点检装置及硅片检测分选设备制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种点检装置及硅片检测分选设备，其中，点检装置包括：供料点检机构、收料点检机构以及若干检测机构；供料点检机构设置于若干检测机构的上游，收料点检机构设置于若干检测机构的下游。本实用新型专利技术的点检装置中，点检机构可设置于检测流线的上游端和下游端。如此，在硅片的检测、分选之前，可通过点检机构提供标准硅片，使标准硅片在上游位置流入各检测机构中，之后由下游的点检机构回收。从而，通过标准硅片的预先试运行，可提前排查可能出现的问题，克服现有技术中存在的反复停机调试的问题。调试的问题。调试的问题。

【技术实现步骤摘要】
点检装置及硅片检测分选设备


[0001]本技术涉及硅片检测分选
，尤其涉及一种点检装置及硅片检测分选设备。

技术介绍

[0002]硅片作为重要的工业原材料，被广泛用于太阳能电池、电路板等产品的生产制造中。因此，在硅片生产出厂之前需要对其质量进行严格的把控，以保证由硅片制造的太阳能电池、电路板等产品的质量。
[0003]为了保证硅片的出厂质量，需要对硅片进行质量检测、分选等。然而，实际硅片检测、分选过程中，经常面临需要停机对各检测、分选工位进行调试的问题，以便于查找、校正存在的问题，进而影响了硅片的检测、分选效率。因此，针对上述问题，有必要提出进一步地解决方案。

技术实现思路

[0004]本技术旨在提供一种点检装置及硅片检测分选设备，以克服现有技术中存在的不足。
[0005]为解决上述技术问题，本技术的技术方案是：
[0006]一种点检装置，其包括：供料点检机构、收料点检机构以及若干检测机构；
[0007]所述供料点检机构设置于所述若干检测机构的上游，所述收料点检机构设置于所述若干检测机构的下游，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种点检装置，其特征在于，所述点检装置包括：供料点检机构、收料点检机构以及若干检测机构；所述供料点检机构设置于所述若干检测机构的上游，所述收料点检机构设置于所述若干检测机构的下游，所述供料点检机构包括：第一升降模组以及由所述第一升降模组驱动进行升降的第一料盒，所述第一料盒具有适于多个标准硅片自上而下排列放置的第一料腔；所述收料点检机构包括：第二升降模组以及由所述第二升降模组驱动进行升降的第二料盒，所述第二料盒具有适于多个标准硅片自上而下排列放置的第二料腔。2.根据权利要求1所述的点检装置，其特征在于，所述第一升降模组为竖直设置的伺服电机，其滑块通过一料盒支架与所述第一料盒相连接。3.根据权利要求1所述的点检装置，其特征在于，所述第一料盒包括：两相对设置的第一固定板，任一所述第一固定板的内侧还设置有第一插板，所述第一插板上开设有自上而下排列设置的插槽，两个第一插板上的...

【专利技术属性】
技术研发人员：温延培，曹葵康，孙靖，顾烨，孙俊，苏傲，钱春辉，程璧，胡辉来，张体瑞，
申请(专利权)人：苏州天准科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：