一种掀盖式双面下针测试治具制造技术

为了解决检测过程中外部不稳定因素的干扰致使检测结果稳定性降低及人工效率低下，以及芯片测试数据混乱无序、可追溯性差的问题，本实用新型专利技术提出一种掀盖式双面下针测试治具，通过基座、上盖结构、测试夹具、下底板结构、固定支架结构、读码装置、凸轮轴承装置、气弹簧装置相互配合使用，可以准确高效的对芯片进行检测，从而降低生产成本，且测试结果可追溯。且测试结果可追溯。且测试结果可追溯。

【技术实现步骤摘要】
一种掀盖式双面下针测试治具


[0001]本技术涉及汽车零部件测试
，较为具体的，涉及到一种掀盖式双面下针测试治具。

技术介绍

[0002]随着信息化水平高度提升，汽车照明部件大量使用LED灯具，LED灯具需求增大，而LED灯具中的PCB板需要治具检测以保证其发光性能是否达标。
[0003]目前大量电子产品的芯片射频测试要使用到射频测试治具，现有测试治具对其的测试基本按照分项目分工位单独检测，主要通过人工来判定其合格性，检测易被外部因素及人为疲劳影响检测结果，无法保证测试结果达到检测标准，且整个被测试产品的测试数据存在可追溯性差等缺陷。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，为了解决检测过程中外部不稳定因素的干扰致使检测结果稳定性降低及人工效率低下，以及芯片测试数据混乱无序、可追溯性差的问题，本技术提出一种掀盖式双面下针测试治具，通过基座1、上盖结构2、测试夹具3、下底板结构4、固定支架结构5、读码装置6、凸轮轴承装置7、气弹簧装置8相互配合使用，可以准确高效的对芯片进行检测，从而降低生产成本，且测试结果可追溯。
[0005]一种掀盖式双面下针测试治具，其包括：基座1、上盖结构2、测试夹具 3、下底板结构4、固定支架结构5、读码装置6、凸轮轴承装置7、气弹簧装置8，其特征在于：所述凸轮轴承装置7包括第一凸轮轴承71、第二凸轮轴承、第三凸轮轴承72、第四凸轮轴承，所述第一凸轮轴承71与第二凸轮轴承结构一致，所述第三凸轮轴承72、第四凸轮轴承结构一致，所述下底板结构4设置在基座1上方，所述测试夹具3设置在下底板结构4上方，所述上盖结构2设置在下底板结构4上方，所述上盖结构2与固定支架结构5通过凸轮轴承装置7转动连接，所述下底板结构4包括：下底板41、下针板42，所述下底板41设置在基座1上方，所述下针板42设置在下底板41下方。
[0006]进一步的，所述固定支架结构5包括第一固定支架结构51、第二固定支架结构52，所述第一固定支架结构51与第二固定支架结构52结构一致且对称设置，所述第一固定支架结构51包括第一支撑架511、第二支撑架512，所述第二固定支架结构52包括第三支撑架521、第四支撑架522，所述第一支撑架511与第二支撑架512设置在下底板41上方。
[0007]进一步的，所述上盖结构2包括：把手结构21、保护盖结构22、盖板结构23，所述把手结构21包括第二把手211、加强杆212、第五连接板213、第六连接板214，所述第五连接板213与第六连接板214对称设置，所述第二把手211与第五连接板213、第六连接板214连接固定，所述加强杆212 与第五连接板213、第六连接板214连接固定，所述把手结构21与第一支撑架511、上盖结构2通过第一凸轮轴承71连接，所述把手结构21与第三支撑架521、上盖结构2通过第二凸轮轴承连接。
[0008]进一步的，所述保护盖结构22包括保护盖板221、支撑棍222、上盖板 223、LED数据分析仪224，所述保护盖板221设置在多个支撑棍222方，所述多个支撑棍222设置在上盖板223上方，所述LED数据分析仪224设置在上盖板223上方且位于保护盖板221和支撑棍222形成的中空结构内。
[0009]进一步的，所述盖板结构23包括探针231、上针板232、第一连接板233、第二连接板234、第三连接板235、第四连接板236、小支柱237，所述上针板设置在上盖板223下方，所述上针板上方设置有多个小支柱237，所述小支柱237与上盖板223连接，所述第一连接板233设置在上盖板223下方，所述第二连接板234设置在上盖板223的左侧，所述第三连接板235设置在上盖板223下方，所述第四连接板236设置在上盖板223的右侧，所述第一连接板233与第三连接板235对称设置，所述第二连接板234与第四连接板 236对称设置，所述多个探针231设置在对应上针板孔洞中，所述多个探针 231设置在下针板孔洞中，所述探针231一端与LED数据分析仪224连接，所述探针231另一端与PCB板连接，所述LED数据分析仪224与电脑通过光纤探头连接，用以检测数据传输。
[0010]进一步的，所述读码装置6包括读码器61、可拆卸L型连接板62、可拆卸连接板63，所述可拆卸连接板63与可拆卸L型连接板62通过螺丝连接，所述可拆卸连接板63上设有多个腰型孔，所述可拆卸连接板63设置在上盖板223上方，所述读码器61设置可拆卸L型连接板62上方上，用以对测试PCB板扫码数据入库。
