一种柔性电路板的测试系统技术方案

本实用新型专利技术提供一种柔性电路板的测试系统，包括治具、转接装置、支撑框架和测试装置；所述探针A固定嵌入所述A穿孔，且所述探针A的底端凸出所述第一固定板的底面，所述探针A的顶端向上活动地依次穿过所述第二A探针活动通孔、第一A探针活动通孔；将FPC放置在FPC容纳槽内；所述探针A和FPC上的触点A直接连接导通，从而实现对FPC上的触点直接进行测试，无需转接测试，测试精度更高。测试精度更高。测试精度更高。

【技术实现步骤摘要】
一种柔性电路板的测试系统


[0001]本技术涉及柔性电路板测试领域，特别是一种柔性电路板的测试系统。

技术介绍

[0002]柔性电路板是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性，绝佳的可挠性印刷电路板，具有配线密度高、重量轻、厚度薄、弯折性好的特点；在生产柔性电路板过程中，为了保证所生产的柔性电路板是合格的，需要用测试装置对每个柔性电路板进行测试。
[0003]现有技术的缺陷主要表现在：
[0004]一、现有FPC测试采用电路转接板，将FPC触点转接至转接板上，再用探针测试转接板上的触点，而转接板上的触点只是模拟触点，因转接板的触点大小远大于FPC自身的触点，极大提高了测试的便携性，但因此也降低了测试精度，存在转接板上的转接阻抗，影响测试结果；
[0005]二、已有FPC测试设备采用固定的探针去配合测试治具的原理，在更新换代迅速的FPC产品市场中，无法灵活兼容FPC的更新形式，并降低测试的改造成本。

