一种电容屏快速测试系统技术方案

本发明专利技术提供了一种电容屏快速测试系统，包括底座、下压夹具、排针式测试模组、水平移动送料平台和数值驱动机构，其下压夹具置于底座上；排针式测试模组具有若干个水平方向并排布置的双头顶针，双头顶针的两端上下布置；排针式测试模组设置在压板下方的底座上，或者排针式测试模组设置在压板的下表面；水平移动送料平台设置在底座上；竖直驱动机构能够驱动下压夹具的压板向下动作。本发明专利技术提供的电容屏快速测试系统，能够快速、准确测试电容屏产品，具备准确率高、效率高的特点，并且由于整体结构设计合理，提高了测试系统的使用寿命，能够满足各种电容式触摸屏功能片生产制程测试的需求。各种电容式触摸屏功能片生产制程测试的需求。各种电容式触摸屏功能片生产制程测试的需求。

【技术实现步骤摘要】
一种电容屏快速测试系统


[0001]本专利技术涉及电子产品测试领域，特别是涉及一种电容屏快速测试系统。

技术介绍

[0002]随着物联网和智能穿戴等电子设备呈现出爆发式的增长，其中电容式触摸屏需求也日益扩大，多种场景的变化，用户定制化需求越来越高，外观趋向无边框，极窄边框，电容式触摸屏制造工艺精度越精密，对制造成本上也有更高的要求。
[0003]电容式触摸屏是一种传感器器件，是利用人体的电流感应进行工作的。而电容屏更主要的缺点是漂移：当环境温度、湿度改变时，环境电场发生改变时，都会引起电容屏的漂移，造成不准确。用户触摸屏幕的同时另一只手或身体一侧靠近显示器会漂移；电容触摸屏附近较大的物体搬移后回漂移，你触摸时如果有人围过来观看也会引起漂移；电容屏的漂移原因属于技术上的先天不足，环境电势面(包括用户的身体)虽然与电容触摸屏离得较远，却比手指头面积大的多，他们直接影响了触摸位置的测定。
[0004]由于其自身的高敏感性给测试环境带来极高的要求，要求测试治具能提供良好的环境，否则测试结果存在非常大的误差。
[0005]美丽的外观同样需要高精密的极窄边框功能片，其要求极短的pin长度和间距极小的pin间距，要求较高的测试对位精度，这大大限制了测试的准确率。

