【技术实现步骤摘要】
一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凸面的缺陷判定方法
[0001]本申请是申请号为CN201910932189.0,申请日为2019/09/29,且专利技术名称为一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法的分案申请。
[0002]本专利技术涉及磁瓦检查
的一种缺陷判定方法,尤其涉及一种磁瓦凸面的缺陷判定方法。
技术介绍
[0003]磁瓦是铁氧物永磁材料的主要产品之一,其是电动机中的重要组成部件,应用于众多领域,在汽车、家电、电动工具等工业领域应用广泛,二期需求量巨大。通常情况下,磁瓦是指锶铁氧体,是一种用作永磁电机的励磁,有刷直流电机中放置于定子,无刷电机中放置于转子。
[0004]在磁瓦的生产制造过程中,由于原料成分、设备使用情况、加工工艺以及工人操作等因素的影响,在其表面不可避免地会出现一些加工缺陷,例如裂纹、崩烂、压痕、砂眼以及漏磨等。缺陷的存在会对磁瓦的磁性能、使用寿命等带来非常大的影响,有缺陷的磁瓦如果在风力发电、新能源汽车、航空航天等领域使用会产生巨大的安全隐患,甚至直接造成灾难性后果。目前磁瓦缺陷检测主要依靠工人以肉眼分辨检测,劳动强度大,人员易疲劳,效率低,误检率较高,无法实现自动化和智能化;同时,当磁瓦弧度较大时,磁瓦缺陷检测设备也因景深大、成像效果差、取相难度大等原因造成检查效果差的问题。
技术实现思路
[0005]为解决人工检测磁瓦凸面的效率低、误检率较高,而现有的磁瓦凸面缺陷检测设备检查效果差的技术问题,本专利技术提供一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凸面的缺陷判定方法 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凸面的缺陷判定方法,其特征在于,所述磁瓦表面缺陷检查系统包括:壳体(1);其特征在于,所述磁瓦表面缺陷检查系统还包括:夹紧装置,其包括固定挡板(2)、移动挡板(3)、定位组件(4)、测距传感器一(5)以及驱动组件;固定挡板(2)的底端固定在壳体(1)上;移动挡板(3)的底端活动安装在壳体(1)上,并能够相对固定挡板(2)移动,以产生供至少一个磁瓦(34)放置的至少一个夹紧空间;定位组件(4)安装在固定挡板(2)和移动挡板(3)之间,并用于将磁瓦(34)定位在固定挡板(2)和移动挡板(3)之间;测距传感器一(5)用于检测固定挡板(2)和移动挡板(3)之间的距离;所述驱动组件用于驱使移动挡板(3)向固定挡板(2)移动;传输装置一,其包括电磁铁一(6)、伸缩件一(7)以及传输组件一;电磁铁一(6)的底端为凸面端,且所述凸面端能够与磁瓦(34)的凹面相贴合;伸缩件一(7)的伸缩端固定在电磁铁一(6)的顶端上;所述传输组件一安装在壳体(1)上,并用于将伸缩件一(7)在所述夹紧装置的上方移动且移动方向与移动挡板(3)的移动方向平行;凸面检测装置,其包括检测座一(8)、若干个触压开关一以及分别与若干个触压开关一对应的若干个探针一(9);检测座一(8)安装在壳体(1)上,且顶端具有弯曲度与磁瓦(34)的凸面的弯曲度相同的弧形凹面;若干个触压开关一均安装在检测座一(8)中,并沿着所述弧形凹面的弯曲方向均匀分布;每个探针一(9)的底端抵在对应的触压开关一上,且活动安装在检测座一(8)上;所有探针一(9)的顶端穿过所述弧形凹面,并形成能够与磁瓦(34)的凸面相贴合的检测曲面一;定位装置,其包括测距传感器二(14);测距传感器二(14)安装在壳体(1)上,并用于检测伸缩件一(7)与壳体(1)靠近所述夹紧装置的内壁的距离;;控制器,其采用的磁瓦凸面的缺陷判定方法为:判断测距传感器一(5)检测的距离是否大于所述弦长,是则通过所述驱动组件驱使移动挡板(3)相对固定挡板(2)靠近直至测距传感器一(5)检测的距离等于所述弦长,否则在小于弦长时,驱使移动挡板(3)相对固定挡板(2)远离直至测距传感器一(5)检测的距离等于所述弦长,而在等于弦长时,不需要移动挡板(3)移动;所述磁瓦凸面的缺陷判定方法还包括以下步骤:步骤S1,判断测距传感器二(14)检测的距离是否等于一个预设距离一;在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离一时,伸缩件一(7)的中心线穿过至位于定位组件(4)上的磁瓦(34)的中心;在测距传感器二(14)检测的距离不等于所述预设距离一时,执行步骤S2,通过所述传输组件一驱使伸缩件一(7)移动,直至测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离一;在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离一时,执行步骤S3,先驱使伸缩件一(7)伸出,再启动电磁铁一(6)以吸附位于定位组件(4)上的磁瓦(34),最后驱使伸缩件一(7)收缩;步骤S4,通过所述传输组件一驱使伸缩件一(7)移动,直至测距传感器二(14)检测的距离等于一个预设距离二;在测距传感器二(14)检测的距离等于所述预设距离二时,伸缩件一(7)的中心线穿过至所述检测曲面一的中心;步骤S5,先驱使伸缩件一(7)伸出,使磁瓦(34)抵在所述检测曲面一上,再驱使伸缩件
一(7)收缩;其中,在所有探针一(9)均同时触发对应的触压开关一时,判定磁瓦(34)的凸面不存在缺陷,在部分探针一(9)提前触发对应的触压开关一或者延后触...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐睿,何进,陈益民,
申请(专利权)人:安徽万磁电子有限公司,
类型:发明
国别省市:
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