技术实现思路

[0006]本技术要解决的技术问题，在于提供一种柔性电路板的测试系统，对FPC上的触点直接进行测试，无需转接测试，测试精度更高。
[0007]本技术是这样实现的：本技术提供一种柔性电路板的测试系统，包括治具、转接装置、支撑框架和测试装置；
[0008]所述治具包括治具底座及上压板；
[0009]所述治具底座的顶部开设有FPC容纳槽；所述治具底座位于所述FPC 容纳槽内还开设有竖直的第一A探针活动通孔；
[0010]所述上压板的底部凸设有压块；所述上压板活动连接于所述治具底座，且所述压块活动地伸入所述FPC容纳槽；
[0011]所述转接装置包括底板和触点A测试部；
[0012]所述触点A测试部包括第一固定板、A浮动板以及探针A；
[0013]所述第一固定板上开设有竖直的A穿孔；所述第一固定板固定连接于所述底板上；
[0014]所述A浮动板开设有竖直的第二A探针活动通孔；所述A浮动板能上下滑动地连接于所述第一固定板上；
[0015]所述治具底座能拆卸地连接于所述底板上；
[0016]所述探针A固定嵌入所述A穿孔，且所述探针A的底端凸出所述第一固定板的底面，所述探针A的顶端向上活动地依次穿过所述第二A探针活动通孔、第一A探针活动通孔；
[0017]所述支撑框架包括支撑顶板和支撑底板；所述支撑顶板开设有A避让开口；
[0018]所述测试装置固定连接于所述支撑底板上；
[0019]所述转接装置连接于所述支撑顶板上；且所述探针A向下穿过所述A 避让开口后连接于所述测试装置。
[0020]进一步地，还包括自动搬移设备和夹爪部；
[0021]所述夹爪部包括连接顶板、夹爪、气爪以及执行元件；
[0022]所述连接顶板能拆卸地连接于所述自动搬移设备；
[0023]所述执行元件固定连接于所述连接顶板的底部；
[0024]所述气爪有两个；两所述气爪对称连接于所述执行元件，由所述执行元件驱动两所述气爪进行同步相向或背离运动；
[0025]所述夹爪有两个；每所述夹爪的侧面凸设有销钉；两所述夹爪一一对应固定连接于两所述气爪，且两所述夹爪对称布置，同时所述销钉相向布置；
[0026]所述治具底座的相对的两侧面还对称开设有销孔；
[0027]所述销钉一一对应能拆卸地嵌入所述销孔内。
[0028]进一步地，所述治具还包括B探针部；
[0029]所述B探针部包括探针B、B固定块、导体片以及B浮动板；
[0030]所述B浮动板的底部设有一凸块；所述导体片固定连接于所述凸块的底面；
[0031]所述上压板开设有导向开口；所述B浮动板能上下滑动地连接于所述上压板，且所述凸块滑动地嵌入所述导向开口内；
[0032]所述B固定块开设有B穿孔；
[0033]所述B固定块固定连接于所述凸块；所述探针B固定连接于所述B穿孔内，且所述探针B的顶端和所述导体片连接导通，所述探针B的底端在下方穿过所述导向开口，伸入所述FPC容纳槽内；
[0034]所述转接装置还包括B转接探针部；所述B转接探针部包括B转接固定块和B转接探针；
[0035]所述B转接固定块开设有竖直的第一B转接穿孔；
[0036]所述A浮动板上还开设有第二B转接穿孔；
[0037]所述B转接固定块固定连接于所述A浮动板上；
[0038]所述B转接探针固定穿设于所述第一固定板内，且顶端穿过所述第二B 转接穿孔、第一B转接穿孔后和所述导体片能拆卸地连接导通，底端向下穿过所述A避让开口后连接于所述测试装置。
[0039]进一步地，所述治具还包括C浮动压紧部；所述C浮动压紧部包括C 浮动板；
[0040]所述C浮动板的顶部开设有触点C限位容纳槽；所述C浮动板位于所述触点C限位容纳槽内还开设有C探针活动通孔；
[0041]所述治具底座开设有第一C避让开口；
[0042]所述C浮动板能上下滑动地连接于所述治具底座上，并位于所述第一C 避让开口上方，所述第一C避让开口和所述C探针活动通孔连通；
[0043]所述转接装置还包括C探针部；所述C探针部包括探针C和C探针固定板；
[0044]所述支撑顶板还开设有第二C避让开口；
[0045]所述探针C固定穿设于所述C探针固定板；
[0046]所述C探针固定板能上下滑动地连接于所述底板，且所述探针C的底端穿过所述第
二C避让开口后连接于所述测试装置，所述探针C的顶端向上能拆卸地依次穿过所述第一C避让开口、C探针活动通孔。
[0047]进一步地，还包括汇总上固定板、汇总下固定板、PCB汇总电路板、第一连接探针块、第二连接探针块及第三连接探针块；
[0048]所述第一连接探针块包括第一连接固定块；所述第一连接固定块上穿设有第一连接探针；所述第一连接探针的数量等于所述探针A和B转接探针之和；
[0049]所述第二连接探针块包括第二连接固定块；所述第二连接固定块上穿设有第二连接探针；所述第二连接探针的数量等于所述探针C的数量；
[0050]所述第三连接探针块包括第三连接固定块；所述第三连接固定块上穿设有第三连接探针；所述第三连接探针的数量等于所述第一连接探针和第二连接探针的数量之和；
[0051]所述汇总上固定板开设有第一避让开口和第二避让开口；
[0052]所述第一连接固定块固定连接于所述第一避让开口上，且所述第一连接探针一一对应连接于所述探针A和B转接探针；
