成。

2、专利申请公布号cn210604875u的技术专利公开了一种半导体芯片电性检测装置,该技术不仅能够利用压板上的电极接触半导体芯片的引脚实现对qfn封装的半导体芯片的电性测试,操作方便、成本较低,还能通过滑动杆和弧形槽的配合导向盖板的转动,消除铰接部件磨损后出现的转动偏移,保证电极与引脚的接触精度,从而提高测试精度。

3、但是该结构在实际使用时,对测试后的半导体芯片不能够自动分类,从而容易造成混装,降低了交付产品质量,且为了避免混装,需要人工测试后进行分类,从而降低了工作效率,以及人工成本的使用提高,因此,现提出一种半导体芯片封装测试装置。


技术实现思路

1、本技术技术方案针对于现有技术解决过于单一的技术问题,提供了显著不同于现有技术的解决方案。为此,本技术提供一种半导体芯片封装测试装置,以解决现有技术中的问题。

2、为了实现上述目的,本技术提供如下技术方案:

3、根据本技术一种半导体芯片封装测试装置,包括测试台、压板、测试端子以及放置槽,测试台一侧连接有压板,压板上安装有测试端子,测试台中部开设有放置槽,测试端子与放置槽插接配合,放置槽内对称安装有支撑组件,放置槽一侧安装有滑轨,滑轨上安装有多个取放料机构。

4、进一步地,放置槽两侧对称开设有插槽,且支撑组件一端分别插接在对应的插槽内。

5、进一步地,放置槽底部设置有接取组件,且接取组件表面设置有缓冲垫。

6、进一步地,滑轨呈环形结构,两端呈闭合相接,以及滑轨一侧配合设置有载物台和包装台。

7、进一步地,支撑组件包括气缸,气缸安装在测试台一侧。

8、推拉杆,推拉杆一端与气缸连接,另一端插接在插槽内。

9、支撑板,支撑板一侧与推拉杆另一端连接,且支撑板与插槽内壁滑动配合。

10、进一步地,取放料机构包括驱动滑块,驱动滑块配合安装在滑轨上。

11、驱动转盘,驱动转盘安装在驱动滑块顶端。

12、电动伸缩杆,电动伸缩杆安装在驱动转盘顶端。

13、横板,横板一端连接在电动伸缩杆顶端。

14、支杆,支杆顶端连接在横板另一端底部。

15、吸盘,吸盘连接有负压组件,且吸盘安装在支杆底端。

16、本技术实施例具有如下优点:

17、1、通过本技术设计的结构,通过放置槽、气缸、推拉杆、支撑板的设置,能够对待测芯片进行支撑,且测试完毕后,芯片ng则两个支撑板将放置槽打开,从而使得ng芯片被分类到接取组件上,实现对ng芯片的分类和存放;

18、2、通过本技术设计的结构,通过驱动滑块、驱动转盘、电动伸缩杆、横板、支杆、吸盘以及滑轨的设置,能够对待测芯片进行自动上料,且能够对on芯片进行再次吸取,并放置在包装台上,实现对on芯片的分类和存放,从而实现对整体测试芯片的分类和存放,避免了采用人工进行分类,从而提高了测试和分类效率,并降低了人工成本的使用。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体芯片封装测试装置,包括测试台(1)、压板(2)、测试端子(3)以及放置槽(4),所述测试台(1)一侧连接有压板(2),所述压板(2)上安装有测试端子(3),所述测试台(1)中部开设有放置槽(4),所述测试端子(3)与放置槽(4)插接配合,其特征在于:所述放置槽(4)内对称安装有支撑组件(5),所述放置槽(4)一侧安装有滑轨(6),所述滑轨(6)上安装有多个取放料机构(7),所述放置槽(4)两侧对称开设有插槽(8),且支撑组件(5)一端分别插接在对应的插槽(8)内,所述放置槽(4)底部设置有接取组件,且接取组件表面设置有缓冲垫。

2.如权利要求1所述的一种半导体芯片封装测试装置,其特征在于:所述滑轨(6)呈环形结构,两端呈闭合相接,以及滑轨(6)一侧配合设置有载物台和包装台。

3.如权利要求1所述的一种半导体芯片封装测试装置,其特征在于:所述支撑组件(5)包括气缸(501),所述气缸(501)安装在测试台(1)一侧;

4.如权利要求1所述的一种半导体芯片封装测试装置,其特征在于:所述取放料机构(7)包括驱动滑块(701),所述驱动滑块(701)配合安装在滑轨(6)上;

...

【技术特征摘要】

1.一种半导体芯片封装测试装置,包括测试台(1)、压板(2)、测试端子(3)以及放置槽(4),所述测试台(1)一侧连接有压板(2),所述压板(2)上安装有测试端子(3),所述测试台(1)中部开设有放置槽(4),所述测试端子(3)与放置槽(4)插接配合,其特征在于:所述放置槽(4)内对称安装有支撑组件(5),所述放置槽(4)一侧安装有滑轨(6),所述滑轨(6)上安装有多个取放料机构(7),所述放置槽(4)两侧对称开设有插槽(8),且支撑组件(5)一端分别插接在对应的插槽(8)内,所述放置槽(4)底部设置有接取组件...

【专利技术属性】
技术研发人员:顾岚雁林河北杨东霓张传发宋清宋
申请(专利权)人:东莞市金誉半导体有限公司
类型:新型
国别省市:

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