量子点发光二极管测试装置及其校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电子器件测试设备技术领域，提供一种量子点发光二极管测试装置及其校准方法，上述量子点发光二极管测试装置包括用于放置量子点发光二极管的座体，盖设于座体上的盖体，设置于盖体上的多个调节件，以及设于盖体与座体之间并且用于安装探测器件的安装板，安装板与各调节件相连接，各调节件分别用于驱动安装板朝靠近或远离量子点发光二极管的方向移动，上述量子点发光二极管测试装置中的安装板可进行平行度调节，从而有效消除因制造精度低而引起不同的量子点发光二极管测试装置中的探测器件与量子点发光二极管的相对位置的差异，保证不同的量子点发光二极管测试装置的一致性，以确保量子点发光二极管性能测试的准确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
量子点发光二极管测试装置及其校准方法


[0001]本专利技术涉及电子器件测试设备
，尤其提供一种量子点发光二极管测试装置及其校准方法。

技术介绍

[0002]量子点发光二极管是一种由若干极其微小的半导体纳米晶体制成的薄层器件，其与有机发光二极管相比，节能性能更好且发光率更高，因此量子点发光二极管在照明和显示领域得到广泛应用。
[0003]目前，为保证产品品质，通常需要使用测试装置对量子点发光二极管进行性能测试，而测试装置内一般固定地设有探测器件，在测试过程中，测试装置中的探测器件与量子点发光二极管的相对位置因素会直接影响性能测试的准确性，然而，由于传统的测试装置的制造精度较低，在不同测试装置中，探测器件与量子点发光二极管的相对位置均存在差异，导致同一量子点发光二极管使用不同的测试装置进行性能测试会出现不同的测试结果，而为了提高测试效率，通常采用多个测试装置分别对量子点发光二极管进行性能测试，最终导致同一生产批次中的量子点发光二极管的性能测试的准确性较低。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种量子点本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量子点发光二极管测试装置，其特征在于，包括用于放置量子点发光二极管的座体，盖设于所述座体上的盖体，设置于所述盖体上的多个调节件，以及设于所述盖体与所述座体之间并且用于安装探测器件的安装板，所述安装板与各所述调节件相连接，各所述调节件分别用于驱动所述安装板朝靠近或远离量子点发光二极管的方向移动。2.根据权利要求1所述的量子点发光二极管测试装置，其特征在于：所述调节件呈柱状结构且可转动地连接于所述盖体上，所述调节件设有螺纹部，所述安装板开设有多个螺纹孔，所述调节件的所述螺纹部与对应的所述螺纹孔螺纹连接。3.根据权利要求2所述的量子点发光二极管测试装置，其特征在于：所述盖体上开设有多个通孔，各所述调节件分别可转动地设置于对应的所述通孔内，所述调节件设有操作部，所述操作部从对应的所述通孔伸出所述量子点发光二极管测试装置外。4.根据权利要求1所述的量子点发光二极管测试装置，其特征在于：各所述调节件呈环形阵列结构布置。5.根据权利要求1所述的量子点发光二极管测试装置，其特征在于：所述量子点发光二极管测试装置还包括设置于所述安装板朝向所述座体的表面上的连接件，所述探测器件通过所述连接件安装于所述安装板上。6.根据权利要求1所述的量子点发光二极管测试装置，其特征在于：所述座体上开设有用于容置所述量子点发光二极管的第一容置槽；和/或，所述盖体上开设有用于容置所述安装板的第二容置槽。7.根据权利要求6所述的量子点发光二极管测试装置，其特征在于：所述座体上开设有围绕所述第一容置槽设置的第一凹槽，所述盖体上设有围绕所述第二容置槽设置的第一凸台，所述第一凸台嵌设于所述第一凹槽内；或，所述座体上设有围绕所述第一容置槽设置的第二凸台，所述盖体上开设有围绕所述第二容置槽设置的第二凹槽，所述第二凸台嵌设于所述第二凹槽内。8.根据权利要求1-7任一项所述的量子点发光二极管测试装置，其特征在于：所述盖体的一侧部与所述座体相铰接。9.一种如权利要求1-8任一项...

【专利技术属性】
技术研发人员：柳春美，洪佳婷，芦子哲，贺晓光，严围，
申请(专利权)人：武汉国创科光电装备有限公司，
类型：发明
国别省市：