[0053]所述第二连接固定块固定连接于所述第二避让开口上，且所述第二连接探针对应连接于所述探针C；
[0054]所述汇总上固定板固定连接于所述底板的底部；
[0055]所述PCB汇总电路板固定连接于所述汇总上固定板的底部，且所述第一连接探针和第二连接探针分别连接于PCB汇总电路板；
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种柔性电路板的测试系统，其特征在于：包括治具、转接装置、支撑框架和测试装置；所述治具包括治具底座及上压板；所述治具底座的顶部开设有FPC容纳槽；所述治具底座位于所述FPC容纳槽内还开设有竖直的第一A探针活动通孔；所述上压板的底部凸设有压块；所述上压板活动连接于所述治具底座，且所述压块活动地伸入所述FPC容纳槽；所述转接装置包括底板和触点A测试部；所述触点A测试部包括第一固定板、A浮动板以及探针A；所述第一固定板上开设有竖直的A穿孔；所述第一固定板固定连接于所述底板上；所述A浮动板开设有竖直的第二A探针活动通孔；所述A浮动板能上下滑动地连接于所述第一固定板上；所述治具底座能拆卸地连接于所述底板上；所述探针A固定嵌入所述A穿孔，且所述探针A的底端凸出所述第一固定板的底面，所述探针A的顶端向上活动地依次穿过所述第二A探针活动通孔、第一A探针活动通孔；所述支撑框架包括支撑顶板和支撑底板；所述支撑顶板开设有A避让开口；所述测试装置固定连接于所述支撑底板上；所述转接装置连接于所述支撑顶板上；且所述探针A向下穿过所述A避让开口后连接于所述测试装置。2.根据权利要求1所述的一种柔性电路板的测试系统，其特征在于：还包括自动搬移设备和夹爪部；所述夹爪部包括连接顶板、夹爪、气爪以及执行元件；所述连接顶板能拆卸地连接于所述自动搬移设备；所述执行元件固定连接于所述连接顶板的底部；所述气爪有两个；两所述气爪对称连接于所述执行元件，由所述执行元件驱动两所述气爪进行同步相向或背离运动；所述夹爪有两个；每所述夹爪的侧面凸设有销钉；两所述夹爪一一对应固定连接于两所述气爪，且两所述夹爪对称布置，同时所述销钉相向布置；所述治具底座的相对的两侧面还对称开设有销孔；所述销钉一一对应能拆卸地嵌入所述销孔内。3.根据权利要求1所述的一种柔性电路板的测试系统，其特征在于：所述治具还包括B探针部；所述B探针部包括探针B、B固定块、导体片以及B浮动板；所述B浮动板的底部设有一凸块；所述导体片固定连接于所述凸块的底面；所述上压板开设有导向开口；所述B浮动板能上下滑动地连接于所述上压板，且所述凸块滑动地嵌入所述导向开口内；所述B固定块开设有B穿孔；所述B固定块固定连接于所述凸块；所述探针B固定连接于所述B穿孔内，且所述探针B的顶端和所述导体片连接导通，所述探针B的底端在下方穿过所述导向开口，伸入所述FPC
容纳槽内；所述转接装置还包括B转接探针部；所述B转接探针部包括B转接固定块和B转接探针；所述B转接固定块开设有竖直的第一B转接穿孔；所述A浮动板上还开设有第二B转接穿孔；所述B转接固定块固定连接于所述A浮动板上；所述B转接探针固定穿设于所述第一固定板内，且顶端穿过所述第二B转接穿孔、第一B转接穿孔后和所述导体片能拆卸地连接导通，底端向下穿过所述A避让开口后连接于所述测试装置。4.根据权利要求3所述的一种柔性电路板的测试系统，其特征在于：所述治具还包括C浮动压紧部；所述C浮动压紧部包括C浮动板；所述C浮动板的顶部开设有触点C限位容纳槽；所述C浮动板位于所述触点C限位容纳槽内还开设有C探针活动通孔；所述治具底座开设有第一C避让开口；所述C浮动板能上下滑动地连接于所述治具底座上，并位于所述第一C避让开口上方，所述第一C避让开口和所述C探针活动通孔连通；所述转接装置还包括C探针部；所述C探针部包括探针C和C探针固定板；所述支撑顶板还开设有第二C避让开口；所述探针C固定穿设于所述C探针固定板；所述C探针固定板能上下滑动地连接于所述底板，且所述探针C的底端穿过所述第二C避让开口后连接于所述测试装置，所述探针C的顶端向上能拆卸地依次穿过所述第一C避让开口、C探针活动通孔。5.根据权利要求4所述的一种柔性电路板的测试系统，其特征在于：还包括汇总上固定板、汇总下固定板、PCB汇总电路板、第一连接探针块、第二连接探针块及第三连接探针块；所述第一连接探针块包括第一连接固定块；所述第一连接固定块上穿设有第一连接探针；所述第一连接探针的数量等于所述探针A和B转接探针之和；所述第二连接探针块包括第二连接固定块；所述第二连接固定块上穿设有第二连接探针；所述第二连接探针的数量等于所述探针C的数量；所述第三连接探针块包括第三连接固定块；所述第三连接固定块上穿设有第三连接探针；所述第三连接探针的数量等于所述第一连接探针和第二连接探针的数量之和；所述汇总上固定板开设有第一避...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘震，赖秋凤，郭金鸿，黄志胜，张飞，
申请(专利权)人：福建星云电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：