一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备制造方法及图纸

本申请公开了一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备，从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。对参数化单元的属性信息进行代码编辑，得到参数化单元的版图描述文件，其中，版图描述文件用于指示参数化单元的版图的格式要求。基于版图描述文件生成虚拟库，在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下，从虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图，组建测试版图，并利用测试版图进行PDK测试。由于参数化单元的版图的格式满足版图描述文件所指示的格式要求，因此，生成测试版图所消耗的时间会有所限制。可见，利用本申请所述的方法，能够有效提高PDK测试的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备
本申请涉及PDK开发
，尤其涉及一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备。
技术介绍
随着近几年国内集成电路设计业的大力发展，国内的芯片设计企业如雨后春笋，但芯片制造和电子设计自动化(Electronicdesignautomation，EDA)却仍处于比较薄弱的水平，无疑是国家当前想要重点发展的方向。无论是芯片制造还是EDA，都离不开工艺设计工具包(ProcessDesignKit，PDK)的开发与验证，PDK在集成电路设计生产领域中担任着一个十分重要的角色，起到将芯片设计公司、代工厂和EDA厂商进行互连的重要作用。当前PDK测试的测试方法主要有两种：一种是基于完成的PDK库，通过手动调用版图，根据测试需求设置参数化单元(Pcell)的配置参数，以此来生成测试版图，再对测试版图进行设计规则检查；另一种是基于完成的PDK库，通过程序来自动调用EDA工具，根据配置文件中所做的配置来批量生成测试版图，然后对测试版图进行设计规则检查。然而，手动调用版图生成测试版图，其生成效率较低，调用EDA工具生成测试版图，所消耗的时间过长。可见，现有的两种版图生成方法，都会降低PDK测试的效率。为此，如何有效提高PDK测试的效率，成为本领域亟需解决的问题。
技术实现思路
本申请提供了一种PDK测试的优化方法、装置、存储介质和设备，目的在于提高PDK测试的效率。为了实现上述目的，本申请提供了以下技术方案：一种PDK测试的优化方法，包括：从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息；对所述参数化单元的属性信息进行代码编辑，得到所述参数化单元的版图描述文件；其中，所述版图描述文件用于指示所述参数化单元的版图的格式要求；所述格式要求包括：所述版图所占的层为任意一层、所述版图的面积为不大于预设阈值、所述版图的数量为一个、以及所述版图的形状为预设形状；基于所述版图描述文件生成虚拟库；在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下，从所述虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图，组建测试版图；利用所述测试版图进行PDK测试。可选的，还包括：在正式库开发结束的情况下，获取正式库路径，并利用所述正式库路径替代库声明文件中的虚拟库路径，使得所述测试版图中所使用的版图都变更为所述正式库中的版图。可选的，所述开发库包括迁移库和原始库；所述从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息，包括：从与所述迁移库对应的源库中，查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息；从与所述原始库对应的开发规则中，查找所述预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。可选的，所述基于所述版图描述文件生成虚拟库，包括：对所述版图描述文件进行编译，得到虚拟库。一种PDK测试的优化装置，包括：查找模块，用于从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息；编辑模块，用于对所述参数化单元的属性信息进行代码编辑，得到所述参数化单元的版图描述文件；其中，所述版图描述文件用于指示所述参数化单元的版图的格式要求；所述格式要求包括：所述版图所占的层为任意一层、所述版图的面积为不大于预设阈值、所述版图的数量为一个、以及所述版图的形状为预设形状；生成模块，用于基于所述版图描述文件生成虚拟库；组建模块，用于在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下，从所述虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图，组建测试版图；测试模块，用于利用所述测试版图进行PDK测试。可选的，还包括：替代模块，用于在正式库开发结束的情况下，获取正式库路径，并利用所述正式库路径替代库声明文件中的虚拟库路径，使得所述测试版图中所使用的版图都变更为所述正式库中的版图。可选的，所述开发库包括迁移库和原始库；所述查找模块用于从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息，包括：所述查找模块，用于从与所述迁移库对应的源库中，查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息；还用于从与所述原始库对应的开发规则中，查找所述预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。可选的，所述生成模块具体用于：对所述版图描述文件进行编译，得到虚拟库。一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行所述的PDK测试的优化方法。一种PDK测试的优化设备，包括：处理器、存储器和总线；所述处理器与所述存储器通过所述总线连接；所述存储器用于存储程序，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行所述的PDK测试的优化方法。本申请提供的技术方案，从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。对参数化单元的属性信息进行代码编辑，得到参数化单元的版图描述文件。其中，版图描述文件用于指示参数化单元的版图的格式要求。格式要求包括：版图所占的层为任意一层、版图的面积为不大于预设阈值、版图的数量为一个、以及版图的形状为预设形状。基于版图描述文件生成虚拟库，在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下，从虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图，组建测试版图，并利用测试版图进行PDK测试。显然，利用开发库中的参数化单元的属性信息，生成参数化单元的版图描述文件，基于版图描述文件生成虚拟库，在PDK测试过程中，调用虚拟库中所包含的参数化单元的版图，组建测试版图，使得测试版图的生成过程不再受限于版图开发过程，有效减少PDK测试的等待时间。此外，由于参数化单元的版图的格式满足版图描述文件所指示的格式要求，因此，生成测试版图所消耗的时间会有所限制。可见，利用本申请所述的方法，能够有效提高PDK测试的效率。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请实施例提供的一种PDK测试的优化方法的示意图；图2为本申请实施例提供的另一种PDK测试的优化方法的示意图；图3为本申请实施例提供的一种PDK测试的优化装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。如图1所示，为本申请实施例提供的一种PDK测试的优化方法的示意图，包括如下步骤：S101：在获取到PDK测试人员的第一触发操作的情况下，从与迁移库对应的源库中，查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。...

