芯片视觉检测设备制造技术

本实用新型专利技术涉及一种芯片视觉检测设备，料盘自动上下料装置对装有芯片的料盘或者空料盘进行自动上下料；在上料装置和下料装置的下方设置转盘装置，转盘装置在上料装置和下料装置之间对芯片进行流转；在转盘装置的转盘上方，在转盘的两侧对称依次设置碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置；主控系统控制转盘装置依次旋转至碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置的下方；在转盘装置流转工位时，对芯片进行检测；通过芯片视觉检测设备自动化视觉检测，对产品的外观、焊接品质等项目进行检测，挑选出不合格产品，并且可以对检测图像可追溯管理。并且可以对检测图像可追溯管理。并且可以对检测图像可追溯管理。

【技术实现步骤摘要】
芯片视觉检测设备


[0001]本技术的实施例涉及一种检测设备，特别涉及一种芯片视觉检测设备。

技术介绍

[0002]在现有的芯片检测过程中，都是采用人工检测的方式进行检测，但是原来人工测量劣势，在轻微变形时不容易发现，而且对引线宽度等不能测量，耗费时间，容易漏检，不同质检员容易作出不同的判断。使得芯片检测的效率非常低，并且检测的错误率非常高，使得人工完成芯片的检测都没有办法完成。

