一种Nandflash自动测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种Nand flash自动测试设备，包括主体，所述主体的前端外表面设置有触摸控制装置，所述主体的上端外表面设置有检测柜，所述检测柜的两侧内表面设置有温控装置，所述温控装置的下端内表面设置有接触检测装置。本实用新型专利技术所述的一种Nand flash自动测试设备，通过设置的接触检测装置、固定盖、按压块、检测块、检测点、磁吸固定环和传输装置，有利于对Nand flash起到固定作用并对其接触点进行检测，通过设置的温控装置、排热器、半导体制冷片、导热硅脂层、导热板和电流转换控制器，有利于检测Nand flash在不通过温度的情况下的读写速度和耐热性，此设备不但结构简单，而且操作方便，带来更好的使用前景。带来更好的使用前景。带来更好的使用前景。

【技术实现步骤摘要】
一种Nand flash自动测试设备


[0001] 本技术涉及储存装置测试领域，特别涉及一种Nand flash自动测试设备。

技术介绍

[0002]Nand
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flash内存是flash内存的一种，其内部采用非线性宏单元模式，为固态大容量内存的实现提供了廉价有效的解决方案，Nand
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flash存储器具有容量较大，改写速度快等优点，适用于大量数据的存储，因而在业界得到了越来越广泛的应用，如嵌入式产品中包括数码相机、MP3随身听记忆卡、体积小巧的U盘等，在Nand
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flash是在使用前要对其进行测试，但现有的Nand flash自动测试设备无法满足人们的需求。
[0003]目前，申请号CN202020585189.6的中国专利公开了了一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，使用时新型无法对Nand flash进行温差测试，同时固定方式在安装和拆卸时比较繁琐，为此，我们提出一种Nand flash自动测试设备。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Nand flash自动测试设备，包括主体（1），其特征在于：所述主体（1）的前端外表面设置有触摸控制装置（2），所述主体（1）的上端外表面设置有检测柜（3），所述检测柜（3）的两侧内表面设置有温控装置（5），所述温控装置（5）的下端内表面设置有接触检测装置（4），所述接触检测装置（4）包括固定盖（401）、按压块（402）、检测块（403）、检测点（404）、磁吸固定环（405）和传输装置（406）。2.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述固定盖（401）的下端外表面设置有按压块（402），所述按压块（402）的下端外表面设置有检测块（403），所述检测块（403）的下端内表面设置有检测点（404），所述检测块（403）的四周外表面设置有磁吸固定环（405），所述检测块（403）的下端外表面设置有传输装置（406）。3.根据权利要求1所述的一种Nand flash自动测试设备，其特征在于：所述固定盖（401）与按压块（402）之间设置有固定槽和复位弹簧，所述固定盖（401）的上端内表面通过固定槽和复位弹簧与按压块（402）的上端外表面可拆卸连接，所述检测块（403）与检测点（404）之间设置有检测板和安装槽，所述检测块（403）的下端内表面通过检测板和安装槽与检测点（404）的外壁固定连接，所述固定盖（401）与检测块（403）之间设置有磁吸环，所述固定盖（401）的下端外表面通过磁吸环和磁吸固定环（405）与检测块（403）的上端外表面可拆卸连接，所述检测点（404）和传输装置（406）电性连接。4.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘武，
申请(专利权)人：深圳市武迅科技有限公司，
类型：新型
国别省市：