一种测试电路制造技术

本申请提供一种测试电路，包括：校准环路，该校准环路用于根据接收的第一电压或电流信号生成对应的校准信号，以及用于与测量设备进行连接，使得测量设备根据校准信号生成第一测量结果；测试单元，该测试单元与校准环路电连接，以用于向校准环路输出第一电压或电流信号以及采样校准信号；以及，用于与待测试存储器连接，以对待测试存储器进行测试；一控制器，其与测试单元电连接，以用于控制测试单元输出电压或电流信号；接收测试单元采样的校准信号，根据测试单元采样的校准信号生成对应的第二测量结果；以及，用于与测量设备连接，以接收第一测量结果，根据第一测量结果对第二测量结果对进行修正校准。对进行修正校准。对进行修正校准。

【技术实现步骤摘要】
一种测试电路


[0001]本申请涉及存储器测试
，具体而言，涉及一种测试电路。

技术介绍

[0002]超大规模集成电路存储器的测试设备是集成电路行业非常重要的一环，存储产品的多样化会带来不同的设计需求与特点，而目前的存储器测试设备的测试单元在进行测试时，测试单元由于各种原因可能存在测量不准确的情况，而目前不存在对测试单元进行校准的方案，因而在测试单元无法进行校准的情况下存在着对待测器件的测试结果不准确的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的目的在于提供一种测试电路，用以解决目前存储器测试设备的测试单元无法进行测量结果校准带来的测量结果不准确的问题。
[0004]本申请提供一种测试电路，所述测试电路包括：校准环路，所述校准环路用于根据接收的第一电压或电流信号生成对应的校准信号，以及用于与测量设备进行连接，使得所述测量设备根据所述校准信号生成第一测量结果；测试单元，所述测试单元与所述校准环路电连接，以用于向所述校准环路输出所述第一电压或电流信号以及采样所述校准信号；以及，用于与待测试存储器连接，以对待测试存储器进行测试；一控制器，其与所述测试单元电连接，以用于控制所述测试单元输出所述电压或电流信号；接收所述测试单元采样的所述校准信号，根据所述测试单元采样的所述校准信号生成对应的第二测量结果；以及，用于与所述测量设备连接，以接收所述第一测量结果，根据所述第一测量结果对所述第二测量结果对进行修正校准。
[0005]在上述设计的测试电路中，通过控制器控制测试单元向校准环路传输第一电压或电流信号使得校准环路生成对应的校准信号，然后一方面通过测量设备测量校准环路生成的校准信号得到第一测量结果，另一方面通过测试单元采样校准环路生成的校准信号传输给控制器得到第二测量结果，最终根据更加精确的第一测量结果对第二测量结果对进行修正校准，使得修正校准后的测试单元在后续对待测试存储器进行测试时，得到的测试结果更加准确。
[0006]在本实施例的可选实施方式中，所述测试单元为M个，所述校准环路为一个，所述M个测试单元与所述校准环路电连接，以用于依次向所述校准环路输出对应的电压或电流信号以及采样对应的校准信号，其中M为大于1的正整数；所述控制器与每一所述测试单元电连接，以用于依次控制所述M个测试单元输出对应的电压或电流信号，接收每一测试单元采样的校准信号并根据每一测试单元采样的所述校准信号生成每一测试单元对应的第二测量结果；以及，依次根据每一测试单元对应的第一测量结果对每一测试单元对应的第二测量结果对进行修正校准。
[0007]在上述设计的实施方式中，通过将测试单元设计成多个，并采用一个校准环路对
多个测试单元依次进行校准，进而实现对多个测试单元进行校准的基础上，达到节约成本的目的。
[0008]在本实施例的可选实施方式中，所述测试单元包括M个，所述校准环路为M个，每一所述测试单元与一校准环路电连接，每一所述测试单元用于向对应的校准环路输出电压或电流信号以及采样对应的校准信号，其中M为大于1的正整数；所述控制器与每一所述测试单元电连接，以用于依次控制所述M个测试单元输出对应的电压或电流信号，接收每一测试单元采样的校准信号并根据每一测试单元采样的所述校准信号生成每一测试单元对应的第二测量结果；以及，依次根据每一测试单元对应的第一测量结果对每一测试单元对应的第二测量结果对进行修正校准。
[0009]在上述设计的实施方式中，通过给每一测试单元对应设计一个校准环路，进而使得在测试单元具有多个时，多个测试单元的校准可同时进行，进而提高多个测试单元的校准效率。
[0010]在本实施例的可选实施方式中，每一所述测试单元包括DPS芯片、第一采样信号线和传输信号线，所述DPS芯片通过所述传输信号线与对应的校准环路的输入端连接，以向所述校准环路的输入端输入对应的电压或电流信号；所述DPS芯片通过所述第一采样信号线与对应的校准环路的输出端连接，以对所述校准环路生成的校准信号进行采样，得到所述校准信号。其中，该DPS芯片指的是可编程器件电源（Programmable device power supply，DPS）芯片。
[0011]在本实施例的可选实施方式中，所述测试电路还包括N个第一模数转换单元，每一第一模数转换单元的输入端与X个DPS芯片连接，所述第一模数转换单元用于将对应连接的DPS芯片采样的校准信号转换为对应的第一数字信号，其中，M=N*X；所述N个第一模数转换单元的输出端与所述控制器电连接，以向所述控制器发送转换的第一数字信号，使得所述控制器根据接收的第一数字信号生成对应的第二测量结果。
