本实用新型专利技术的一种柔性电路板测试用的转接装置，包括底板和触点A测试部；所述触点A测试部包括第一固定板、A浮动板以及探针A；所述第一固定板上开设有竖直的A穿孔；所述第一固定板固定连接于所述底板上；所述A浮动板开设有竖直的第二A探针活动通孔；所述A浮动板能上下滑动地连接于所述第一固定板上；所述探针A固定嵌入所述A穿孔，且所述探针A的底端凸出所述第一固定板的底面，所述探针A的顶端向上活动地穿过所述第二A探针活动通孔；且所述探针A向下穿透所述底板。用于承载测试用的探针以及用于将探针转接和测试设备连接，通过探针进行转接，并采用插接的方式，无需线缆连接，使用方便，且方便拆卸。且方便拆卸。且方便拆卸。
【技术实现步骤摘要】
一种柔性电路板测试用的转接装置
[0001]本技术涉及柔性电路板测试领域，特别是一种柔性电路板测试用的转接装置。
技术介绍
[0002]柔性电路板是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性，绝佳的可挠性印刷电路板，具有配线密度高、重量轻、厚度薄、弯折性好的特点；在生产柔性电路板过程中，为了保证所生产的柔性电路板是合格的，需要用测试装置对每个柔性电路板进行测试。
[0003]现有技术的缺陷主要表现在：
[0004]一、现有FPC测试采用电路转接板，将FPC触点转接至转接板上，再用探针测试转接板上的触点，而转接板上的触点只是模拟触点，因转接板的触点大小远大于FPC自身的触点，极大提高了测试的便携性，但因此也降低了测试精度，存在转接板上的转接阻抗，影响测试结果。
[0005]现设计有一款新的治具用于克服上述缺陷。因此，需要设计一种转接装置和治具进行配套使用。
技术实现思路
[0006]本技术要解决的技术问题，在于提供一种柔性电路板测试用的转接装置，用于承载测试用的探针以及用于将探针转接和测试设备连接，通过探针进行转接，并采用插接的方式，无需线缆连接，使用方便，且方便拆卸。
[0007]本技术是这样实现的：一种柔性电路板测试用的转接装置，包括底板和触点A测试部；
[0008]所述触点A测试部包括第一固定板、A浮动板以及探针A；
[0009]所述第一固定板上开设有竖直的A穿孔；所述第一固定板固定连接于所述底板上；
[0010]所述A浮动板开设有竖直的第二A探针活动通孔；所述A浮动板能上下滑动地连接于所述第一固定板上；
[0011]所述探针A固定嵌入所述A穿孔，且所述探针A的底端凸出所述第一固定板的底面，所述探针A的顶端向上活动地穿过所述第二A探针活动通孔；且所述探针A向下穿透所述底板。
[0012]进一步地，还包括B转接探针部；所述B转接探针部包括B转接固定块和B转接探针；
[0013]所述B转接固定块开设有竖直的第一B转接穿孔；
[0014]所述A浮动板上还开设有第二B转接穿孔；
[0015]所述B转接固定块固定连接于所述A浮动板上；
[0016]所述B转接探针固定穿设于所述第一固定板内，且顶端穿过所述第二B 转接穿孔、第一B转接穿孔，底端向下穿透所述底板。
[0017]进一步地，所述转接装置还包括C探针部；所述C探针部包括探针C 和C探针固定板；
[0018]所述探针C固定穿设于所述C探针固定板；
[0019]所述C探针固定板能上下滑动地连接于所述底板，且所述探针C的底端穿透所述底板，所述探针C的顶端向上凸出所述C探针固定板。
[0020]进一步地，还包括汇总上固定板、汇总下固定板、PCB汇总电路板、第一连接探针块、第二连接探针块及第三连接探针块；
[0021]所述第一连接探针块包括第一连接固定块；所述第一连接固定块上穿设有第一连接探针；所述第一连接探针的数量等于所述探针A和B转接探针之和；
[0022]所述第二连接探针块包括第二连接固定块；所述第二连接固定块上穿设有第二连接探针；所述第二连接探针的数量等于所述探针C的数量；
[0023]所述第三连接探针块包括第三连接固定块；所述第三连接固定块上穿设有第三连接探针；所述第三连接探针的数量等于所述第一连接探针和第二连接探针的数量之和；
[0024]所述汇总上固定板开设有第一避让开口和第二避让开口；
[0025]所述第一连接固定块固定连接于所述第一避让开口上，且所述第一连接探针一一对应连接于所述探针A和B转接探针；
[0026]所述第二连接固定块固定连接于所述第二避让开口上，且所述第二连接探针对应连接于所述探针C；
[0027]所述汇总上固定板固定连接于所述底板的底部；
[0028]所述PCB汇总电路板固定连接于所述汇总上固定板的底部，且所述第一连接探针和第二连接探针分别连接于PCB汇总电路板；
[0029]所述汇总下固定板固定连接于所述PCB汇总电路板底部；
[0030]所述第三连接固定块固定连接于所述汇总下固定板的底部，且所述第三连接探针连接所述PCB汇总电路板，同时所述第三连接探针通过PCB汇总电路板一一对应和所述第一连接探针、第二连接探针连接导通；
[0031]所述第三连接探针的底端穿透所述汇总下固定板。
