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一种化学气相沉积装置制造方法及图纸

技术编号:32927566 阅读:18 留言:0更新日期:2022-04-07 12:18
本申请涉及化学气相沉积技术领域,具体提供了一种化学气相沉积装置,其包括:反应腔;衬托器,倾斜设置在上述反应腔内,用于放置衬底;供气组件,设置在上述反应腔的一端,包括竖直排列设置的多条进气气路,多条所述进气气路分别用于输送包含不同浓度的原料气体的外延气体,所述供气组件通过所述进气气路朝所述衬托器输送的所述外延气体中的所述原料气体的浓度随高度下降而减小;能够有效地对衬底上方的原料气体的浓度进行补偿,从而提高衬底上形成的薄膜厚度的均匀性。的薄膜厚度的均匀性。的薄膜厚度的均匀性。

【技术实现步骤摘要】
一种化学气相沉积装置


[0001]本申请涉及化学气相沉积
,具体而言,涉及一种化学气相沉积装置。

技术介绍

[0002]在半导体材料生长领域,化学气相沉积法是一种重要且常见的生长方法,广泛应用于半导体外延片制造、太阳能电池镀膜、新型二维材料生长等方面。化学气相沉积法利用载气将反应气体输送至衬底,在合适的温度和气压条件下,反应气体在衬底表面上进行化学反应以生成薄膜。
[0003]如图1所示,图1为现有技术的化学气相沉积装置的结构示意图,该装置包括反应腔和衬托器,反应腔为圆柱结构,衬托器为三角形结构,衬底放置在衬托器的斜边上,反应腔内竖直方向上通入的反应气体浓度一致。衬托器较低位置的衬底会先与反应气体接触并进行化学气相沉积(进行化学气相沉积时会消耗反应气体),导致原料气体浓度沿气体流动方向降低,衬托器较高位置的衬底的薄膜生长速率低于衬托器较低位置的衬底的薄膜生长速率,从而造成衬底上形成的薄膜厚度不均匀的问题。
[0004]针对上述问题,目前尚未有有效的技术解决方案。

技术实现思路

[0005]本申请的目的在于提供一种化学气相沉积装置,能够避免倾斜设置的衬底上形成的薄膜厚度不均匀的情况。
[0006]本申请提供了一种化学气相沉积装置,用于衬底的外延生长,其包括:反应腔;衬托器,倾斜设置在上述反应腔内,用于放置上述衬底;供气组件,设置在上述反应腔的一端,包括竖直排列设置的多条进气气路,多条上述进气气路分别用于输送包含不同浓度的原料气体的外延气体,上述供气组件通过上述进气气路朝上述衬托器输送的上述外延气体中的上述原料气体的浓度随高度下降而减小。
[0007]本申请提供的一种化学气相沉积装置,朝衬托器输送原料气体的浓度随高度下降而减小的外延气体,能够有效地对衬底上方的原料气体的浓度进行补偿,从而避免由于位于衬托器较低位置的衬底先进行化学气相沉积而造成的衬底上方的原料气体浓度沿气体流动方向的降低的问题,位于衬托器较高位置上的衬底的薄膜生长速率与位于衬托器较低位置上的衬底的薄膜生长速率相等,衬底上形成的薄膜厚度均匀。
[0008]可选地,上述反应腔为收缩结构,上述反应腔沿上述外延气体的流动方向收缩。
[0009]本申请提供的一种化学气相沉积装置的反应腔沿外延气体的流动方向收缩,从而使外延气体的流速沿着外延气体的流动方向增大,进而及时地对衬底上方的原料气体的浓度进行补偿,提高衬底上形成的薄膜厚度的均匀性。
[0010]可选地,上述供气组件朝上述衬托器输送的上述外延气体中的上述原料气体的浓度随高度下降而平滑下降。
[0011]可选地,上述供气组件朝上述反应腔输送的上述外延气体中的上述原料气体的浓度随高度下降而平滑下降。
[0012]可选地,上述化学气相沉积还包括与上述反应腔一体连接的进气腔和出气腔,上述进气腔设置在上述供气组件和上述反应腔之间,上述出气腔设置在上述反应腔的另一端。
[0013]本申请提供的一种化学气相沉积装置,在供气组件和反应腔之间设置进气腔,外延气体在进气腔内形成层流,供气组件朝反应腔输送的外延气体到反应腔前先经过进气腔,进气腔能够使供气组件输送的外延气体稳定下来以避免出现局部产生湍流的情况。
[0014]可选地,上述衬托器通过安装板和旋转轴安装在上述反应腔内,上述旋转轴与上述衬托器固定连接。
[0015]本申请提供的一种化学气相沉积装置,通过安装板和旋转轴将衬托器安装在反应腔内,旋转轴与衬托器固定连接,从而可以通过旋转轴改变衬托器的倾斜程度。
[0016]可选地,上述化学气相沉积装置还包括驱动组件,上述驱动组件用于驱动上述旋转轴旋转。
[0017]可选地,上述衬底的圆心位于在上述衬托器顶面的几何中心上。
[0018]可选地,上述衬托器的长度方向与水平方向形成的夹角的角度为5