技术实现思路

[0003]本技术的实施方式的目的在于提供一种通过芯片视觉检测的设备能够实现自动化的视觉检测，对产品的外观、焊接品质等项目进行检测，挑选出不合格产品，并且可以对检测图像可追溯管理的芯片视觉检测设备。
[0004]为了实现上述目的，本技术的实施方式设计了一种芯片视觉检测设备，其特征在于，包括：
[0005]料盘自动上下料装置，在所述的芯片视觉检测设备的一侧设置所述的料盘自动上下料装置；所述的料盘自动上下料装置对装有芯片的料盘或者空料盘进行自动上下料；
[0006]上料装置，在所述的料盘自动上下料装置的一侧设置所述的上料装置，对所述的芯片进行上料；
[0007]下料装置，在所述的料盘自动上下料装置的另一侧设置所述的下料装置，对所述的芯片进行下料；
[0008]转盘装置，在所述的上料装置和所述的下料装置的下方设置所述的转盘装置，所述的转盘装置在所述的上料装置和所述的下料装置之间对所述的芯片进行流转；
[0009]在所述的转盘装置的转盘上方，在所述的转盘的两侧对称依次设置碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置；
[0010]主控系统，所述的主控系统控制所述的转盘装置依次旋转至所述的碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置的下方；
[0011]所述的碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置在所述的转盘装置流转工位时，对所述的芯片进行检测。
[0012]进一步，所述的料盘自动上下料装置，还包括：
[0013]框架；
[0014]料盘输送缓存机构，在所述的框架在内部设置若干组所述的料盘输送缓存机构；
[0015]料盘传动机构，在所述的料盘输送缓存机构的输出端侧设置所述的料盘传动机构；
[0016]料盘储料机构，在所述的料盘传动机构的上方设置所述的料盘储料机构；
[0017]料盘搬运机构，在所述的料盘输送缓存机构上方的所述框架上设置所述料盘搬运
机构；
[0018]所述的料盘输送缓存机构将料盘输送至所述的料盘传动机构，再由所述的料盘传动机构将料盘输送至料盘储料机构或者所述料盘传动机构将空的料盘输送至所述的料盘输送缓存机构；所述的料盘搬运机构将空的料盘在所述的料盘储料机构内部进行流转；
[0019]所述的料盘输送缓存机构，还包括：
[0020]料盘输入机构，在所述的料盘输送缓存机构的一侧设置所述的料盘输入机构；用于输送空的料盘；所述的料盘输入机构的输出端设置在所述的料盘传动机构的一端；
[0021]料盘输出机构，在所述的料盘输入机构的一侧设置所述的料盘输出机构，所述的料盘输出机构的输出端设置在所述的料盘传动机构的一端；
[0022]第一下料机构，在所述的料盘输出机构的一侧设置所述的第一下料机构；所述的第一下料机构的输入端设置在所述的料盘传动机构的一端；
[0023]第二下料机构，在所述的第一下料机构的一侧设置所述的第二下料机构；所述的第二下料机构的输入端设置在所述的料盘传动机构的一端；
[0024]所述的料盘输入机构、料盘输出机构、第一下料机构、第二下料机构在所述的框架下方依次排列。
[0025]进一步，所述的上料装置和所述的下料装置，均还包括：
[0026]支架组件，在转盘装置的转盘一侧的上方固定所述的支架组件；
[0027]Y轴向运动组件，在所述的支架组件上方固定连接所述的Y轴向运动组件；
[0028]横梁组件，在所述的Y轴向运动组件上活动连接所述的横梁组件；
[0029]X轴向运动组件，在所述的横梁组件的一侧固定所述的X轴向运动组件的一侧；
[0030]Z轴向运动组件，在所述的X轴向运动组件的另一侧固定连接所述的Z轴向运动组件；
[0031]取件组件，在所述的Z轴向运动组件的下端固定所述的取件组件。
[0032]进一步，所述的转盘装置，还包括：
[0033]支架，在所述的转盘装置的下方设置所述的支架；
[0034]旋转机构，在所述的支架的上方固定所述的旋转机构；
[0035]旋转装置，在所述的支架下方，在所述的旋转机构的输入端连接所述的旋转装置；
[0036]转盘，在所述的旋转装置的输出端连接所述的转盘；
[0037]传感装置，在所述的转盘的下方设置所述的传感装置，用于检测转盘旋转的位置；
[0038]在所述的转盘上方，沿着若干等分所述的轴线设置芯片定位工装；在所述的芯片定位工装的中间位置设置定位孔；在所述的定位孔中心孔位置处开设一通孔。
[0039]进一步，所述的碗光源检测装置，还包括：
[0040]底板，在所述的碗光源装置的底部设置所述的底板；
[0041]X轴调节模块，在所述的底板上方固定所述的X轴调节模块；
[0042]Z轴支撑板，在所述的X轴调节模块的上方活动连接所述的Z轴支撑板；
[0043]Z轴调节模块，在所述的Z轴支撑板的一侧沿着预设轴线活动连接所述的Z轴调节模块；
[0044]Y轴调节模块，在所述的Z轴调节模块的一侧活动连接所述的Y轴调节模块；