[0032]进一步地，还包括托针和第一螺栓；
[0033]所述托针包括伸缩部和固定部；所述伸缩部的顶端开设有螺纹孔；所述固定部的顶端设有凸缘；所述伸缩部能上下滑动地连接于所述固定部；
[0034]所述第一螺栓的数量和所述托针的数量相等；
[0035]所述第一固定板上开设有三个第一阶梯穿孔；所述A浮动板上开设有三个第一螺栓孔；用三个所述托针的固定部一一嵌入所述第一阶梯穿孔，三个所述第一螺栓一一对应穿过所述第一螺栓孔后对应锁入三个所述托针的螺纹孔内。
[0036]进一步地，所述C探针部还包括第一C固定板、第二C固定板、C上浮动板以及两光板定位针；
[0037]所述C上浮动板开设有探针C活动穿孔、两第二螺栓孔和两第一插销孔；
[0038]所述C探针固定板开设有两第一通孔和两第二插销阶梯孔；
[0039]所述第一C固定板开设有两第二通孔、两第三插销孔以及第一探针C 安装孔；
[0040]所述第二C固定板开设有第二探针C安装孔、两第二阶梯穿孔及两第四插销孔；
[0041]所述光板定位针一一对应依次穿过所述第一插销孔、第二插销阶梯孔、第三插销孔及第四插销孔；
[0042]用两所述托针一一对应依次穿过所述第一通孔、第二通孔及第二阶梯穿孔，后用两所述第一螺栓一一对应穿过两所述第二螺栓孔锁入两所述托针的螺纹孔内。
[0043]进一步地，所述底板上凸设有两第三定位销。
[0044]本技术具有如下优点：本技术的一种柔性电路板测试用的转接装置，包括底板和触点A测试部；所述触点A测试部包括第一固定板、A浮动板以及探针A；所述第一固定板上开设有竖直的A穿孔；所述第一固定板固定连接于所述底板上；所述A浮动板开设有竖直的第二A探针活动通孔；所述A浮动板能上下滑动地连接于所述第一固定板上；所述探针A固定嵌入所述A穿孔，且所述探针A的底端凸出所述第一固定板的底面，所述探针A 的顶端向上活动地穿过所述第二A探针活动通孔；且所述探针A向下穿透所述底板。用于承载测试用的探针以及用于将探针转接和测试设备连接，通过探针进行转接，并采用插接的方式，无需线缆连接，使用方便，且方便拆卸。
附图说明
[0045]下面参照附图结合实施例对本技术作进一步的说明。
[0046]图1和图2为本技术FPC一实施例的立体图。
[0047]图3是本技术所述的测试系统的立体图。
[0048]图4是本技术所述的夹爪部和治具的爆炸图。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种柔性电路板测试用的转接装置，其特征在于：包括底板和触点A测试部；所述触点A测试部包括第一固定板、A浮动板以及探针A；所述第一固定板上开设有竖直的A穿孔；所述第一固定板固定连接于所述底板上；所述A浮动板开设有竖直的第二A探针活动通孔；所述A浮动板能上下滑动地连接于所述第一固定板上；所述探针A固定嵌入所述A穿孔，且所述探针A的底端凸出所述第一固定板的底面，所述探针A的顶端向上活动地穿过所述第二A探针活动通孔；且所述探针A向下穿透所述底板。2.根据权利要求1所述的一种柔性电路板测试用的转接装置，其特征在于：还包括B转接探针部；所述B转接探针部包括B转接固定块和B转接探针；所述B转接固定块开设有竖直的第一B转接穿孔；所述A浮动板上还开设有第二B转接穿孔；所述B转接固定块固定连接于所述A浮动板上；所述B转接探针固定穿设于所述第一固定板内，且顶端穿过所述第二B转接穿孔、第一B转接穿孔，底端向下穿透所述底板。3.根据权利要求2所述的一种柔性电路板测试用的转接装置，其特征在于：所述转接装置还包括C探针部；所述C探针部包括探针C和C探针固定板；所述探针C固定穿设于所述C探针固定板；所述C探针固定板能上下滑动地连接于所述底板，且所述探针C的底端穿透所述底板，所述探针C的顶端向上凸出所述C探针固定板。4.根据权利要求3所述的一种柔性电路板测试用的转接装置，其特征在于：还包括汇总上固定板、汇总下固定板、PCB汇总电路板、第一连接探针块、第二连接探针块及第三连接探针块；所述第一连接探针块包括第一连接固定块；所述第一连接固定块上穿设有第一连接探针；所述第一连接探针的数量等于所述探针A和B转接探针之和；所述第二连接探针块包括第二连接固定块；所述第二连接固定块上穿设有第二连接探针；所述第二连接探针的数量等于所述探针C的数量；所述第三连接探针块包括第三连接固定块；所述第三连接固定块上穿设有第三连接探针；所述第三连接探针的数量等于所述第一连接探针和第二连接探针的数量之和；所述汇总上固定板开设有第一避让开口和第二避让开口；所述第一连接固定块固定连接于所述第一避让开口上，且所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘震，赖秋凤，郭金鸿，黄志胜，张飞，
申请(专利权)人：福建星云电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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