30
°

[0019]可选地,上述衬托器与上述反应腔的上内壁面和下内壁面均存在间隙。
[0020]由上可知,本申请提供的一种化学气相沉积装置,朝衬托器输送原料气体的浓度随高度下降而减小的外延气体,能够有效地对衬底上方的原料气体的浓度进行补偿,从而避免由于位于衬托器较低位置的衬底先进行化学气相沉积而造成的衬底上方的原料气体浓度沿气体流动方向的降低的问题,位于衬托器较高位置上的衬底的薄膜生长速率与位于衬托器较低位置上的衬底的薄膜生长速率相等,衬底上形成的薄膜厚度均匀。
[0021]本申请的其他特征和优点将在随后的说明书阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本申请实施例了解。本申请的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0022]图1为现有技术的化学气相沉积装置的结构示意图。
[0023]图2为本申请一种实施例提供的一种化学气相沉积装置的主视图。
[0024]图3为本申请一种实施例提供的高度和原料气体的浓度的曲线图。
[0025]图4为本申请另一种实施例提供的高度和原料气体的浓度的曲线图。
[0026]图5为本申请另一种实施例提供的一种化学气相沉积装置沿竖直方向的剖面图。
[0027]图6为本申请实施例提供的一种衬托器为水平状态时反应腔俯视方向的剖面图。
[0028]附图标记:1、反应腔;2、衬托器;21、凹槽;3、供气组件;31、外延气体提供装置;32、进气气路;4、进气腔;5、出气腔;6、安装板;7、旋转轴。
具体实施方式
[0029]下面将结合本申请实施例中附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在
此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0030]应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0031]如图1所示,图1为现有技术的化学气相沉积装置的结构示意图,该装置包括反应腔和衬托器,反应腔为圆柱结构,衬托器为三角形结构,衬底放置在衬托器的斜边上,反应腔内竖直方向上通入的反应气体浓度一致。竖直方向上位置较低的衬底会先与反应气体接触并进行化学气相沉积(进行化学气相沉积时会消耗反应气体),导致衬底上方的原料气体浓度沿气体流动方向降低,竖直方向上位置较高的衬底的薄膜生长速率低于竖直方向上位置较低的衬底的薄膜生长速率,从而造成衬底上形成的薄膜厚度不均匀的问题。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种化学气相沉积装置,用于衬底的外延生长,包括反应腔(1),其特征在于,所述化学气相沉积装置还包括:衬托器(2),倾斜设置在所述反应腔(1)内,用于放置所述衬底;供气组件(3),设置在所述反应腔(1)的一端,包括竖直排列设置的多条进气气路(32),多条所述进气气路(32)分别用于输送包含不同浓度的原料气体的外延气体,所述供气组件(3)通过所述进气气路(32)朝所述衬托器(2)输送的所述外延气体中的所述原料气体的浓度随高度下降而减小。2.根据权利要求1所述的化学气相沉积装置,其特征在于,所述反应腔(1)为收缩结构,所述反应腔(1)沿所述外延气体的流动方向收缩。3.根据权利要求1所述的化学气相沉积装置,其特征在于,所述供气组件(3)朝所述衬托器(2)输送的所述外延气体中的所述原料气体的浓度随高度下降而平滑下降。4.根据权利要求1所述的化学气相沉积装置,其特征在于,所述供气组件(3)朝所述反应腔(1)输送的所述外延气体中的所述原料气体的浓度随高度下降而平滑下降。5.根据权利要求1所述的化学气相沉积装置,其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员:张南郭嘉杰刘自然徐俊王慧勇罗骞
申请(专利权)人:季华实验室
类型:发明
国别省市:

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