【技术保护点】
1.一种PDK测试的优化方法，其特征在于，包括：/n从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息；/n对所述参数化单元的属性信息进行代码编辑，得到所述参数化单元的版图描述文件；其中，所述版图描述文件用于指示所述参数化单元的版图的格式要求；所述格式要求包括：所述版图所占的层为任意一层、所述版图的面积为不大于预设阈值、所述版图的数量为一个、以及所述版图的形状为预设形状；/n基于所述版图描述文件生成虚拟库；/n在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下，从所述虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图，组建测试版图；/n利用所述测试版图进行PDK测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种PDK测试的优化方法，其特征在于，包括：
从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息；
对所述参数化单元的属性信息进行代码编辑，得到所述参数化单元的版图描述文件；其中，所述版图描述文件用于指示所述参数化单元的版图的格式要求；所述格式要求包括：所述版图所占的层为任意一层、所述版图的面积为不大于预设阈值、所述版图的数量为一个、以及所述版图的形状为预设形状；
基于所述版图描述文件生成虚拟库；
在获取到PDK测试人员的触发操作的情况下，从所述虚拟库中调用测试所需的各个参数化单元的版图，组建测试版图；
利用所述测试版图进行PDK测试。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
在正式库开发结束的情况下，获取正式库路径，并利用所述正式库路径替代库声明文件中的虚拟库路径，使得所述测试版图中所使用的版图都变更为所述正式库中的版图。


3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述开发库包括迁移库和原始库；
所述从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息，包括：
从与所述迁移库对应的源库中，查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息；
从与所述原始库对应的开发规则中，查找所述预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息。


4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述版图描述文件生成虚拟库，包括：
对所述版图描述文件进行编译，得到虚拟库。


5.一种PDK测试的优化装置，其特征在于，包括：
查找模块，用于从开发库中查找预设单元列表中所指示的参数化单元的属性信息；
编辑模块，用于对所述参数化单元的属性信息进行代码编辑，得到所述参数化单元的版图描述文件；其中，所述版图描述文件...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈岚，郭潇蔚，王志鹏，
申请(专利权)人：中科芯云微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37