一种控制器试验系统及方法技术方案

本发明专利技术提供了一种控制器试验系统及方法，本发明专利技术的系统包括：向被测控制器提供测试信号的输出模块、采集被测控制器输出脉冲信号的采集模块、与被测控制器连接的连接器；所述输出模块为一路输出通道，所述输出通道既向被测控制器供电，又向被测控制器提供测试信号；所述输出通道输出测试信号的脉宽、脉冲周期和脉冲数量均为变量；所述采集模块为多路采集通道，每路采集通道采集一个脉冲信号；所述连接器将输出模块与被测控制器、采集模块与被测控制器电连接。本发明专利技术的方法基于上述系统。本发明专利技术输出模块通过测试线缆向被测控制器提供测试信号，处理器记录多路脉冲信号的相关参数，便于在室外场地测试控制器性能。在室外场地测试控制器性能。在室外场地测试控制器性能。

【技术实现步骤摘要】
一种控制器试验系统及方法


[0001]本公开涉及控制器测试领域，尤其涉及一种控制器试验系统及方法。

技术介绍

[0002]火箭控制器多应用于火箭助推发射系统。火箭助推发射系统协助助推火箭在很短时间内能够让飞行器获得起飞速度和飞行高度，随后助推火箭自行脱落，飞行器继续飞行。
[0003]火箭控制器是控制火箭飞行高度、飞行姿态和飞行轨迹的控制设备。控制器试验系统是为模拟火箭控制器控制助推火箭是否符合预设动作的性能测试。
[0004]现有的控制器试验系统通常为实验室进行各项试验。在火箭控制器研制过程中，除了要在实验室进行大量试验外，还需在室外场地进行各种必要试验。
[0005]为便于在室外场地进行火箭控制器试验，需要研究出一种体积小、便携的试验平台。