[0045]碗光源结构，在所述的Y轴调节模块上固定所述的碗光源结构。
[0046]所述的X轴调节模块、所述的Z轴调节模块以及所述的Y轴调节模块，根据预设轴线设置。
[0047]进一步，所述的正面侧边检测装置，还包括：
[0048]第一快换板，在所述的正面侧边检测装置的下方固定所述的第一快换板；
[0049]第一X轴调节结构，在所述的快换板上方固定所述的第一X轴调节结构；
[0050]第一Z轴支撑板，在所述的第一X轴调节结构的上方活动固定所述的第一Z轴支撑板；
[0051]第一Z轴调节结构，在所述的Z轴支撑板的一侧沿着预设轴线活动连接所述的第一Z轴调节结构；
[0052]第一Y轴调节结构，在所述的第一Z轴调节结构的一侧活动连接所述的第一Y轴调节结构；
[0053]环光源结构，在所述的第一Y轴调节结构上固定所述的环光源结构；所述的环光源结构沿着所述的第一X轴调节结构、第一Z轴调节结构和第一Y轴调节结构进行三维轴线调节；
[0054]所述的第一X轴调节结构、所述的第一Z轴调节结构和所述的第一Y轴调节结构设置成三维空间内相互垂直。
[0055]进一步，所述的底面侧边检测装置，还包括：
[0056]第二快换板，在所述的底面侧边检本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片视觉检测设备，其特征在于，包括：料盘自动上下料装置，在所述的芯片视觉检测设备的一侧设置所述的料盘自动上下料装置；所述的料盘自动上下料装置对装有芯片的料盘或者空料盘进行自动上下料；上料装置，在所述的料盘自动上下料装置的一侧设置所述的上料装置，对所述的芯片进行上料；下料装置，在所述的料盘自动上下料装置的另一侧设置所述的下料装置，对所述的芯片进行下料；转盘装置，在所述的上料装置和所述的下料装置的下方设置所述的转盘装置，所述的转盘装置在所述的上料装置和所述的下料装置之间对所述的芯片进行流转；在所述的转盘装置的转盘上方，在所述的转盘的两侧对称依次设置碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置；主控系统，所述的主控系统控制所述的转盘装置依次旋转至所述的碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置的下方；所述的碗光源检测装置、正面侧边检测装置以及底面侧边检测装置在所述的转盘装置流转工位时，对所述的芯片进行检测。2.根据权利要求1所述的芯片视觉检测设备，其特征在于，所述的料盘自动上下料装置，还包括：框架；料盘输送缓存机构，在所述的框架在内部设置若干组所述的料盘输送缓存机构；料盘传动机构，在所述的料盘输送缓存机构的输出端侧设置所述的料盘传动机构；料盘储料机构，在所述的料盘传动机构的上方设置所述的料盘储料机构；料盘搬运机构，在所述的料盘输送缓存机构上方的所述框架上设置所述料盘搬运机构；所述的料盘输送缓存机构将料盘输送至所述的料盘传动机构，再由所述的料盘传动机构将料盘输送至料盘储料机构或者所述料盘传动机构将空的料盘输送至所述的料盘输送缓存机构；所述的料盘搬运机构将空的料盘在所述的料盘储料机构内部进行流转；所述的料盘输送缓存机构，还包括：料盘输入机构，在所述的料盘输送缓存机构的一侧设置所述的料盘输入机构；用于输送空的料盘；所述的料盘输入机构的输出端设置在所述的料盘传动机构的一端；料盘输出机构，在所述的料盘输入机构的一侧设置所述的料盘输出机构，所述的料盘输出机构的输出端设置在所述的料盘传动机构的一端；第一下料机构，在所述的料盘输出机构的一侧设置所述的第一下料机构；所述的第一下料机构的输入端设置在所述的料盘传动机构的一端；第二下料机构，在所述的第一下料机构的一侧设置所述的第二下料机构；所述的第二下料机构的输入端设置在所述的料盘传动机构的一端；所述的料盘输入机构、料盘输出机构、第一下料机构、第二下料机构在所述的框架下方依次排列。3.根据权利要求1所述的芯片视觉检测设备，其特征在于，所述的上料装置和所述的下料装置，均还包括：
Y轴向运动组件，在支架组件上方固定连接所述的Y轴向运动组件；横梁组件，在所述的Y轴向运动组件上活动连接所述的横梁组件；X轴向运动组件，在所述的横梁组件的一侧固定所述的X轴向运动组件的一侧；Z轴向运动组件，在所述的X轴向运动组件的另一侧固定连接所述的Z轴向运动组件；取件组件，在所述的Z轴向运动组件的下端固定所述的取件组件。4.根据权利要求1所述的芯片视觉检测设备，其特征在于，所述的转盘装置，还包括：支架，在所述的转盘装置的下方设置所述的支架；旋转机构，在所述的支架的上方固定所述的旋转机构；旋转装置，在所述的支架下方，在所述的旋转机构的输入端连接所述的旋转装置；转盘，在所述的旋转装置的输出端连接所述的转盘；传感装置，在所述的转盘的下方设置所述的传感装置...

【专利技术属性】
技术研发人员：叶明华，
申请(专利权)人：上海行芝达智能装备技术有限公司，
类型：新型
国别省市：