为了解决检测过程中外部不稳定因素的干扰致使检测结果稳定性降低及人工效率低下，以及芯片测试数据混乱无序、可追溯性差的问题，本实用新型专利技术提出一种射频测试治具，包括：机体、驱动模组、测试夹具、滑动组件、下压装置、支撑板、链条、测试触点、接收部，其特征在于：所述驱动模组设置于机体左上部，所述测试夹具安装于机体上，所述测试夹具的两端设有滑动组件，所述测试夹具上部设有下压装置，所述下压装置下方与滑动组件连接，所述支撑板设置于机体上，本实用新型专利技术可以准确高效的对芯片进行检测，降低生产成本，且测试结果可追溯。且测试结果可追溯。且测试结果可追溯。
【技术实现步骤摘要】
一种射频测试治具
[0001]本技术涉及测试
，较为具体的，涉及到一种射频测试治具。
技术介绍
[0002]随着信息化水平高度提升，各类电子产品中的芯片需要检测以保证其性能。
[0003]目前大量电子产品的芯片射频测试要使用到射频测试治具，现有测试治具对其的测试基本按照分项目分工位单独检测，主要通过人工来判定其合格性，亦或通过简单的声音提示或者显示模块提示操作者。检测易被外部因素及人为疲劳影响检测结果，且整个被测试芯片的测试数据存在可追溯性差等缺陷。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，为了解决检测过程中外部不稳定因素的干扰致使检测结果稳定性降低及人工效率低下，以及芯片测试数据混乱无序、可追溯性差的问题，本技术提出一种射频测试治具，通过机体1、为治具提供动能的驱动模组2、用于控制所述测试触点的测试夹具3、与下压装置5连接的滑动组件4、用于固定芯片与屏蔽信号的下压装置5、支撑板6、链条7、接收部8，可以准确高效的对芯片进行检测，从而降低生产成本，且测试结果可追溯。
[0005]一种射频测试治具，包括：机体1、驱动模组2、测试夹具3、滑动组件 4、下压装置5、支撑板6、链条7、测试触点、接收部8，其特征在于：所述驱动模组2设置于机体1左上部，所述测试夹具3安装于机体1上，所述测试夹具3包括凹型槽32结构，所述凹型槽32结构内设有测试触点，所述测试夹具3的两端设有滑动组件4，所述测试夹具3上部设有下压装置5，所述下压装置5下方与滑动组件4连接，所述支撑板6设置于机体上，所述支撑板6两端各设置有限位传感器61，便于将信号传输至电脑及PLC系统。
[0006]进一步的，所述链条7一端连接在下压装置5上部，链条7另一端连接在机体1上。
[0007]进一步的，电磁阀21包括汇流板24、橡胶链、第二出气口25、第三出气口26、第四出气口27、第五出气口28，所述汇流板24通过橡胶链与电磁阀21连接，保持电磁阀21密封性，所述第二出气口25、第三出气口26、第四出气口27、第五出气口28设置在电磁阀体上方。
[0008]进一步的，所述测试夹具3下方设置有多个支撑柱31，测试夹具3通过多个支撑柱31保持夹具稳定性。
[0009]进一步的，所述滑动组件4包括滑轨41、滑块42、连接架43、支撑架 44、丝杠气缸45，所述支撑架44上方设有连接架43，所述支撑架44下方设有滑块42，所述滑块42与滑轨41匹配连接，所述滑轨41平行设置于机体1 上表面且位于测试夹具3的两端，所述丝杠气缸45与连接架43连接。
[0010]进一步的，所述丝杠气缸45的外部套有丝杆48，连接架43的一端与丝杆48固定连接，通过丝杆48可以在丝杠气缸45左右移动。
[0011]进一步的，所述机体1的两侧设置有第一按钮11、第二按钮12、第三按钮13、第四按钮14。
[0012]进一步的，所述下压装置5包括连接板51、升降轴52、薄型气缸53、压板54，所述连接板51上部固定连接有连接件，所述升降轴52设置在连接板51四角，所述薄型气缸53设置于连接板51上部，所述压板54为中空结构，所述压板54下部四周设有多圈环形槽57，所述环形槽57内设有导电棉，起信号屏蔽作用。
[0013]进一步的，所述测试触点、接收部8包括USB口81、供电接口82、通讯接口83，通过USB口81、供电接口82、通讯接口83，所述USB口81、通讯接口83与计算机进行数据传送，在工作时所述触点一端接触测试芯片，另一端连接PLC，所述PLC与接收部8连接。
[0014]进一步的，驱动模组2包括电磁阀21、第一进气口22、第一出气口23，薄型气缸53的前端设有第四进气口55、第五进气口56，第二按钮12后方设置有第二进气口15、第三进气口16，丝杠气缸45左侧设有第六进气口46，丝杠气缸45右侧设有第七进气口47，所述第一出气口23与电磁阀21通过气管连接，第二出气口25与第二进气口15通过气管连接，第三出气口26与第三进气口16通过气管连接,第四出气口27与第四进气口55通过气管连接，第五出气口28与第五进气口56通过气管连接，为薄型气缸供能，第二进气口15与第六进气口46通过气管连接，第三进气口16与第七进气口47通过气管连接，为丝杠气缸供能。
