振动计及振动的检测方法技术

振动计能够对具有载置面的振动体在水平的规定方向上的振动进行检测。振动计具有旋转体和陀螺仪传感器。旋转体在外表面包含在沿规定的轴的方向观察时向外侧鼓出的曲面，通过以使规定的轴与规定方向交叉的方式使曲面与载置面接触，从而能够在载置面上沿规定方向转动。陀螺仪传感器固定于旋转体，能够检测绕规定的轴的角速度。在沿规定的轴的方向观察时，曲面呈如下形状：越是沿着曲面远离曲面内的基准部的曲面的部位，距旋转体及与旋转体一起转动的构件整体的重心的距离越长。动的构件整体的重心的距离越长。动的构件整体的重心的距离越长。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】振动计及振动的检测方法


[0001]本专利技术涉及能够检测振动的振动计及振动的检测方法。

技术介绍

[0002]已知有将振动作为物理量进行检测的振动计(参照下述的专利文献1)。振动计例如包括陀螺仪传感器，基于该陀螺仪传感器检测出的角速度对振动有关的物理量进行检测。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2019－056652号公报

技术实现思路

[0006]本专利技术的一个实施方式的振动计是能够对具有载置面的振动体在水平的规定方向上的振动进行检测的振动计。所述振动计具有旋转体和陀螺仪传感器。所述旋转体在外表面包含在沿规定的轴的方向观察时向外侧鼓出的曲面，通过以使所述规定的轴与所述规定方向交叉的方式使所述曲面与所述载置面接触，从而能够在所述载置面上沿所述规定方向转动。所述陀螺仪传感器固定于所述旋转体，且能够检测绕所述规定的轴的角速度。在沿所述规定的轴的方向观察时，所述曲面呈如下形状：越是沿着所述曲面远离所述曲面内的基准部的所述曲面的部位，距所述旋转体及与所述旋转体一起转动的构件整体的重心的距离越长。
[0007]本专利技术的一个实施方式的振动计具有：支承体、旋转体、陀螺仪传感器、以及限位部。所述旋转体以能够绕规定的旋转轴旋转的方式支承于所述支承体，在沿着所述旋转轴的方向观察时，所述旋转体及与所述旋转体一起旋转的构件整体的重心远离所述旋转轴。所述陀螺仪传感器固定于所述旋转体，且能够检测绕所述旋转轴的角速度。所述限位部将所述旋转体的能够旋转的角度范围限制为小于135度。
[0008]本专利技术的一个实施方式的振动计具有：支承体、旋转体、陀螺仪传感器、限位部、以及运算部。旋转体以能够绕规定的旋转轴旋转的方式支承于所述支承体，在沿着所述旋转轴的方向观察时，所述旋转体及与所述旋转体一起旋转的构件整体的重心远离所述旋转轴。所述陀螺仪传感器固定于所述旋转体，且能够检测绕所述旋转轴的角速度。所述限位部对所述旋转体的能够旋转的角度范围进行限制。所述运算部根据所述陀螺仪传感器检测出的角速度，来计算所述旋转体的规定部分在规定方向上位移的速度。在沿着所述旋转轴的方向观察时，所述角度范围以与所述规定方向正交且通过所述旋转轴的直线为基准是非对称的。
[0009]本专利技术的一个实施方式的振动的检测方法是通过将振动计固定于能够沿着铅垂方向振动的振动体来检测所述振动体的振动的检测方法。所述振动计具有：支承体、旋转体、陀螺仪传感器、以及下部限位部。所述旋转体以能够绕规定的旋转轴旋转的方式支承于
所述支承体，在沿着所述旋转轴的方向观察时，所述旋转体及与所述旋转体一起旋转的构件整体的重心远离所述旋转轴。所述陀螺仪传感器固定于所述旋转体，且能够检测绕所述旋转轴的角速度。所述下部限位部通过所述旋转体的前端进行向下方位移的旋转而与所述旋转体接触，抑制所述旋转体的所述前端到达所述旋转轴的正下方，并且限制所述旋转体的旋转。
[0010]本专利技术的一个实施方式的振动计具有：第一弹性体、旋转体、第二弹性体、以及陀螺仪传感器。所述第一弹性体具有从第一端到第二端的长度，在从所述第一端到所述第二端之间卷绕成螺旋状。所述旋转体固定于所述第一弹性体的所述第二端。所述第二弹性体具有从第三端到第四端的长度，所述第三端固定于所述旋转体。所述陀螺仪传感器固定于所述旋转体，且能够检测绕沿着从所述第一端向所述第四端的方向延伸的旋转轴的角速度。所述第二弹性体在从所述第三端到所述第四端之间卷绕成与所述第一弹性体相反朝向的螺旋状。所述第二弹性体的所述第四端能够相对于所述第一弹性体的所述第一端位移。
[0011]本专利技术的一个实施方式的振动计具有：固定于振动体的支承体、被所述支承体支承旋转体、以及固定于所述旋转体且能够检测角速度的陀螺仪传感器。所述支承体具有在铅垂方向上挠曲的挠性，并且能够经由所述挠曲使所述旋转体旋转。
附图说明
[0012]图1是第一实施方式的振动计的剖视图。
[0013]图2的(a)是示出在载置面以基准状态立起的旋转体的图，图2的(b)是示出振动体向右方向移动时的旋转体的状态的图，图2的(c)是示出振动体向左方向移动时的旋转体的状态的图。
[0014]图3是图1所示的检测体的分解立体图。
