一种半导体检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及半导体技术领域，具体是一种半导体检测装置，包括工作台，所述工作台的底部两端处均固定连接有支撑板，所述工作台的顶部两侧处均固定连接有液压缸，且两个液压缸的顶部固定连接有同一个顶板，所述顶板的底部两端处均固定连接有连接板，且两个连接板的相对一面固定连接有同一个安装板，所述安装板的顶部固定安装有多个灯泡，所述安装板的底部固定安装有多个与灯泡相对应的正电板，所述正电板与灯泡之间电性连接，所述工作台的顶部设置有检测框，且检测框的底部内壁固定连接有多个挡板，多个所述挡板将检测框分隔成多个检测腔，且检测腔与正电板相对应。本实用新型专利技术具有增加半导体检测效率的优点。增加半导体检测效率的优点。增加半导体检测效率的优点。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体检测装置


[0001]本技术涉及半导体
，具体是一种半导体检测装置。

技术介绍

[0002]半导体，指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。
[0003]半导体在进行生产后，需要对其导电性能进行检测，目前，现有的半导体检测装置，通常包括正电板、负电板和灯泡，将半导体放置在正电板和负电板之间，使其与灯泡形成一个闭合电路，通过灯泡是否发光来确定半导体是否导电。
[0004]但是，类似于上述的半导体检测装置，其每次只能对一个半导体进行检测，检测效率低，降低半导体的生产效率。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种半导体检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]本技术的技术方案是：一种半导体检测装置，包括工作台，所述工作台的底部两端处均固定连接有支撑板，所述工作台的顶本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体检测装置，包括工作台(1)，所述工作台(1)的底部两端处均固定连接有支撑板(2)，其特征在于：所述工作台(1)的顶部两侧处均固定连接有液压缸(11)，且两个液压缸(11)的顶部固定连接有同一个顶板(7)，所述顶板(7)的底部两端处均固定连接有连接板(8)，且两个连接板(8)的相对一面固定连接有同一个安装板(6)，所述安装板(6)的顶部固定安装有多个灯泡(5)，所述安装板(6)的底部固定安装有多个与灯泡(5)相对应的正电板(9)，所述正电板(9)与灯泡(5)之间电性连接，所述工作台(1)的顶部设置有检测框(13)，且检测框(13)的底部内壁固定连接有多个挡板(14)，多个所述挡板(14)将检测框(13)分隔成多个检测腔(20)，且检测腔(20)与正电板(9)相对应，所述检测腔(20)的内部设置有负电板(15)。2.根据权利要求1所述的一种半导体检测装置，其特征在于：所述工作台(1)的顶部开有限位槽(17)，且限位槽(17)的内壁插接有限位...

【专利技术属性】
技术研发人员：王垚森，
申请(专利权)人：苏州斯迈欧电子有限公司，
类型：新型
国别省市：