插损测量设备及方法技术

本发明专利技术实施方式涉及通信技术领域，公开了一种插损测量设备，包括：控制器、发射模块、接收模块和环回模块，发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上；控制器用于控制发射模块向光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；环回模块用于将经过光交叉连接设备传输后的第一检测光返回至接收模块；接收模块用于检测返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；控制器还用于根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备的插损测量结果。本发明专利技术实施方式还公开了一种插损测量方法。本发明专利技术实施方式提供的插损测量设备及方法，可以提高光交叉矩阵设备插损测量的重复使用性，正常业务中也能对光交叉矩阵设备插损进行实时测量。插损进行实时测量。插损进行实时测量。

【技术实现步骤摘要】
插损测量设备及方法


[0001]本专利技术实施方式涉及通信
，特别涉及一种插损测量设备及方法。

技术介绍

[0002]光交叉连接(optical cross-connect，OXC)设备是用于光纤网络节点的设备，通过对光信号进行线路交叉，能够灵活有效地管理光传输网络，是实现可靠的网络保护、恢复以及自动配线和监控的重要手段。
[0003]在现阶段，光交叉连接设备大都是采用光交叉矩阵的方式进行连接，由于光交叉矩阵侧的光纤很容易脏或接触不良，而且在光交叉矩阵侧很难检测出问题，因此目前均是通过外接的检测设备检测每段光纤的插损来判断光交叉矩阵设备中的光纤问题，其中，插损是指插入损失，是由于器件插入传输线或光纤而导致的信号功率损失。
[0004]由于光交叉矩阵设备的插损会随着使用或运输而发生变化，因此需要经常对光交叉矩阵设备的插损进行测量。然而光交叉矩阵设备中需要测量的端口较多，若采用外接的检测设备测量光交叉矩阵设备的插损，则每次均需要重新进行与光交叉矩阵设备中的光纤的连接，重复使用性差；且当光交叉矩阵设备投入使用后，无法采用外接的检测设备对光交叉矩阵设备的插损进行实时的测量。

