一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法技术方案

本发明专利技术公开了一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，系统包括壳体、夹紧装置、传输装置二、凹面检测装置、定位装置以及控制器。夹紧装置包括固定挡板、移动挡板、定位组件、测距传感器一以及驱动组件。传输装置二包括电磁铁二、伸缩件二以及传输组件二，凹面检测装置包括检测座二、若干个触压开关二以及若干个探针二，定位装置包括测距传感器三。本发明专利技术通过夹紧装置对磁瓦进行初步的夹紧，通过传输装置二将磁瓦从夹紧装置上取走并进一步传输至凹面检测装置上进行检测，利用探针二形成的检测曲面一感应磁瓦凹面，当磁瓦凹面上具有凹陷或者凸起时，探针抵压触压开关二的时间是不同的，从而判断出该区域存在缺陷。从而判断出该区域存在缺陷。从而判断出该区域存在缺陷。

【技术实现步骤摘要】
一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法
[0001]本申请是申请号为CN201910932189.0，申请日为2019/09/29，且专利技术名称为一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法的分案申请。


[0002]本专利技术涉及磁瓦检查
的一种缺陷判定方法，尤其涉及一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法。

技术介绍

[0003]磁瓦是铁氧物永磁材料的主要产品之一，其是电动机中的重要组成部件，应用于众多领域，在汽车、家电、电动工具等工业领域应用广泛，二期需求量巨大。通常情况下，磁瓦是指锶铁氧体，是一种用作永磁电机的励磁，有刷直流电机中放置于定子，无刷电机中放置于转子。
[0004]在磁瓦的生产制造过程中，由于原料成分、设备使用情况、加工工艺以及工人操作等因素的影响，在其表面不可避免地会出现一些加工缺陷，例如裂纹、崩烂、压痕、砂眼以及漏磨等。缺陷的存在会对磁瓦的磁性能、使用寿命等带来非常大的影响，有缺陷的磁瓦如果在风力发电、新能源汽车、航空航天等领域使用会产生巨大的安全隐患，甚至直接造成灾难性后果。目前磁瓦缺陷检测主要依靠工人以肉眼分辨检测，劳动强度大，人员易疲劳，效率低，误检率较高，无法实现自动化和智能化；同时，当磁瓦弧度较大时，磁瓦缺陷检测设备也因景深大、成像效果差、取相难度大等原因造成检查效果差的问题。

