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本发明涉及电子器件测试设备技术领域,提供一种量子点发光二极管测试装置及其校准方法,上述量子点发光二极管测试装置包括用于放置量子点发光二极管的座体,盖设于座体上的盖体,设置于盖体上的多个调节件,以及设于盖体与座体之间并且用于安装探测器件的安装...该专利属于武汉国创科光电装备有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过武汉国创科光电装备有限公司授权不得商用。
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本发明涉及电子器件测试设备技术领域,提供一种量子点发光二极管测试装置及其校准方法,上述量子点发光二极管测试装置包括用于放置量子点发光二极管的座体,盖设于座体上的盖体,设置于盖体上的多个调节件,以及设于盖体与座体之间并且用于安装探测器件的安装...