一种柔性电路板测试用的治具制造技术

本实用新型专利技术提供一种柔性电路板测试用的治具，包括治具底座及上压板；所述治具底座的顶部开设有FPC容纳槽；所述治具底座位于所述FPC容纳槽内还开设有竖直的第一A探针活动通孔；所述上压板的底部凸设有压块；所述上压板活动连接于所述治具底座，且所述压块活动地伸入所述FPC容纳槽。将FPC放置在FPC容纳槽内；所述探针A和FPC上的触点A直接连接导通，从而实现对FPC上的触点直接进行测试，无需转接测试，测试精度更高。测试精度更高。测试精度更高。

【技术实现步骤摘要】
一种柔性电路板测试用的治具


[0001]本技术涉及柔性电路板测试领域，特别是一种柔性电路板测试用的治具。

技术介绍

[0002]柔性电路板是以聚酰亚胺或聚酯薄膜为基材制成的一种具有高度可靠性，绝佳的可挠性印刷电路板，具有配线密度高、重量轻、厚度薄、弯折性好的特点；在生产柔性电路板过程中，为了保证所生产的柔性电路板是合格的，需要用测试装置对每个柔性电路板进行测试。
[0003]现有技术的缺陷主要表现在：
[0004]一、现有FPC测试采用电路转接板，将FPC触点转接至转接板上，再用探针测试转接板上的触点，而转接板上的触点只是模拟触点，因转接板的触点大小远大于FPC自身的触点，极大提高了测试的便携性，但因此也降低了测试精度，存在转接板上的转接阻抗，影响测试结果。