技术实现思路

[0005]为解决人工检测磁瓦凹面效率低、误检率较高，而现有的磁瓦凹面缺陷检测设备检查效果差的技术问题，本专利技术提供一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法。
[0006]本专利技术采用以下技术方案实现：一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，所述磁瓦表面缺陷检查系统包括：
[0007]壳体；
[0008]夹紧装置，其包括固定挡板、移动挡板、定位组件、测距传感器一以及驱动组件；固定挡板的底端固定在壳体上；移动挡板的底端活动安装在壳体上，并能够相对固定挡板移动，以产生供至少一个磁瓦放置的至少一个夹紧空间；定位组件安装在固定挡板和移动挡板之间，并用于将磁瓦定位在固定挡板和移动挡板之间；测距传感器一用于检测固定挡板和移动挡板之间的距离；所述驱动组件用于驱使移动挡板向固定挡板移动；
[0009]传输装置二，其包括电磁铁二、伸缩件二以及传输组件二；电磁铁二的顶端为凹面端，且所述凹面端能够与磁瓦的凸面相贴合；伸缩件二的伸缩端固定在电磁铁二的底端上；所述传输组件二安装在壳体上，并用于将伸缩件二在所述传输组件一的下方移动且移动方向与伸缩件一的移动方向平行；
[0010]凹面检测装置，其包括检测座二、若干个触压开关二以及分别与若干个触压开关二对应的若干个探针二；检测座二安装在壳体上，且侧壁上具有弯曲度与磁瓦的凹面的弯曲度相同的弧形凸面；检测座二与检测座一之间的距离大于磁瓦的弦长；若干个触压开关二均安装在检测座二上，并沿着所述弧形凸面的弯曲方向均匀分布；每个探针二的顶端固定在对应的触压开关二的触压端上，且探针二活动安装在检测座二上；所有探针二的底端穿过所述弧形凸面，并形成能够与磁瓦的凹面相贴合的检测曲面二；
[0011]定位装置，其包括测距传感器三；测距传感器三安装在壳体上，并用于检测伸缩件二与壳体靠近所述凹面检测装置的内壁的距离；
[0012]控制器，其采用的磁瓦凹面的缺陷判定方法为：判断测距传感器一检测的距离是否大于所述弦长，是则通过所述驱动组件驱使移动挡板相对固定挡板靠近直至测距传感器一检测的距离等于所述弦长，否则驱使移动挡板相对固定挡板远离直至测距传感器一检测的距离等于所述弦长；所述磁瓦凹面的缺陷判定方法还包括以下步骤：
[0013]步骤S6，通过所述传输组件一驱使伸缩件一移动，直至测距传感器二检测的距离等于一个预设距离三；在测距传感器二检测的距离等于所述预设距离三时，吸附在电磁铁一的磁瓦位于检测座二与检测座一之间的空间的上方；
[0014]步骤S7，通过所述传输组件二驱使伸缩件二移动，直至测距传感器三检测的距离等于一个预设距离四；其中，在测距传感器二检测的距离等于所述预设距离三且测距传感器三检测的距离等于所述预设距离四时，伸缩件一、伸缩件二的中心线重合；
[0015]步骤S8，先驱使伸缩件二伸出直至电磁铁二抵在磁瓦上，再关闭电磁铁一并启动电磁铁二，最后驱使伸缩件二收缩；
[0016]步骤S9，通过所述传输组件二驱使伸缩件二移动，直至测距传感器三检测的距离等于一个预设距离五；在测距传感器三检测的距离等于所述预设距离五时，伸缩件二的中心线穿过所述检测曲面二的中心；
[0017]步骤S10，先驱使伸缩件二伸出，使磁瓦抵在所述检测曲面二上，再驱使伸缩件二收缩；其中，在所有探针二均同时触发对应的触压开关一时，判定磁瓦的凹面不存在缺陷，在部分探针二提前触发对应的触压开关二或者延后触发对应的触压开关二时，判定磁瓦的凹面存在缺陷。
[0018]本专利技术通过夹紧装置对磁瓦进行初步的夹紧，通过传输装置二将磁瓦进一步传输至凹面检测装置上，此时探针二所形成的检测曲面二就会与磁瓦接触，当磁瓦的凹面存在凸出或者凹陷时，就会导致探针二触发触压开关二的时间不同，这样进一步对磁瓦的凹面进行了检查，进而实现对磁瓦凹凸面的缺陷检查。
[0019]作为上述方案的进一步改进，所述驱动组件包括驱动电机、驱动螺杆、限位杆以及弹簧；驱动螺杆螺接在移动挡板上，且中心线与移动挡板的移动方向平行；驱动电机安装在壳体上，且输出轴与驱动螺杆连接；限位杆的两端分别穿过固定挡板、移动挡板，且中心线与移动挡板的移动方向平行；弹簧套在限位杆上，且两端分别固定在固定挡板和移动挡板上。
[0020]作为上述方案的进一步改进，所述传输组件二包括传输电机二、传输螺杆二、定位杆二以及滑块二；传输螺杆二的一端转动安装在壳体上，另一端与传输电机二的输出轴连接；定位杆二的中心线与传输螺杆一、传输螺杆二的中心线平行，且两端安装在壳体上；滑
块二与传输螺杆二螺接，定位杆二穿过滑块二；其中，伸缩件二安装在滑块二上。
[0021]作为上述方案的进一步改进，定位组件包括两个定位块；两个定位块分别安装在固定挡板和移动挡板的相对两内壁上，每个定位块上开设与磁瓦配合的缺口。
