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本发明涉及一种芯片的原型验证平台、方法、装置和设备,包括:验证模块、电源模块、时钟模块、存储模块、串口模块和调试接口模块;验证模块中设置有第一数量个验证子模块和第二数量个验证用例,每个验证子模块均对应有至少一个验证用例,相对应的验证子模块和...该专利属于中科芯云微电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中科芯云微电子科技有限公司授权不得商用。
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本发明涉及一种芯片的原型验证平台、方法、装置和设备,包括:验证模块、电源模块、时钟模块、存储模块、串口模块和调试接口模块;验证模块中设置有第一数量个验证子模块和第二数量个验证用例,每个验证子模块均对应有至少一个验证用例,相对应的验证子模块和...