模数转换器电路、图像传感器及半导体装置制造方法及图纸

本申请涉及模数转换器电路、图像传感器及半导体装置。一种模数转换器电路包括：第一运算放大器，其适于将斜坡电压和待转换电压进行比较，以产生放大结果并输出放大结果；第二运算放大器，其适于将传送到第一输入端子的放大结果与传送到第二输入端子的基准电压进行比较，以产生比较结果并输出比较结果；漏电流测量器，其适于测量到第一输入端子的漏电流；以及漏电流发生器，其适于使与由漏电流测量器测量到的漏电流的量相同量的电流流至第二输入端子。端子。端子。

【技术实现步骤摘要】
模数转换器电路、图像传感器及半导体装置


[0001]本专利技术的各种实施方式涉及图像传感器。

技术介绍

[0002]在CMOS图像传感器(CIS)中，需要在速度和功率之间进行权衡。因此，近来的CMOS图像传感器主要采用列并行结构以获得最佳的速度、功率权衡关系，这增加了将模数转换器(ADC)集成到窄像素宽度中的难度。因此，主要使用简单类型的单斜率模数转换器(ADC)。
[0003]增量复位采样(DRS：Delta Reset Sampling)是相关双采样(CDS)的示例，这是一种通过在读出像素信号之后读出像素的复位值，然后将两个分量相减来从像素信号中去除复位噪声的方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的实施方式涉及以高准确度将像素信号转换成数字图像的图像传感器。
[0005]根据本专利技术的实施方式，一种模数转换器电路包括：第一运算放大器，其适于将斜坡电压和待转换电压进行比较，以产生放大结果并输出放大结果；第二运算放大器，其适于将传送到第一输入端子的放大结果与传送到第二输入端子的基准电压进行比较，以产生比较本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种模数转换器电路，该模数转换器电路包括：第一运算放大器，该第一运算放大器将斜坡电压和待转换电压进行比较，以产生放大结果并输出所述放大结果；第二运算放大器，该第二运算放大器将传送到第一输入端子的所述放大结果与传送到第二输入端子的基准电压进行比较，以产生比较结果并输出所述比较结果；漏电流测量器，该漏电流测量器测量到所述第一输入端子的漏电流；以及漏电流发生器，该漏电流发生器使与由所述漏电流测量器测量到的漏电流的量相同量的电流流到所述第二输入端子。2.根据权利要求1所述的模数转换器电路，其中，所述漏电流测量器包括：虚设第二运算放大器，该虚设第二运算放大器与所述第二运算放大器相同地形成；以及测量器，该测量器生成与流过所述虚设第二运算放大器的虚设第一输入端子的虚设漏电流相对应的漏电压。3.根据权利要求2所述的模数转换器电路，其中，所述测量器包括：电流镜，该电流镜将流过所述虚设第一输入端子的电流镜像；以及电流电压转换器，该电流电压转换器生成与经镜像的电流对应的所述漏电压。4.根据权利要求3所述的模数转换器电路，其中，所述电流电压转换器包括PMOS晶体管，该PMOS晶体管包括经镜像的电流流过的漏极、被施加上拉电压的源极、以及联接至所述漏极的栅极。5.根据权利要求2所述的模数转换器电路，其中，所述漏电流发生器响应于所述漏电压而使与所述漏电流的量相同量的电流流至所述第二输入端子。6.根据权利要求2所述的模数转换器电路，其中，所述漏电流测量器还包括虚设第一运算放大器，该虚设第一运算放大器与所述第一运算放大器相同地形成。7.根据权利要求1所述的模数转换器电路，该模数转换器电路还包括：第一开关，该第一开关在自动归零操作期间将所述第一运算放大器的正输出端子联接至所述第一运算放大器的负输入端子；第二开关，该第二开关在所述自动归零操作期间将所述第一运算放大器的负输出端子联接至所述第一运算放大器的正输入端子；第三开关，该第三开关在所述自动归零操作期间将所述第一输入端子联接至所述第二运算放大器的正输出端子；以及第四开关，该第四开关在所述自动归零操作期间将所述第二输入端子联接到所述第二运算放大器的负输出端子。8.根据权利要求7所述的模数转换器电路，其中，所述第三开关包括一个或更多个PMOS晶体管。9.根据权利要求1所述的模数转换器电路，该模数转换器电路还包括数字码发生电路，该数字码发生电路通过使用所述比较结果来生成数字码。10.一种图像传感器，该图像传感器包括：像素电路；第一运算放大器，该第一运算放大器将斜坡电压与所述像素电路的输出电压进行比
较，以产生放大结果并输出所述放大结果；第二运算...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐成旭，金翰相，朴儒珍，宋贞恩，申旼锡，
申请(专利权)人：爱思开海力士有限公司，
类型：发明
国别省市：