[0022]进一步地，定位组件还包括分别与两个定位块对应的两块定位板；两块定位板分别安装在固定挡板和移动挡板的相对两内壁上，且分别位于对应的定位板的下方，并用于支撑磁瓦。
[0023]作为上述方案的进一步改进，所述夹紧装置还包括红外传感器一和倾斜报警器；红外传感器一的发射器和接收器分别安装在固定挡板和移动挡板上，且所述发射器发射的光线经过位于定位组件上的磁瓦的下方空间以传输至所述接收器；在磁瓦发生倾斜时，磁瓦的凸面端遮住所述光线以使红外传感器一产生一个开关信号一；所述控制器在红外传感器一发出开关信号一时，驱使所述倾斜报警器发出倾斜报警信号。
[0024]作为上述方案的进一步改进，磁瓦表面缺陷检查系统还包括：
[0025]称重装置，其包括称重传感器二本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凹面的缺陷判定方法，其特征在于，所述磁瓦表面缺陷检查系统包括：壳体(1)；其特征在于，所述磁瓦表面缺陷检查系统还包括：夹紧装置，其包括固定挡板(2)、移动挡板(3)、定位组件(4)、测距传感器一(5)以及驱动组件；固定挡板(2)的底端固定在壳体(1)上；移动挡板(3)的底端活动安装在壳体(1)上，并能够相对固定挡板(2)移动，以产生供至少一个磁瓦(34)放置的至少一个夹紧空间；定位组件(4)安装在固定挡板(2)和移动挡板(3)之间，并用于将磁瓦(34)定位在固定挡板(2)和移动挡板(3)之间；测距传感器一(5)用于检测固定挡板(2)和移动挡板(3)之间的距离；所述驱动组件用于驱使移动挡板(3)向固定挡板(2)移动；传输装置二，其包括电磁铁二(10)、伸缩件二(11)以及传输组件二；电磁铁二(10)的顶端为凹面端，且所述凹面端能够与磁瓦(34)的凸面相贴合；伸缩件二(11)的伸缩端固定在电磁铁二(10)的底端上；所述传输组件二安装在壳体(1)上，并用于将伸缩件二(11)在所述传输组件一的下方移动且移动方向与伸缩件一(7)的移动方向平行；凹面检测装置，其包括检测座二(12)、若干个触压开关二以及分别与若干个触压开关二对应的若干个探针二(13)；检测座二(12)安装在壳体(1)上，且侧壁上具有弯曲度与磁瓦(34)的凹面的弯曲度相同的弧形凸面；检测座二(12)与检测座一(8)之间的距离大于磁瓦(34)的弦长；若干个触压开关二均安装在检测座二(12)上，并沿着所述弧形凸面的弯曲方向均匀分布；每个探针二(13)的顶端固定在对应的触压开关二的触压端上，且探针二(13)活动安装在检测座二(12)上；所有探针二(13)的底端穿过所述弧形凸面，并形成能够与磁瓦(34)的凹面相贴合的检测曲面二；定位装置，其包括测距传感器三(15)；测距传感器三(15)安装在壳体(1)上，并用于检测伸缩件二(11)与壳体(1)靠近所述凹面检测装置的内壁的距离；控制器，其采用的磁瓦凹面的缺陷判定方法为：判断测距传感器一(5)检测的距离是否大于所述弦长，是则通过所述驱动组件驱使移动挡板(3)相对固定挡板(2)靠近直至测距传感器一(5)检测的距离等于所述弦长，否则在小于弦长时，驱使移动挡板(3)相对固定挡板(2)远离直至测距传感器一(5)检测的距离等于所述弦长，而在等于弦长时，不需要移动挡板(3)移动；所述磁瓦凹面的缺陷判定方法还包括以下步骤：步骤S6，通过所述传输组件一驱使伸缩件一(7)移动，直至测距传感器二(14)检测的距离等于一个预设距离三；在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离三时，吸附在电磁铁一(6)的磁瓦(34)位于检测座二(12)与检测座一(8)之间的空间的上方；步骤S7，通过所述传输组件二驱使伸缩件二(11)移动，直至测距传感器三(15)检测的距离等于一个预设距离四；其中，在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离三且测距传感器三(15)检测的距离等于所述预设距离四时，伸缩件一(7)、伸缩件二(11)的中心线重合；步骤S8，先驱使伸缩件二(11)伸出直至电磁铁二(10)抵在磁瓦(34)上，再关闭电磁铁一(6)并启动电磁铁二(10)，最后驱使伸缩件二(11)收缩；步骤S9，通过所述传输组件二驱使伸缩件二(11)移动，直至测距传感器三(15)检测的距离等于一个预设距离五；在测距传感器三(15)检测的距离等于所述预设距离五时，伸缩
件二(11)的中心线穿过所述检测曲面二的中心；步骤S10，先驱使伸缩件二(11)伸出，使磁瓦(34)抵在所述检测曲面二上，再驱使伸缩件二(11)收缩；其中，在所有探针二(13)均同时触...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐睿，何进，陈益民，
申请(专利权)人：安徽万磁电子有限公司，
类型：发明
国别省市：