【技术实现步骤摘要】
一种激光测厚装置
[0001]本申请涉及激光测量装置
,尤其涉及一种激光测厚装置。
技术介绍
[0002]激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置,通过计算得到被测体的厚度。测量原理为两个激光位移传感器的激光对射,被测体放置在对射区域内,根据测量被测体上表面和下表面的距离,计算出被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量,相对接触式测厚仪更精准,不会因为磨损而损失精度,相对超声波测厚仪精度更高,相对X射线测厚仪没有辐射污染。
[0003]现有的激光测厚仪在对瓶盖等薄件进行测量时,需要人员将瓶盖放置在测试夹具上,在一个瓶盖测量完成后取下再重新放置第二个瓶盖,此种安装方式对人员劳动强度要求大,造成整体的测量效率低下。
技术实现思路
[0004]本申请通过提供一种激光测厚装置,解决了现有技术中需要人员逐一将瓶盖放置在测试夹具上,对人员劳动强度要求大,整体测量效率低下的技术问题,实现了降低人员劳动强度和提高测量效率的目的 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种激光测厚装置,其特征在于,包括激光测量组件(1)、转盘上料部(2)、圆盘接料部(3)以及下料收集部(4);所述激光测量组件(1)设置于所述转盘上料部(2)的上方;所述转盘上料部(2)设置于所述圆盘接料部(3)的顶面,且与所述圆盘接料部(3)转动连接,能够按照规定的角度转动并将测试件输送至所述圆盘接料部(3)内;所述圆盘接料部(3)固定连接于所述激光测量组件(1),能够通过所述激光测量组件(1)对接收的所述测试件进行厚度测量;所述下料收集部(4)设置于所述圆盘接料部(3)的下方,且与所述圆盘接料部(3)连接,能够将厚度测量完成的所述测试件从所述圆盘接料部(3)输出并收集。2.根据权利要求1所述的激光测厚装置,其特征在于,所述激光测量组件(1)包括支座(11)和两个激光位移传感器(12);两个所述激光位移传感器(12)呈对射式设置于所述支座(11),且处于所述转盘上料部(2)和所述圆盘接料部(3)的上下侧。3.根据权利要求2所述的激光测厚装置,其特征在于,所述转盘上料部(2)包括转盘(21)和驱动部(22);所述驱动部(22)的机体通过支架(5)固定连接于地面,所述驱动部(22)的输出端与所述转盘(21)的中心固定连接;所述转盘(21)的中心转动连接于所述圆盘接料部(3);所述转盘(21)环形阵列开设有多个第一通孔(211),所述第一通孔(211)的内径等于所述测试件的外径。4.根据权利要求3所述的激光测厚装置,其特征在于,所述圆盘接料部(3)包括圆盘(31);所述圆盘(31)上开设有第二通孔(311),所述第二通孔(311)处于两个...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭卫,
申请(专利权)人:陕西泰源机电科技发展有限公司,
类型:新型
国别省市:
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