技术实现思路

[0006]本专利技术的实施例提供一种控制器试验系统及方法，输出模块通过测试线缆向被测控制器提供测试信号，被测控制器输出的多路脉冲信号通过测试线缆供采集模块采集，处理器记录多路脉冲信号的相关参数。输出模块、采集模块和处理器均设置在便携箱内，便于在室外场地测试控制器性能。
[0007]为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案：
[0008]一方面，本专利技术提供一种控制器试验系统，包括：向被测控制器提供测试信号的输出模块、采集被测控制器输出脉冲信号的采集模块、与被测控制器连接的连接器；
[0009]所述输出模块为一路输出通道，所述输出通道既向被测控制器供电，又向被测控制器提供测试信号；所述输出通道输出测试信号的脉宽、脉冲周期和脉冲数量均为变量；
[0010]测试信号进入被测控制器输出多个脉冲信号，多个脉冲信号的脉宽参数、脉冲周期参数、峰值电压参数、负载电流参数中至少一个参数不同；
[0011]所述采集模块为多路采集通道，每路采集通道采集一个脉冲信号；
[0012]所述连接器将输出模块与被测控制器、采集模块与被测控制器电连接。
[0013]本专利技术的输出模块通过测试线缆向被测控制器提供测试信号，被测控制器输出的多路脉冲信号通过测试线缆供采集模块采集，处理器记录多路脉冲信号的相关参数。输出模块、采集模块和处理器均设置在便携箱内，便于在室外场地测试控制器性能。
[0014]基于一方面，在一种可能的实现方式中，还包括：用于测量脉冲信号参数的处理模块；
[0015]所述处理模块与多路所述采集通道均电连接，所述处理模块提取每路采集通道的脉冲信号，所述处理模块的计数器通道采集脉冲信号的脉冲周期参数和脉宽参数，所述处理模块的采样精密电阻和ARM芯片采集脉冲信号的峰值电压参数和负载电流参数。
[0016]本专利技术的将被测件输出的脉冲信号送至调控板后，调控板协同处理模块对信号进
行调理后，分别送入处理模块中ARM芯片的计数器和AD通道，其中计数器通道用于采集周期和脉宽，AD通道用于采集电压及电流。
[0017]基于一方面，在一种可能的实现方式中，所述计数器通道包括：用于确定脉宽参数的脉宽测量单元、用于复核脉宽参数的脉冲计数单元、用于确定脉冲周期参数的周期采集单元和用于复核脉冲周期参数的频率采集单元；
[0018]脉冲计数单元和脉宽测量单元在脉冲信号的整个采集周期实时确定及复核脉宽参数；周期采集单元在脉冲信号的低频率时段确定脉冲周期，频率采集单元在脉冲信号的高频率时段复核脉冲周期。
[0019]由于本专利技术的控制器试验系统用来试验火箭控制器，火箭控制器在实际应用中对输出脉冲信号稳定性要求较高，并且脉冲参数偏差控制严格。故本专利技术的控制器试验系统的计数器通道在获取脉宽参数和脉冲周期参数时不仅确定脉宽参数和脉冲周期，还在计数器通道内对脉宽参数和脉冲周期复核，确保控制器试验系统采集的脉冲参数准确度更高。
[0020]本专利技术的脉宽测量单元和脉冲计数单元在脉冲信号的全周期实时采集脉冲信号，一方面是为了准确采集脉宽参数，另一方面是便于工控机仿真脉冲信号波形，确保波形清晰。本专利技术的周期采集单元在低频率时段采集脉冲周期参数，频率采集单元在高频率时段采集脉冲频率，使用脉冲频率和脉冲周期之间的导数对应关系复核周期采集单元获取的脉冲周期参数。
[0021]基于一方面，在一种可能的实现方式中，还包括调控板和AC
‑
DC电源，所述输出模块、所述调控板和所述AC
‑
DC电源依次电连接；
[0022]所述AC
‑
DC电源产生信号源，所述调控板包括P沟道MOS管和调控芯片，信号源通过P沟道MOS管，由调控芯片输出控制信号，控制信号和输出信号调制成测试信号，测试信号通过输出模块输出至被测控制器。
[0023]本专利技术采用16Hz信号控制MOS管，MOS管的控制极输出控制信号波形，输入MOS管的输出信号波形与控制信号波形调控成测试信号输入上述输出模块，调控板控制输出模块输出的测试信号波形清晰、输出正常。
[0024]基于一方面，在一种可能的实现方式中，所述输出模块为一路输出通道，一路所述输出通道既向被测控制器供电，又向被测控制器提供测试信号；
[0025]所述采集模块为多路输入通道，多路所述输入通道为并行输入通道，至少一路所述输入通道采集并记录被测控制器的输出电压、输出电流、输出脉冲和/或输出周期；
[0026]所述连接器包括连接件、一个输出接口和多个输入接口，输出接口和输入接口集成于连接件，输出接口连接所述输出通道，输入接口的数量
·
所述输入通道的数量，每个所述输入通道对应一个输入接口。
[0027]本专利技术将输入通道和输出通道均集成在一个连接器，连接器与火箭控制器采用插拔方式连接，方便火箭控制器在测试时快速与控制器试验系统连接或断开，具有使用方便的优点。
[0028]基于一方面，在一种可能的实现方式中，还包括自检板卡，所述自检板卡的输入端连接所述输出模块，所述自检板卡的输出端连接所述采集模块；
[0029]所述自检板卡具有N路自检通道，所述输出模块连接一路自检通道，所述采集模块的每个所述采集通道均连接一路自检通道；
[0030]AC
‑
DC电源、调控板、输出模块、自检板卡和采集模块形成自检通道。
[0031]本专利技术的调控板接收到自检指令后控制自检板卡的继电器动作，将输出模块输出的脉冲信号分别接入多个采集通道进行巡检，自检结束后将采集到的采集通道信号和输出的脉冲信号进行比对，调控芯片给出自检结果。
[0032]基于一方面，在一种可能的实现方式中，所述自检板卡包括N个继电器，每个继电器的常闭触点接连接器的接线端，每个继电器的常开触点接自检板卡的自检端口。
[0033]本专利技术的自检板卡为8通道双刀双掷继电器板卡，将1路仿真信号切换至7路采集端口进行自检。8路继电器通道对应控制器试验系统的1路输出7路采集，调控板端的信号连接至COM端，被测件信号连接至NC端，自检信号连接至NO端。正常测试时，继电器处于NC端，调控板与被测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种控制器试验系统，其特征在于，包括：向被测控制器提供测试信号的输出模块、采集被测控制器输出脉冲信号的采集模块、与被测控制器连接的连接器；所述输出模块为一路输出通道，所述输出通道既向被测控制器供电，又向被测控制器提供测试信号；所述输出通道输出测试信号的脉宽、脉冲周期和脉冲数量均为变量；测试信号进入被测控制器输出多个脉冲信号，多个脉冲信号的脉宽参数、脉冲周期参数、峰值电压参数、负载电流参数中至少一个参数不同；所述采集模块为多路采集通道，每路采集通道采集一个脉冲信号；所述连接器将输出模块与被测控制器、采集模块与被测控制器电连接。2.根据权利要求1所述的控制器试验系统，其特征在于，还包括：用于测量脉冲信号参数的处理模块；所述处理模块与多路所述采集通道均电连接，所述处理模块提取每路采集通道的脉冲信号，所述处理模块的计数器通道采集脉冲信号的脉冲周期参数和脉宽参数，所述处理模块的采样精密电阻和ARM芯片采集脉冲信号的峰值电压参数和负载电流参数。3.根据权利要求2所述的控制器试验系统，其特征在于，所述计数器通道包括：用于确定脉宽参数的脉宽测量单元、用于复核脉宽参数的脉冲计数单元、用于确定脉冲周期参数的周期采集单元和用于复核脉冲周期参数的频率采集单元；脉冲计数单元和脉宽测量单元在脉冲信号的整个采集周期实时确定及复核脉宽参数；周期采集单元在脉冲信号的低频率时段确定脉冲周期，频率采集单元在脉冲信号的高频率时段复核脉冲周期。4.根据权利要求1所述的控制器试验系统，其特征在于，还包括调控板和AC
‑
DC电源，所述输出模块、所述调控板和所述AC
‑
DC电源依次电连接；所述AC
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DC电源产生信号源，所述调控板包括P沟道MOS管和调控芯片，信号源通过P沟道MOS管，由调控芯片输出控制信号，控制信号和输出信...

【专利技术属性】
技术研发人员：雪原，郭卫，刘瑞鹏，
申请(专利权)人：陕西泰源机电科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：