技术实现思路

[0005]本技术要解决的技术问题，在于提供一种柔性电路板测试用的治具，对FPC进行安装定位，便于探针对FPC上的触点直接进行测试，无需转接测试，测试精度更高。
[0006]本技术是这样实现的：本技术提供一种柔性电路板测试用的治具，包括治具底座及上压板；
[0007]所述治具底座的顶部开设有FPC容纳槽；所述治具底座位于所述FPC 容纳槽内还开设有竖直的第一A探针活动通孔；
[0008]所述上压板的底部凸设有压块；所述上压板活动连接于所述治具底座，且所述压块活动地伸入所述FPC容纳槽。
[0009]进一步地，还包括B探针部；
[0010]所述B探针部包括探针B、B固定块、导体片以及B浮动板；
[0011]所述B浮动板的底部设有一凸块；所述导体片固定连接于所述凸块的底面；
[0012]所述上压板开设有导向开口；所述B浮动板能上下滑动地连接于所述上压板，且所述凸块滑动地嵌入所述导向开口内；
[0013]所述B固定块开设有B穿孔；
[0014]所述B固定块固定连接于所述凸块；所述探针B固定连接于所述B穿孔内，且所述探针B的顶端和所述导体片连接导通，所述探针B的底端在下方穿过所述导向开口，伸入所述FPC容纳槽内。
[0015]进一步地，还包括C浮动压紧部；所述C浮动压紧部包括C浮动板；
[0016]所述C浮动板的顶部开设有触点C限位容纳槽；所述C浮动板位于所述触点C限位容纳槽内还开设有C探针活动通孔；
[0017]所述治具底座开设有第一C避让开口；
[0018]所述C浮动板能上下滑动地连接于所述治具底座上，并位于所述第一C 避让开口上方，所述第一C避让开口和所述C探针活动通孔连通。
[0019]进一步地，所述FPC容纳槽的顶部边缘开设有倒角。
[0020]进一步地，所述B探针部还包括第二螺栓和第一弹簧；
[0021]所述B固定块开设有第一定位销孔；所述凸块的底面凸设有定位销；所述治具底座的顶面开设有第二定位销孔；所述定位销依次穿过所述第一定位销孔、第二定位销孔；
[0022]所述B浮动板对称开设有两第一贯穿孔；所述上压板开设有两第一螺孔；每所述第二螺栓对应穿过一所述第一贯穿孔后套上一所述第一弹簧，最后锁入所述第一螺孔内。
[0023]进一步地，还包括两第三螺栓、两衬套和两扭簧；
[0024]所述上压板的底面对称设有两旋转耳；每所述旋转耳开设有第二贯穿孔；
[0025]所述治具底座的顶端左侧开设有对称的两第一槽口和对称的两第二槽口；
[0026]所述治具底座沿前后方向开设有第二螺孔，且所述第二螺孔贯穿所述第一槽口和第二槽口；
[0027]所述衬套一一对应嵌入所述第二贯穿孔内；每所述旋转耳置于所述第一槽口内，每所述扭簧置于所述第二槽口内，且所述扭簧的一端抵住在所述上压板，另一端抵住所述治具底座，每所述第三螺栓伸入所述第二螺孔内并依次穿过所述衬套和扭簧后锁紧。
[0028]进一步地，所述C浮动压紧部还包括四个第三螺栓和四个第二弹簧；
[0029]所述治具底座位于所述FPC容纳槽内还开设有四个第三螺孔；
[0030]所述C浮动板开设有四个第三贯穿孔；每所述第三螺栓依次穿过所述第三贯穿孔后套上一所述第二弹簧，最后锁入所述第三螺孔。
[0031]进一步地，所述治具底座的底面开设有两个对称布置的第三定位销孔。
[0032]进一步地，还包括四个磁铁；其中两个所述磁铁固定连接于所述上压板的底面，另外两个所述磁铁固定连接于所述治具底座上，所述上压板上的两所述磁铁和所述治具底座上的两所述磁铁对应吸合。
[0033]本技术具有如下优点：本技术提供一种柔性电路板测试用的治具，包括治具底座及上压板；所述治具底座的顶部开设有FPC容纳槽；所述治具底座位于所述FPC容纳槽内还开设有竖直的第一A探针活动通孔；所述上压板的底部凸设有压块；所述上压板活动连接于所述治具底座，且所述压块活动地伸入所述FPC容纳槽。将FPC放置在FPC容纳槽内；所述探针A和 FPC上的触点A直接连接导通，从而实现对FPC上的触点直接进行测试，无需转接测试，测试精度更高。
附图说明
[0034]下面参照附图结合实施例对本技术作进一步的说明。
[0035]图1和图2为本技术FPC一实施例的立体图。
[0036]图3是本技术所述的测试系统的立体图。
[0037]图4是本技术所述的夹爪部和治具的爆炸图。
[0038]图5是本技术所述的治具装配了FPC的俯视图。
[0039]图6是本技术所述的治具装配了FPC的立体图。
[0040]图7是本技术所述的治具的爆炸图。
[0041]图8是本技术所述的治具的仰视图。
[0042]图9和图10是本技术所述的转接装置的立体图。
[0043]图11是本技术所述的B转接探针部的立体图。
[0044]图12是本技术所述的托针的结构示意图。
[0045]图13是本技术所述的B转接探针部在托针处的剖视图。
[0046]图14是本技术所述的B转接探针部和第一连接探针块的分解图。
[0047]图15是本技术所述的B转接探针部在探针A处的剖视图。
[0048]图16是本技术所述的转接装置和汇总部分的立体图。
[0049]图17是本技术所述的C探针部和第二连接探针块的分解图。
[0050]图18是本技术所述的C探针部和第二连接探针块的爆炸图。
[0051]图19是本技术所述的C探针部的俯视图。
[0052]图20是图19中的A
‑
A剖视图。
[0053]图21是图20中B处的局部放大示意图。
[0054]图22是本技术所述的转接装置和汇总部分爆炸图。
[0055]图23是本技术所述的转接装置、汇总部分和测试装置的分解图。
[0056]图24和图25是本技术所述的压紧部本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种柔性电路板测试用的治具，其特征在于：包括治具底座及上压板；所述治具底座的顶部开设有FPC容纳槽；所述治具底座位于所述FPC容纳槽内还开设有竖直的第一A探针活动通孔；所述上压板的底部凸设有压块；所述上压板活动连接于所述治具底座，且所述压块活动地伸入所述FPC容纳槽。2.根据权利要求1所述的一种柔性电路板测试用的治具，其特征在于：还包括B探针部；所述B探针部包括探针B、B固定块、导体片以及B浮动板；所述B浮动板的底部设有一凸块；所述导体片固定连接于所述凸块的底面；所述上压板开设有导向开口；所述B浮动板能上下滑动地连接于所述上压板，且所述凸块滑动地嵌入所述导向开口内；所述B固定块开设有B穿孔；所述B固定块固定连接于所述凸块；所述探针B固定连接于所述B穿孔内，且所述探针B的顶端和所述导体片连接导通，所述探针B的底端在下方穿过所述导向开口，伸入所述FPC容纳槽内。3.根据权利要求2所述的一种柔性电路板测试用的治具，其特征在于：还包括C浮动压紧部；所述C浮动压紧部包括C浮动板；所述C浮动板的顶部开设有触点C限位容纳槽；所述C浮动板位于所述触点C限位容纳槽内还开设有C探针活动通孔；所述治具底座开设有第一C避让开口；所述C浮动板能上下滑动地连接于所述治具底座上，并位于所述第一C避让开口上方，所述第一C避让开口和所述C探针活动通孔连通。4.根据权利要求3所述的一种柔性电路板测试用的治具，其特征在于：所述FPC容纳槽的顶部边缘开设有倒角。5.根据权利要求3所述的一种柔性电路板测试用的治具，其特征在于：所述B探针部还包括第二螺栓和第一弹簧；所述B固定块开设有第一定位销孔；所述凸块的底面凸设有定位销；所述治...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘震，赖秋凤，郭金鸿，黄志胜，张飞，
申请(专利权)人：福建星云电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：