一种芯片的原型验证平台、方法、装置和设备制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种芯片的原型验证平台、方法、装置和设备，包括：验证模块、电源模块、时钟模块、存储模块、串口模块和调试接口模块；验证模块中设置有第一数量个验证子模块和第二数量个验证用例，每个验证子模块均对应有至少一个验证用例，相对应的验证子模块和验证用例用于对待验证芯片所包含的一个待验证模块进行原型验证，第一数量大于10，第二数量不小于第一数量；各验证子模块和验证用例对相应待验证模块进行原型验证的过程互不影响；电源模块为平台提供所需电源；时钟模块为验证模块提供外部时钟；存储模块为验证模块提供外部存储；串口模块为验证模块提供数据输出接口。本发明专利技术能满足多种芯片的原型验证，在提高验证效率的同时降低成本。时降低成本。时降低成本。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的原型验证平台、方法、装置和设备


[0001]本专利技术涉及集成电路
，具体涉及一种芯片的原型验证平台、方法、装置和设备。

技术介绍

[0002]随着芯片种类、数量的不断增多，其原型验证需要设计多种平台协助进行实施。因为不同的芯片会存在不同的外设结构，例如对于RISC
‑
V架构的芯片的每一个外设模块都需要进行验证，以此来确定RISC
‑
V芯片针对此模块的功能、性能等是否符合设计要求。这样就需要针对不同的外设模块设计相应的验证平台进行验证，这种重复设计验证的方式不仅增加了验证的成本，而且降低了验证的效率。