[0012]在本实施例的可选实施方式中，每一所述测试单元还包括第一可控开关，所述第一可控开关的输入端与所述DPS芯片连接，所述第一可控开关的输出端与所述传输信号线和第一采样信号线连接，所述第一可控开关的控制端接入一第一控制信号，以用于根据所述第一控制信号闭合或断开传输信号线和第一采样信号线与所述DPS芯片之间的连接。
[0013]在本实施例的可选实施方式中，每一所述测试单元用于与一待测试存储器电连接，以向所述待测试存储器输入一第二电压或电流信号，以及用于对所述待测试存储器输出的输出信号进行采样得到采样信号；所述控制器，还用于根据测试单元发送的采样信号生成对应的测试结果。
[0014]在本实施例的可选实施方式中，每一所述测试单元包括DPS芯片、测试信号线和第二采样信号线，所述DPS芯片通过所述测试信号线与待测试存储器的输入端连接，以向所述待测试存储器的输入端输入第二电压或电流信号；所述DPS芯片通过所述第二采样信号线与所述待测试存储器的输出端连接，以对所述待测试存储器输出的输出信号进行采样得到采样信号。
[0015]在本实施例的可选实施方式中，所述测试电路还包括N个第二模数转换单元，每一第二模数转换单元的输入端连接X个DPS芯片，所述第二模数转换单元用于将对应连接的DPS芯片采样的采样信号转换为对应的第二数字信号，其中，M=N*X；所述N个第二模数转换
单元的输出端与所述控制器电连接，以向所述控制器发送转换的第二数字信号，使得所述控制器根据接收的第二数字信号生成对应的测试结果。
[0016]在本实施例的可选实施方式中，所述测试单元还包括第二可控开关，所述第二可控开关的输入端与所述DPS芯片连接，所述第二可控开关的输出端与所述测试信号线和第二采样信号线连接，所述第二可控开关的控制端接入一第二控制信号，以用于根据所述第二控制信号闭合或断开测试信号线和第二采样信号线与所述DPS芯片之间的连接。
[0017]在上述设计的实施方式中，通过设计多个测试单元并通过控制器控制多个测试单元同时对多个待测试存储器进行测试，使得在对多个待测试存储器进行测试的效率显著提高。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路包括：校准环路，所述校准环路用于根据接收的第一电压或电流信号生成对应的校准信号，以及用于与测量设备进行连接，使得所述测量设备根据所述校准信号生成第一测量结果；测试单元，所述测试单元与所述校准环路电连接，以用于向所述校准环路输出所述第一电压或电流信号以及采样所述校准信号；以及，用于与待测试存储器连接，以对待测试存储器进行测试；一控制器，其与所述测试单元电连接，以用于控制所述测试单元输出所述电压或电流信号；接收所述测试单元采样的所述校准信号，根据所述测试单元采样的所述校准信号生成对应的第二测量结果；以及，用于与所述测量设备连接，以接收所述第一测量结果，根据所述第一测量结果对所述第二测量结果对进行修正校准。2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试单元为M个，所述校准环路为一个，M个测试单元与所述校准环路电连接，以用于依次向所述校准环路输出对应的电压或电流信号以及采样对应的校准信号，其中M为大于1的正整数；所述控制器与每一所述测试单元电连接，以用于依次控制所述M个测试单元输出对应的电压或电流信号，接收每一测试单元采样的校准信号并根据每一测试单元采样的所述校准信号生成每一测试单元对应的第二测量结果；以及，依次根据每一测试单元对应的第一测量结果对每一测试单元对应的第二测量结果对进行修正校准。3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试单元包括M个，所述校准环路为M个，每一所述测试单元与一校准环路电连接，每一所述测试单元用于向对应的校准环路输出电压或电流信号以及采样对应的校准信号，其中M为大于1的正整数；所述控制器与每一所述测试单元电连接，以用于依次控制M个测试单元输出对应的电压或电流信号，接收每一测试单元采样的校准信号并根据每一测试单元采样的所述校准信号生成每一测试单元对应的第二测量结果；以及，依次根据每一测试单元对应的第一测量结果对每一测试单元对应的第二测量结果对进行修正校准。4.根据权利要求2或3所述的测试电路，其特征在于，每一所述测试单元包括DPS芯片、第一采样信号线和传输信号线，所述DPS芯片通过所述传输信号线与对应的校准环路的输入端连接，以向所述校准环路的输入端输入对应的电压或电流信号；所述DPS芯片通过所述第一采样信号线与对应的校准环路的输出端连接，以对所述校准环路生成的校准信号进行采样，得到所述校准信号。5.根据权利要求4所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：曹圭大，郑硕颧，朴英斗，薛如军，宋秀良，王福同，
申请(专利权)人：合肥悦芯半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：