[0011]进一步的，所述第一凸轮轴承71设置在第一支撑架511内，所述第一凸轮轴承71包括弧形槽711、第一连接棒712、第一轴承713、限位柱714，所述第一轴承713设置在弧形槽711内，所述限位柱714设置在弧形槽711内孔洞，所述第一连接棒712与第一轴承713连接，所述第一凸轮轴承71与第五连接板213连接，所述第五连接板213与第二连接板234连接，所述第三凸轮轴承设置在第二支撑架512内，所述第三凸轮轴承72包括矩形槽721、 L型槽722、第二连接棒723、第三连接棒724、第二轴承725、第三轴承726，所述第二轴承725设置在矩形槽721内，所述第三轴承726设置在L型槽722 内，所述第二连接棒723与第二轴承725连接，所述第三连接棒724与第三轴承726连接，所述第三凸轮轴承72与第二连接板234通过第二连接棒723 连接转动，所述第三凸轮轴承72与第一连接板233通过第三连接棒724连接转动。
[0012]进一步的，所述测试夹具3包括：测试夹具板31、支撑板32，所述测试夹具板31设置在上针板232下方，所述支撑板32设置在测试夹具板31下方，所述支撑板32设置在下底板41上方。
[0013]进一步的，所述气弹簧装置8包括第一气弹簧81、第二气弹簧82，所述第一气弹簧81一端与第二支撑架512通过螺丝连接，所述第一气弹簧81另一端与第一连接板233通过转头连接，所述第一气弹簧81与第二气弹簧82 结构一致，所述第一气弹簧81与第二气弹簧82左右对称设置。
[0014]进一步的，所述基座包括：第一把手11、散热孔12、计数器13、操作面板14、防夹板15,所述第一把手11分别设置在基座1两侧，所述散热孔 12设置在基座1两侧，所述计数器13设置在基座1前部靠左，所述操作面板14设置在基座1前部居中位置，所述防夹板15设置在基座1前部靠右侧。
[0015]本技术的有益效果：本技术提出一种掀盖式双面下针测试治具，通过基
座1、上盖结构2、测试夹具3、下底板结构4、固定支架结构5、读码装置6、凸轮轴承装置7、气弹簧装置8相互配合使用，可以准确高效的对芯片进行检测，从而降低生产成本，且测试结果可追溯。
附图说明
[0016]图1为本技术的掀盖式双面下针测试治具的结构示意图。
[0017]图2为本技术的掀盖式双面下针测试治具的结构示意图。
[0018本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种掀盖式双面下针测试治具，其包括：基座(1)、上盖结构(2)、测试夹具(3)、下底板结构(4)、固定支架结构(5)、读码装置(6)、凸轮轴承装置(7)、气弹簧装置(8)，其特征在于：所述凸轮轴承装置(7)包括第一凸轮轴承(71)、第二凸轮轴承、第三凸轮轴承(72)、第四凸轮轴承，所述第一凸轮轴承(71)与第二凸轮轴承结构一致，所述第三凸轮轴承(72)、第四凸轮轴承结构一致，所述下底板结构(4)设置在基座(1)上方，所述测试夹具(3)设置在下底板结构(4)上方，所述上盖结构(2)设置在下底板结构(4)上方，所述上盖结构(2)与固定支架结构(5)通过凸轮轴承装置(7)转动连接，所述下底板结构(4)包括：下底板(41)、下针板(42)，所述下底板(41)设置在基座(1)上方，所述下针板(42)设置在下底板(41)下方。2.如权利要求1所述的掀盖式双面下针测试治具，其特征在于:所述固定支架结构(5)包括第一固定支架结构(51)、第二固定支架结构(52)，所述第一固定支架结构(51)与第二固定支架结构(52)结构一致且对称设置，所述第一固定支架结构(51)包括第一支撑架(511)、第二支撑架(512)，所述第二固定支架结构(52)包括第三支撑架(521)、第四支撑架(522)，所述第一支撑架(511)与第二支撑架(512)设置在下底板(41)上方。3.如权利要求1所述的掀盖式双面下针测试治具，其特征在于:所述上盖结构(2)包括：把手结构(21)、保护盖结构(22)、盖板结构(23)，所述把手结构(21)包括第二把手(211)、加强杆(212)、第五连接板(213)、第六连接板(214)，所述第五连接板(213)与第六连接板(214)对称设置，所述第二把手(211)与第五连接板(213)、第六连接板(214)连接固定，所述加强杆(212)与第五连接板(213)、第六连接板(214)连接固定，所述把手结构(21)与第一支撑架(511)、上盖结构(2)通过第一凸轮轴承(71)连接，所述把手结构(21)与第三支撑架(521)、上盖结构(2)通过第二凸轮轴承连接。4.如权利要求3所述的掀盖式双面下针测试治具，其特征在于:所述保护盖结构(22)包括保护盖板(221)、支撑棍(222)、上盖板(223)、LED数据分析仪(224)，所述保护盖板(221)设置在多个支撑棍(222方，所述多个支撑棍(222)设置在上盖板(223)上方，所述LED数据分析仪(224)设置在上盖板(223)上方且位于保护盖板(221)和支撑棍(222)形成的中空结构内。5.如权利要求3所述的掀盖式双面下针测试治具，其特征在于:所述盖板结构(23)包括探针(231)、上针板(232)、第一连接板(233)、第二连接板(234)、第三连接板(235)、第四连接板(236)、小支柱(237)，所述上针板设置在上盖板(223)下方，所述上针板上方设置有多个小支柱(237)，所述小支柱(237)与上盖板(223)连接，所述第一连接板(233)设置在上盖板(223)下方，所述第二连接板(234)设置在上盖板(223)的左侧，所述第三连接板(235)设置在上盖板(223)下方，所述第四连接板(236)设置在上盖板(223)的右侧，所述第一连接板(233)与第三连接板(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍建荣，
申请(专利权)人：苏州特斯捷电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：