[0015]图4是图3中的IV－IV线剖视图。
[0016]图5的(a)是示出在图3中的第一陀螺仪传感器的Va－Va线剖视图中，第一陀螺仪传感器与控制部的关系的图，图5的(b)是示出在图3中的第二陀螺仪传感器的Vb－Vb线剖视图中，第二陀螺仪传感器与控制部的关系的图。
[0017]图6的(a)是示出第二实施方式的振动体的图，图6的(b)是示出图6的(a)中的VIb部分的立体图。
[0018]图7是图6中的VII－VII线剖视图。
[0019]图8的(a)是示出处于基准状态的旋转体的图，图8的(b)是示出以支承体为轴旋转的旋转体的图，图8的(c)是示出返回到基准状态的旋转体的图。
[0020]图9是图8所示的检测体的分解立体图。
[0021]图10是示出在图9中的陀螺仪传感器的X－X线剖视图中，陀螺仪传感器与控制部的关系的图。
[0022]图11是第三实施方式的振动计的剖视图。
[0023]图12的(a)是示出处于基准状态的旋转体的图，图12的(b)是示出绕逆时针旋转的旋转体的图，图12的(c)是示出绕顺时针旋转的旋转体的图。
[0024]图13是图11所示的检测体的分解立体图。
[0025]图14是示出图11所示的陀螺仪传感器与控制部的关系的图。
[0026]图15的(a)是第四实施方式的振动计的剖面，图15的(b)是图15的(a)中的XV放大图。
[0027]图16的(a)是示出处于基准状态的旋转体的图，图16的(b)是示出绕逆时针旋转的旋转体的图，图16的(c)是示出绕顺时针旋转的旋转体的图。
具体实施方式
[0028]以下，使用附图对本专利技术的实施方式进行说明。在此，附图所标注的正交坐标系XYZ是绝对坐标系。X轴及Y轴在原点正交，并且分别从原点沿水平方向延伸。Z轴从原点沿铅垂方向延伸。
[0029]进而，为了容易理解专利技术，确定前后左右上下。左右是指以X轴的正侧为右侧，沿着X轴的方向。前后是指以Y轴的正侧为前侧，沿着Y轴的方向。上下是指沿着铅垂方向的方向。“沿着”规定方向的“方向”例如可以为与规定方向平行的方向(以下相同。)。
[0030][第一实施方式][0031](振动计)
[0032]参照图1。图1所示的振动计10主要载置于在水平方向(规定方向)上振动的振动体Vi的载置面Pi。图1所示的振动计10能够对在水平方向上振动的振动体Vi的位移、速度、加速度和/或加加速度等物理量进行检测。由振动计10检测出的物理量例如被输入到外部的设备，并显示于外部的设备所具有的显示器等。由振动计10检测出的物理量也可以显示于振动计10所具有的显示器等。由此，测量者本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种振动计，其能够对具有载置面的振动体在水平的规定方向上的振动进行检测，其中，所述振动计具有：旋转体，其在外表面包含在沿规定的轴的方向观察时向外侧鼓出的曲面，通过以使所述规定的轴与所述规定方向交叉的方式使所述曲面与所述载置面接触，从而能够在所述载置面上沿所述规定方向转动；以及陀螺仪传感器，其固定于所述旋转体，且能够检测绕所述规定的轴的角速度，在沿所述规定的轴的方向观察时，所述曲面呈如下形状：越是沿着所述曲面远离所述曲面内的基准部的所述曲面的部位，距所述旋转体及与所述旋转体一起转动的构件整体的重心的距离越长。2.根据权利要求1所述的振动计，其中，所述陀螺仪传感器位于所述旋转体的内部。3.根据权利要求1或2所述的振动计，其中，在沿所述规定的轴的方向观察时，所述陀螺仪传感器与从所述基准部朝向所述重心的方向上的所述旋转体的中间位置相比，远离所述基准部。4.根据权利要求1至3中任一项所述的振动计，其中，在沿所述规定的轴的方向观察时，所述曲面至少在包含所述基准部的一部分中曲率恒定。5.一种振动计，其中，所述振动计具有：支承体；旋转体，其以能够绕规定的旋转轴旋转的方式支承于所述支承体，在沿着所述旋转轴的方向观察时，所述旋转体及与所述旋转体一起旋转的构件整体的重心远离所述旋转轴；陀螺仪传感器，其固定于所述旋转体，且能够检测绕所述旋转轴的角速度；以及限位部，其将所述旋转体的能够旋转的角度范围限制为小于135度。6.一种振动计，其中，所述振动计具有：支承体；旋转体，其以能够绕规定的旋转轴旋转的方式支承于所述支承体，在沿着所述旋转轴的方向观察时，所述旋转体及与所述旋转体一起旋转的构件整体的重心远离所述旋转轴；陀螺仪传感器，其固定于所述旋转体，且能够检测绕所述旋转轴的角速度；限位部，其对所述旋转体的能够旋转的角度范围进行限制；以及运算部，其根据所述陀螺仪传感器检测出的角速度，来计算所述旋转体的规定部分在规定方向上位移的速度，在沿着所述旋转轴的方向观察时，所述角度范围以与所述规定方向正交且通过所述旋转轴的直线为基准是非对称的。7.一种振动的检测方法，其是通过将振动计固定于能够沿着铅垂方向振动的...

【专利技术属性】
技术研发人员：副岛宗高，高浪俊，
申请(专利权)人：京瓷株式会社，
类型：发明
国别省市：