具有用于错误校正的状态反馈的存储器装置制造方法及图纸

描述针对具有用于错误校正的状态反馈的存储器装置的方法、系统和装置。例如，在读取操作期间，存储器装置可对从所述存储器装置的存储器阵列读取的第一数据执行错误校正操作。所述错误校正操作可生成第二数据和对应于所述第二数据的错误状态的指示符。在一个实例中，所述指示符可指示多个可能错误状态中的一个。在另一实例中，所述指示符可指示经校正错误或无可检测错误。所述存储器装置可在相同突发间隔期间输出所述第一或第二数据和所述错误状态的所述指示符。所述存储器装置可在第一信道上输出所述数据，并在第二信道上输出所述错误状态的所述指示符。状态的所述指示符。状态的所述指示符。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】具有用于错误校正的状态反馈的存储器装置
[0001]交叉引用
[0002]本专利申请要求沙佛(SCHAEFER)等人于2020年6月10日提交的标题为“具有用于错误校正的状态反馈的存储器装置(MEMORY DEVICE WITH STATUS FEEDBACK FOR ERROR CORRECTION)”的第16/898,354号美国专利申请和沙佛等人于2019年6月17日提交的标题为“具有用于错误校正的状态反馈的存储器装置(MEMORY DEVICE WITH STATUS FEEDBACK FOR ERROR CORRECTION)”的第62/862,254号美国临时专利申请的优先权，所述申请中的每一者转让给本受让人，且所述申请中的每一者以引用的方式明确并入本文中。

技术介绍

[0003]下文大体上涉及一种包含至少一个存储器装置的系统，且更确切地说，涉及具有用于错误校正的状态反馈的存储器装置。
[0004]存储器装置广泛用于将信息存储在例如计算机、无线通信装置、相机、数字显示器等各种电子装置中。通过编程存储器装置的不同状态来存储信息。例如，二本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种方法，其包括：在包括存储器阵列的存储器装置处从主机装置接收读取命令；至少部分地基于所述读取命令，读取所述存储器阵列的第一数据；对所述第一数据执行错误校正操作以获得第二数据和所述第二数据中的错误状态的指示符；以及在突发间隔期间，使用所述存储器装置的第一信道向所述主机装置输出所述第一数据或所述第二数据中的一个，并使用所述存储器装置的不同于所述第一信道的第二信道向所述主机装置输出所述错误状态的所述指示符，其中所述指示符指示至少三个错误状态中的一个。2.根据权利要求1所述的方法，其中所述突发间隔包括多个循环，所述方法进一步包括：使用所述存储器装置的所述第一信道在所述多个循环内输出所述第一数据或所述第二数据；以及使用所述存储器装置的不同于所述第一信道的所述第二信道在所述多个循环的第一部分内输出所述错误状态的所述指示符。3.根据权利要求2所述的方法，其进一步包括：使用所述第二信道在所述多个循环的第二部分内输出链路错误校正码。4.根据权利要求3所述的方法，其中所述多个循环的所述第二部分出现在所述多个循环的所述第一部分之前。5.根据权利要求2所述的方法，其中所述第二信道与所述第一信道的阻抗校准相关联。6.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：连续进行所述第一数据或所述第二数据的输出和所述错误状态的所述指示符的输出。7.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：至少部分地基于执行所述错误校正操作，将所述错误状态的所述指示符存储在所述存储器装置处的寄存器中。8.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少三个错误状态包括无可检测错误、经校正错误或别名错误。9.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少三个错误状态包括无可检测错误、经校正错误或未校正错误。10.根据权利要求1所述的方法，其中所述至少三个错误状态包括无可检测错误、经校正单位错误、经检测双位错误、经校正三位错误、经检测三位未校正错误、经校正奇数错误、经检测奇数未校正错误、经校正偶数错误或经检测偶数未校正错误。11.一种方法，其包括：在包括存储器阵列的存储器装置处从主机装置接收读取命令；至少部分地基于所述读取命令，读取所述存储器阵列的第一数据；对所述第一数据执行错误校正操作以获得第二数据和所述第二数据中的错误状态的指示符，其中所述指示符指示经校正错误或无可检测错误；以及在突发间隔期间，使用第一信道向所述主机装置输出所述第一数据或所述第二数据中的一个，并使用第二信道向所述主机装置输出所述错误状态的所述指示符。<...

【专利技术属性】
技术研发人员：S，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：