技术实现思路

[0006]本专利技术实施例所要解决的技术问题在于，提供一种电容屏快速测试系统，解决电容屏sensor功能片快速测试的问题。
[0007]为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种电容屏快速测试系统，包括：r/>[0008]底座；
[0009]下压夹具，置于所述底座上，包括能够竖直下压的压板；
[0010]排针式测试模组，具有若干个水平方向并排布置的双头顶针，所述双头顶针的两端上下布置；所述排针式测试模组设置在所述压板下方的所述底座上，此时所述双头顶针的上端与置于所述压板上的测试电路板的管脚连接并导通，或者所述排针式测试模组设置在所述压板的下表面，此时所述双头顶针的下端与直接或间接固定在底座上的测试电路板的管脚连接并导通；
[0011]水平移动送料平台，设置在所述底座上，能够沿着底座在水平方向移动，以将待测试产品水平移动输送至所述下压夹具的下方；
[0012]竖直驱动机构，能够驱动所述下压夹具的压板向下动作，使所述待测试产品与所述排针式测试模组的双头顶针的自由端相向运动并接触。
[0013]所述排针式测试模组具有双排双头顶针，所述双排双头顶针横向交错布置，并且所述双排双头顶针的纵向投影间距小于单个双头顶针的针杆直径，从而能够进一步提高测试精度。
[0014]优选地，所述双头顶针为双头伸缩弹簧针，包括中间的针套、针杆和压缩弹簧，其中针杆具有两个，自针套两端向外伸出，压缩弹簧设置在针套内且连接两个针杆。
[0015]所述排针式测试模具还包括：
[0016]绝缘针床，具有与双排双头顶针位置对应的针套孔，所述双头排针的针套被固定在所述针套孔中；所述针套与所述针套孔之间采用间隙配合的方式固定连接；
[0017]绝缘固定板，设置在所述绝缘针床的一侧，具有与所述双排双头排针位置对应的排针孔，所述双头排针的针杆被固定在所述排针孔中；所述针杆与所述排针孔之间采用间隙配合的方式固定连接；
[0018]所述绝缘固定板与所述绝缘针床平行布置，并且所述绝缘固定板与所述双头顶针的自由端距离更近，并且所述绝缘固定板与所述双头顶针的针套的端部抵接；
[0019]优选地，所述绝缘针床的厚度大于所述绝缘固定板的厚度，但小于双头顶针的枕套的长度。
[0020]所述下压夹具，还包括底板，所述底板被固定在所述底座上且与所述压板平行，所述底板和所述压板之间通过直线轴导向连接；
[0021]所述直线轴连接在设置于所述压板上的轴套中，并对应地，在所述压板上设有轴套孔，用于安装所述轴套；
[0022]在所述压板和所述底板之间的所述直线轴上设有弹簧。
[0023]所述水平移动送料平台包括X轴驱动机构和Y轴驱动机构，所述X轴驱动机构和所述Y轴驱动机构均为直线驱动机构，通过所述Y轴驱动机构完成进给动作，通过所述X轴驱动机构完成对水平移动送料平台的横向位置调节。
[0024]所述直线驱动机构为滑台、直线导轨、丝杆螺母、滑槽滑块等，所述直线驱动机构不包括气缸、直线电机等电动产生干扰的机构。
[0025]在所述水平移动送料平台上还设置定位块，分别是对待测试产品的侧边定位的两个侧定位块和对所述待测试产品的底边定位的底定位块，所述侧定位块和所述底定位块在所述水平移动送料平台上的位置可调。
[0026]所述竖直驱动机构采用推拉快速夹、直线导轨、丝杆螺母，所述直线驱动机构的输出端能够连接在所述压板，以控制所述压板向下移动。
[0027]所述测试电路板包括：
[0028]第一PCB板，具有若干个线性排布的露铜连接点，所述第一PCB板置于所述下压夹具内，并使露铜连接点面向所述下压夹具内侧；
[0029]一个或多个第二PCB板；
[0030]柔性扁平线缆，与所述第二PCB板对应，用于将一个或多个所述第二PCB板连接所述第一PCB板和所述第二PCB板，并且多个所述第二PCB板对应连接到所述第一PCB板的不同露铜区；
[0031]其中所述第二PCB板作为驱动板；所述第一PCB板作为测试板；
[0032]所述水平移动送料平台、所述竖直驱动机构均采用非电驱动。
[0033]实施本专利技术的技术方案，具有如下有益效果：
[0034]本专利技术提供的电容屏快速测试系统，能够快速、准确测试电容屏产品，具备准确率高、效率高的特点，并且由于整体结构设计合理，提高了测试系统的使用寿命，能够满足各
种电容式触摸屏功能片生产制程测试的需求；整个技术方案大量使用绝缘材料，降低了电流、电磁波对检测过程的干扰。
附图说明
[0035]图1是本专利技术提供的电容屏快速测试系统的结构示意图；
[0036]图2是本专利技术提供的测试系统使用一套排针式测试模组测试电容屏的结构示意图；
[0037]图3是本专利技术提供的测试系统使用一上一下两套排针式测试模组测试电容屏的结构示意图；
[0038]图4是本专利技术提供的测试系统使用两套排针式测试模组测试电容屏的结构示意图；
[0039]图5是本专利技术提供的下压夹具的结构示意图；
[0040]图6是本专利技术提供的测试电路板的结构示意图；
[0041]图7是本专利技术提供的排针式测试模组的结构示意图；
[0042]图8是本专利技术提供的水平移动送料平台和底座的结构示意图；
[0043]图9是本专利技术提供的测试示意图。
[0044]图中的附图标记：
[0045]100
‑
底座；
[0046]201
‑
压板；202
‑
螺母；203
‑
轴套；204
‑
直线轴；2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电容屏快速测试系统，其特征在于，包括：底座；下压夹具，置于所述底座上，包括能够竖直下压的压板；排针式测试模组，具有若干个并排布置的双头顶针，所述双头顶针的两端上下布置；所述排针式测试模组设置在所述压板下方的所述底座上，此时所述双头顶针的上端与置于所述压板上的测试电路板的管脚连接并导通，或者所述排针式测试模组设置在所述压板的下表面，此时所述双头顶针的下端与直接或间接固定在底座上的测试电路板的管脚连接并导通；水平移动送料平台，设置在所述底座上，能够沿着底座在水平方向移动，以将待测试产品水平移动输送至所述下压夹具的下方；竖直驱动机构，能够驱动所述下压夹具的压板向下动作，使所述待测试产品与所述排针式测试模组的双头顶针的自由端相向运动并接触。2.根据权利要求1所述的电容屏快速测试系统，其特征在于，所述排针式测试模组具有双排双头顶针，所述双排双头顶针横向交错布置，并且所述双排双头顶针的纵向投影间距小于单个双头顶针的针杆直径；优选地，所述双头顶针为双头伸缩弹簧针，包括中间的针套、针杆和压缩弹簧，其中针杆具有两个，自针套两端向外伸出，压缩弹簧设置在针套内且连接两个针杆。3.根据权利要求1所述的电容屏快速测试系统，其特征在于，所述排针式测试模具还包括：绝缘针床，具有与双排双头顶针位置对应的针套孔，所述双头排针的针套被固定在所述针套孔中；所述针套与所述针套孔之间采用间隙配合的方式固定连接；绝缘固定板，设置在所述绝缘针床的一侧，具有与所述双排双头排针位置对应的排针孔，所述双头排针的针杆被固定在所述排针孔中；所述针杆与所述排针孔之间采用间隙配合的方式固定连接；优选地，所述绝缘固定板与所述绝缘针床平行布置，所述绝缘固定板与所述双头顶针的自由端距离更近，并且所述绝缘固定板与所述双头顶针的针套的端部抵接；优选地，所述绝缘针床的厚度大于所述绝缘固定板的厚度，但小于双头顶针的枕套的长度。4.根据权利要求1所述的电容屏快速测试系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯海平，范江峰，
申请(专利权)人：江苏纳美达光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：