技术实现思路

[0003]为了解决现有技术存在的重复设计成本高、验证效率低的问题，本专利技术提供了一种芯片的原型验证平台、方法、装置和设备，其具有成本更低、验证效率更高等特点
[0004]根据本专利技术具体实施方式提供的一种芯片的原型验证平台，包括：验证模块以及分别和所述验证模块连接的电源模块、时钟模块、存储模块、串口模块和调试接口模块；
[0005]所述验证模块中设置有第一数量个验证子模块和第二数量个验证用例，每个所述验证子模块均对应有至少一个所述验证用例，相对应的所述验证子模块和所述验证用例用于对待验证芯片所包含的一个待验证模块进行原型验证，所述第一数量大于10，所述第二数量不小于所述第一数量；
[0006]各相对应的所述验证子模块和所述验证用例对不同的所述待验证模块进行原型验证的过程互不影响；
[0007]所述电源模块用于为所述平台提供所需电源；
[0008]所述时钟模块用于为所述验证模块提供外部时钟；
[0009]所述存储模块用于为所述验证模块提供外部存储；
[0010]所述串口模块用于为所述验证模块提供数据输出接口；
[0011]所述调试接口模块用于为所述验证模块提供调试接口。
[0012]根据本专利技术具体实施方式提供的一种芯片的原型验证方法，应用于以上所述的芯片的原型验证平台，包括：
[0013]获取连接到所述原型验证平台的待验证芯片的待验证模块；
[0014]从所述验证模块的各个验证子模块中，确定所述待验证模块对应的验证子模块；
[0015]将对应的所述验证子模块和所述待验证模块连接；
[0016]向所述验证子模块输入对应的验证用例对所述验证子模块进行测试。
[0017]进一步地，所述芯片的原型验证方法还包括：
[0018]获取测试结果数据，将所述测试结果数据和所述验证用例的预设结果数据进行比对，对所述待验证模块的性能进行验证。
[0019]进一步地，所述获取连接到所述原型验证平台的待验证芯片的待验证模块，包括：
[0020]将所述待验证芯片的代码转换为所述原型验证平台的代码，并获取已经确定的所述待验证模块。
[0021]进一步地，所述将对应的所述验证子模块和所述待验证模块连接，包括：
[0022]获取所述待验证模块的约束文件；
[0023]基于所述约束文件将所述待验证模块的接口引脚与所述验证子模块的引脚对应连接。
[0024]进一步地，所述基于所述约束文件将所述待验证模块的接口引脚与所述验证子模块的引脚对应连接，包括：
[0025]基于包含所述待验证模块的接口引脚与所述验证子模块的引脚对应关系的XDC约束文件，将所述待验证模块的接口引脚与所述验证子模块的引脚对应连接。
[0026]进一步地，所述向所述验证子模块输入验证用例对所述验证子模块进行测试，包括：
[0027]对所述验证用例的源代码进行编译，以排除所述源代码中的错误；
[0028]将编译无误的所述源代码映射到所述验证模块的逻辑单元中，以生成门级网表；
[0029]基于所述门级网表进行布局布线，生成比特流文件；
[0030]将所述比特流文件输入至所述验证模块进行验证。
[0031]进一步地，所述芯片的原型验证方法还包括：
[0032]将验证结果数据反馈至所述待验证芯片的源文件中，以便进行查错修改。
[0033]根据本专利技术具体实施方式提供的一种芯片的原型验证装置，包括：
[0034]获取模块，用于获取连接到所述原型验证平台的待验证芯片的待验证模块；
[0035]匹配模块，用于从所述验证模块的各个验证子模块中，确定所述待验证模块对应的验证子模块；
[0036]连接模块，用于将对应的所述验证子模块和所述待验证模块连接；以及
[0037]输入模块，用于向所述验证子模块输入对应的验证用例对所述验证子模块进行测试。
[0038]根据本专利技术具体实施方式提供的一种设备，包括：
[0039]存储器和处理器；
[0040]所述存储器，用于存储程序；
[0041]所述处理器，用于执行所述程序，实现如上所述的芯片的原型验证方法的各个步骤。
[0042]本专利技术的有益效果为：通过将待验证芯片集成到验证模块中，然后将待验证芯片的待验证模块约束到对应的验证模块的验证子模块中；再将待验证模块的验证用例配置到验证模块中，其中验证模块中设置有第一数量个验证子模块和第二数量个验证用例，每个验证子模块均对应有至少一个验证用例，相对应的验证子模块和验证用例用于对待验证芯片所包含的一个待验证模块进行原型验证，第二数量不小于第一数量；从而使验证模块可基于验证用例对测试子模块进行测试；最后基于验证模块输出的实时结果数据和验证用例的预设结果数据，对待测模块的性能进行验证。本专利技术可通过不同的验证用例对待测模块进行验证，不必再对验证平台进行重新设计，并可并行对不同的待测模块同时进行验证，能
满足多种芯片的原型验证，在提高验证效率的同时能够降低成本。
附图说明
[0043]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0044]图1是根据一示例性实施例提供的芯片的原型验证平台的原理图；
[0045]图2是根据一示例性实施例提供的芯片的原型验证平台的另一原理图；
[0046]图3是根据一示例性实施例提供的验证模块的原理图；
[0047]图4是根据一示例性实施例提供的芯片的原型验证方法的流程图；
[0048]图5是根据一示例性实施例提供的测试用例的测试流程图；
[0049]图6是根据一示例性实施例提供的芯片的原型验证装置的结构图；
[0050]图7是根据一示例性实施例提供的设备的结构图。
具体实施方式
[0051]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的原型验证平台，其特征在于，包括：验证模块以及分别和所述验证模块连接的电源模块、时钟模块、存储模块、串口模块和调试接口模块；所述验证模块中设置有第一数量个验证子模块和第二数量个验证用例，每个所述验证子模块均对应有至少一个所述验证用例，相对应的所述验证子模块和所述验证用例用于对待验证芯片所包含的一个待验证模块进行原型验证，所述第一数量大于10，所述第二数量不小于所述第一数量；各相对应的所述验证子模块和所述验证用例对不同的所述待验证模块进行原型验证的过程互不影响；所述电源模块用于为所述平台提供所需电源；所述时钟模块用于为所述验证模块提供外部时钟；所述存储模块用于为所述验证模块提供外部存储；所述串口模块用于为所述验证模块提供数据输出接口；所述调试接口模块用于为所述验证模块提供调试接口。2.一种芯片的原型验证方法，其特征在于，应用于权利要求1所述的芯片的原型验证平台，包括：获取连接到所述原型验证平台的待验证芯片的待验证模块；从所述验证模块的各个验证子模块中，确定所述待验证模块对应的验证子模块；将对应的所述验证子模块和所述待验证模块连接；向所述验证子模块输入对应的验证用例对所述验证子模块进行测试。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：获取测试结果数据，将所述测试结果数据和所述验证用例的预设结果数据进行比对，对所述待验证模块的性能进行验证。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取连接到所述原型验证平台的待验证芯片的待验证模块，包括：将所述待验证芯片的代码转换为所述原型验证平台的代码，并获取已经确定的所述待验证模块。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈岚，张金华，张贺，郭潇蔚，刘晨光，孟垂玉，
申请(专利权)人：中科芯云微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：