技术实现思路

[0005]本专利技术的实施方式的目的在于提供一种插损测量设备及方法，可以提高光交叉矩阵设备插损测量的重复使用性，实现对光交叉矩阵设备插损的实时测量。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术的实施方式提供了一种插损测量设备，包括：控制器、发射模块、接收模块和环回模块，发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上；控制器用于控制发射模块向光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；环回模块用于将经过光交叉连接设备传输后的第一检测光返回至接收模块；接收模块用于检测返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；控制器还用于根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备的插损测量结果。
[0007]本专利技术的实施方式还提供了一种插损测量方法，应用于插损测量设备，插损测量设备包括控制器、发射模块、接收模块和环回模块，发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上，方法包括：利用控制器控制发射模块向光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；利用环回模块将经过光交叉连接设备传输后的第一检测光返回至接收模块；利用接收模块检测返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备的插损测量结果。
[0008]本专利技术实施方式相对于现有技术而言，通过将发射模块、接收模块和环回模块集成在光交叉连接设备上，根据检测光的发射功率和接收功率确定光交叉连接设备的插损测量结果。由于插损测量设备集成在光交叉连接设备上，因此不需要每次测量重新进行与光交叉连接设备的光纤连接，提高了光交叉连接设备插损测量的重复使用性；同时，由于测量
设备集成在光交叉连接设备上，因此可以随时进行对光交叉连接设备的测量，不会影响到正常业务，即使光交叉连接设备投入使用后，亦能实现对光交叉连接设备的插损的实时测量。
附图说明
[0009]一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定。
[0010]图1为本专利技术第一实施方式提供的插损测量设备的结构示意图；
[0011]图2为本专利技术第二实施方式提供的插损测量设备进行自环插损测量的示例图；
[0012]图3为本专利技术第二实施方式提供的插损测量设备进行板间插损测量的示例图；
[0013]图4为本专利技术第二实施方式提供的插损测量设备进行板间插损测量的另一示例图；
[0014]图5为本专利技术第三实施方式提供的插损测量方法的流程示意图；
[0015]图6为本专利技术第三实施方式提供的插损测量方法用于测量自环插损时的流程示意图；
[0016]图7为本专利技术第三实施方式提供的插损测量方法用于测量板间插损时的流程示意图。
具体实施方式
[0017]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术的各实施例进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本专利技术各实施例中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施例的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。以下各个实施例的划分是为了描述方便，不应对本专利技术的具体实现方式构成任何限定，各个实施例在不矛盾的前提下可以相互结合相互引用。
[0018]本专利技术的第一实施方式涉及一种插损测量设备，如图1所示，包括控制器101、发射模块102、接收模块103和环回模块104。其中，发射模块102、接收模块103和环回模块104集成在光交叉连接设备20上。
[0019]具体地，控制器101用于控制发射模块102向光交叉连接设备20发送功率为第一功率的第一检测光；环回模块104用于将经过光交叉连接设备20传输后的第一检测光返回至接收模块103；接收模块103用于检测返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；控制器101用于根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备20的插损测量结果。
[0020]可选地，控制器101根据第一功率和第二功率确定光交叉连接设备20的插损测量结果时，可将第一功率与第二功率的差值作为光交叉连接设备20的插损测量结果，也可以在差值的基础上进行修正，例如乘以一个修正系数，再将修正后的结果作为插损测量结果。
[0021]可选地，发射模块102支持发射多种波长的检测光，并且检测光的输出功率支持调节。
[0022]可选地，接收模块103支持检测多种波长的功率。
[0023]在一个具体的例子中，环回模块104还用于判断第一检测光的波长是否可用，并将第一检测光的波长是否可用的信息返回至控制器101；控制器101还用于当第一检测光的波长不可用时，控制发射模块102调整波长后向光交叉连接设备20发送功率为所述第一功率的第二检测光。
[0024]可选地，若环回模块104判定第一检测光的波长可用，则返回正确码给控制器101；若环回模块104判定第一检测光的波长不可用，则返回错误码给控制器102。
[0025]由于相同波长的光在光交叉连接设备20中会发生干扰，因此使用检测光进行插损测量时，应使用与光交叉连接设备20当前业务所用光的波长不同的光进行检测。可选地，环回模块104在判断第一检测光是否可用时，可以根据第一检测光的波长是否与光交叉连接设备20当前业务所用光的波长相同进行判断，若第一检测光的波长与光交叉连接设备20当前业务所用光的其中一个波长相同，则判定第一检测光不可用，否则判定第一检测光可用。例如，环回模块104将第一检测光的波长与光交叉连接设备20当前业务所用光的波长一一进行匹配，若匹配成功，说明检测光的波长为光交叉连接设备20当前所用的波长的其中一个，则判定第一检测光不可用，需要更换检测光的波长。
[0026]应当理解的是，本专利技术实施方式提供的插损测量设本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种插损测量设备，其特征在于，包括：控制器、发射模块、接收模块和环回模块，所述发射模块、所述接收模块和所述环回模块集成在光交叉连接设备上；所述控制器用于控制所述发射模块向所述光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；所述环回模块用于将经过所述光交叉连接设备传输后的所述第一检测光返回至所述接收模块；所述接收模块用于检测所述返回的第一检测光的功率，并将检测得到的功率作为第二功率；所述控制器还用于根据所述第一功率和所述第二功率确定所述光交叉连接设备的插损测量结果。2.根据权利要求1所述的插损测量设备，其特征在于，所述环回模块还用于判断所述第一检测光的波长是否可用，并将所述第一检测光的波长是否可用的信息返回至所述控制器；所述控制器还用于当所述第一检测光的波长不可用时，控制所述发射模块调整波长后向所述光交叉连接设备发送功率为所述第一功率的第二检测光。3.根据权利要求1所述的插损测量设备，其特征在于，所述控制器还用于判断所述第二功率是否在预设范围内，若所述第二功率不在预设范围内，则控制所述发射模块向所述光交叉连接设备发送功率为第三功率的第三检测光，其中，所述预设范围由所述接收模块的检测精度确定，所述第三功率由所述第一功率根据预设步长调整得到。4.根据权利要求1所述的插损测量设备，其特征在于，所述光交叉连接设备为光交叉矩阵设备，所述光交叉矩阵设备包括N个槽位，所述发射模块、所述接收模块和所述环回模块通过至少一个槽位与所述光交叉矩阵设备连接，所述N为大于1的正整数。5.根据权利要求4所述的插损测量设备，其特征在于，所述控制器用于控制所述发射模块向所述光交叉矩阵设备的第K个槽位发送所述第一检测光，所述K为正整数且小于或等于N；所述环回模块还用于在所述第K个槽位将所述第一检测光返回至所述接收模块；所述控制器还用于根据所述第一功率和所述第二功率确定所述第K个槽位的自环插损测量结果。6.根据权利要求4所述的插损测量设备，其特征在于，所述环回模块至少包括第一环回单元和第二环回单元，所述第一环回单元与所述第K个槽位连接，所述第二环回单元与所述第J个槽位连接，所述K和所述J为正整数且小于或等于N；所述控制器用于控制所述发射模块向所述第K个槽位发送所述第一检测光；所述第一环回单元用于将所述第一检测光从所述第K个槽位发送至所述第J个槽位；所述第二环回单元用于将所述第一检测光返回至所述接收模块；所述控制器还用于根据所述第一功率和所述第二功率确定所述第K个槽位与所述第J个槽位之间的板间插损测量结果。7.一种插损测量方法，其特征在于，应用于插损测量设备，所述插损测量设备包括控制器、发射模块、接收模块和环回模块，所述发射模块、所述接收模块和所述环回模块集成在光交叉连接设备上，所述方法包括：
利用所述控制器控制所述发射模块向所述光交叉连接设备发送功率为第一功率的第一检测光；利用所述环回模块将经过所述光交叉连接设备传输后的所述第一检测光返回至所述接收模块；利用所述接收...

【专利技术属性】
技术研发人员：耿佳宁，李盛，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：