[0015]本技术的有益效果：本技术提出一种射频测试治具，通过机体 1、为治具提供动能的驱动模组2、用于控制所述测试触点的测试夹具3、与下压装置5连接的滑动组件4、用于固定芯片与屏蔽信号的下压装置5、支撑板6、链条7、接收部8，可以准确高效的对芯片进行检测，从而降低生产成本，且测试结果可追溯。
附图说明
[0016]图1为本技术的射频测试治具的结构示意图。
[0017]图2为本技术的射频测试治具的结构示意图。
[0018]图3为本技术的射频测试治具的结构示意图。
[0019]图4为本技术的射频测试治具的结构示意图。
[0020]图5为本技术的射频测试治具的下压装置压板的结构示意图。
[0021]主要元件符号说明
[0022][0023][0024]如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本技术。
具体实施方式
[0025]如图1所示，为本技术的射频测试治具的结构示意图；如图2所示，为本技术的射频测试治具的结构示意图；如图3所示，为本技术的射频测试治具的结构示意图；如图4所示，为本技术的射频测试治具的结构示意图；如图5所示，为本技术的射频测试治具的下压装置压板的结构图。
[0026]一种射频测试治具，包括：机体1、驱动模组2、测试夹具3、滑动组件 4、下压装置5、支撑板6、链条7、测试触点、接收部8，其特征在于：所述驱动模组2设置于机体1左上部，所述测试夹具3安装于机体1上，所述测试夹具3包括凹型槽32结构，所述凹型槽32结构内设有测试触点，所述测试夹具3的两端设有滑动组件4，所述测试夹具3上部设有下压装置5，所述下压装置5下方与滑动组件4连接，所述支撑板6设置于机体上，所述支撑板6两端各设置有限
位传感器61，便于将信号传输至电脑及PLC系统。
[0027]所述链条7一端连接在下压装置5上部，链条7另一端连接在机体1上。
[0028]电磁阀21包括汇流板24、橡胶链、第二出气口25、第三出气口26、第四出气口27、第五出气口28，所述汇流板24通过橡胶链与电磁阀21连接，保持电磁阀21密封性，所述第二出气口25、第三出气口26、第四出气口27、第五出气口28设置在电磁阀体上方。
[0029]所述测试夹具3下方设置有多个支撑柱31，测试夹具3通过多个支撑柱 31保持夹具稳定性。
[0030]所述滑动组件4包括滑轨41、滑块42、连接架43、支撑架44、丝杠气缸45，所述支撑架44上方设有连接架43，所述支撑架44下方设有滑块42，所述滑块42与滑轨41匹配连接，所述滑轨41平行本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种射频测试治具，包括：机体(1)、驱动模组(2)、测试夹具(3)、滑动组件(4)、下压装置(5)、支撑板(6)、链条(7)、测试触点、接收部(8)，其特征在于：所述驱动模组(2)设置于机体(1)左上部，所述测试夹具(3)安装于机体(1)上，所述测试夹具(3)包括凹型槽(32)结构，所述凹型槽(32)结构内设有测试触点，所述测试夹具(3)的两端设有滑动组件(4)，所述测试夹具(3)上部设有下压装置(5)，所述下压装置(5)下方与滑动组件(4)连接，所述支撑板(6)设置于机体上，所述支撑板(6)两端各设置有限位传感器(61)，便于将信号传输至电脑及PLC系统。2.如权利要求1所述的射频测试治具，其特征在于：所述链条(7)一端连接在下压装置(5)上部，链条(7)另一端连接在机体(1)上。3.如权利要求2所述的射频测试治具，其特征在于：电磁阀(21)包括汇流板(24)、橡胶链、第二出气口(25)、第三出气口(26)、第四出气口(27)、第五出气口(28)，所述汇流板(24)通过橡胶链与电磁阀(21)连接，保持电磁阀(21)密封性，所述第二出气口(25)、第三出气口(26)、第四出气口(27)、第五出气口(28)设置在电磁阀体上方。4.如权利要求1所述的射频测试治具，其特征在于：所述测试夹具(3)下方设置有多个支撑柱(31)，测试夹具(3)通过多个支撑柱(31)保持夹具稳定性。5.如权利要求1所述的射频测试治具，其特征在于：所述滑动组件(4)包括滑轨(41)、滑块(42)、连接架(43)、支撑架(44)、丝杠气缸(45)，所述支撑架(44)上方设有连接架(43)，所述支撑架(44)下方设有滑块(42)，所述滑块(42)与滑轨(41)匹配连接，所述滑轨(41)平行设置于机体(1)上表面且位于测试夹具(3)的两端，所述丝杠气缸(45)与连接架(43)连接。6.如权利要求5所述的射频测试治具，其特征在于：所述丝杠气缸(45)的外部套有丝杆(48)，连接架(43)的一端与丝杆(4...
【专利技术属性】
技术研发人员：鲍建荣，
申请(专利权)人：苏州特斯捷电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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