一种主轴锥面的测量工具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种主轴锥面的测量工具，其包括环规本体、两个立柱、上测量杆和下测量杆；本实用新型专利技术的测量工具，采用相对测量的方法，测量并对比被测件与标准件的差值，从而测出被测件的主轴的大端直径和锥度值；其一方面可以在线检测主轴的锥面，无需将主轴取下，不用频繁上下工件，提高了生产效率，也避免了工件的重复定位误差；另一方面，测量工具的环规本体的内径大于主轴的大端直径，在测量时，环规本体的内壁面与主轴的锥面不接触，避免了环规本体的磨损；再一方面，上测量杆和下测量杆可以对主轴锥面的两处位置同时进行测量，可以直接且直观地获得检测结果，降低重复测量导致的系统误差和人为误差。致的系统误差和人为误差。致的系统误差和人为误差。

【技术实现步骤摘要】
一种主轴锥面的测量工具


[0001]本技术涉及一种主轴锥面的测量工具，属于机械零件测量


技术介绍

[0002]在机械制造行业中，机床(例如数控机床)是重要的机械加工设备，应用广泛。现有技术对于机床的零部件，特别像主轴这样的关键零部件的精度要求越来越严格。
[0003]主轴的生产加工中，需要控制主轴的锥面的大端直径尺寸和锥面的角度。过去的传统方法是使用一个内径与被测工件参数一致的锥面环规对其进行研色检查，并测量环规底面与主轴锥面大端面的距离来实现角度和尺寸的测量；简单来说，就是先在环规内锥面涂上红丹粉，检测锥面的接触面积，然后用游标卡尺的测量环规端面到主轴锥面的距离，通过人工计算出主轴的锥面大端直径尺寸。该方法无法在加工机床上进行在线检测，而且每次检测都需要把工件从机床上卸下才能检测，而且环规的磨损情况会影响到检测结果；此外，研色检查还与检验人员的手法及技能水平有一定的关系，误差比较打，且不易量化，容易影响判定结果以及生产效率。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本技术一方面提供了一种主轴锥面的测量工具，其中，所述测量工具包括：
[0005]环规本体，其内径大于所述主轴的大端直径；
[0006]两个立柱，所述两个立柱对称地设置于所述环规本体的上表面，且与所述环规本体的中心轴平行；以及，
[0007]设置在所述两个立柱上的上测量杆和下测量杆；
[0008]所述上测量杆和下测量杆，相对于各自的立柱垂直地设置且横向移动。
[0009]优选的，所述测量工具包括两个下测量杆，它们分别对称地设置在所述两个立柱上，其中一个所述下测量杆上安装有直径测量表；所述测量工具还包括一个上测量杆，其设置于其中一个立柱上，且安装有角度测量表。
[0010]优选的，所述的两个下测量杆为测量时的固定支点。
[0011]优选的，所述直径测量表和所述角度测量表均为千分表。
[0012]本技术提供了一种主轴锥面的测量工具，其包括环规本体、两个立柱、上测量杆和下测量杆；本技术的测量工具，采用相对测量的方法，测量并对比被测件与标准件的差值，从而测出被测件的主轴的大端直径和锥度值；其一方面可以在线检测主轴的锥面，无需将主轴取下，不用频繁上下工件，提高了生产效率，也避免了工件的重复定位误差；另一方面，测量工具的环规本体的内径大于主轴的大端直径，在测量时，环规本体的内壁面与主轴的锥面不接触，避免了环规本体的磨损；再一方面，上测量杆和下测量杆可以对主轴锥面的两处位置同时进行测量，可以直接且直观地获得检测结果(被测件的主轴的大端直径和锥度值)，降低重复测量导致的系统误差和人为误差。
附图说明
[0013]图1为本技术实施例1的测量工具在测量标准件或被测工件时的剖视示意图；
[0014]图2为本技术实施例1的测量工具在测量标准件或被测工件时的俯视图。
具体实施方式
[0015]以下将结合附图所示的具体实施方式对本技术进行详细描述。但这些实施方式并不限制本技术，本领域的普通技术人员根据这些实施方式所做出的结构、方法、或功能上的变换均包含在本技术的保护范围内。
[0016]现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施方式；相反，提供这些实施方式使得本技术将全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的结构，因而将省略对它们的重复描述。
[0017]所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本技术的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员应意识到，没有特定细节中的一个或更多，或者采用其它的方法、组元、材料等，也可以实践本技术的技术方案。在某些情况下，不详细示出或描述公知结构、材料或者操作以避免模糊本技术。
[0018]实施例1
[0019]如图1和2所示，本技术的实施例1提供了一种用于测量主轴锥面的测量工具，其包括环规本体10、两个立柱20、上测量杆30和下测量杆40。
[0020]环规本体10，在测量时套在主轴1上；一般来说，在测量时，将主轴端部的锥面部分和主轴圆柱部分(图中未示出)的分界面作为基准面Z，环规本体10套在主轴1上，并且使环规本体10的底端面与基准面Z重合，环规本体10的中心轴X与主轴1的中心轴重合；如图1和2所示。
[0021]在本技术的一个具体实施方案中，环规本体10的内径大于主轴1的大端直径D；两个立柱20对称地设置于环规本体10的上表面，且与环规本体10的中心轴X平行；上测量杆30和下测量杆40，相对于各自的立柱20垂直地设置且横向移动。
[0022]采用上述结构的测量工具100，一方面可以在线检测主轴1的锥面，无需将主轴1取下，不用频繁上下工件，提高了生产效率，也避免了工件的重复定位误差；另一方面，环规本体10的内径大于主轴1的大端直径D，在测量时，环规本体10的内壁面与主轴1的锥面不接触，避免了环规本体10的磨损；再一方面，上测量杆30和下测量杆40可以对主轴锥面的两处位置同时进行测量，可以直接且直观地获得检测结果，降低重复测量导致的系统误差和人为误差。
[0023]具体在本实施例中，如图1和2所示，测量工具100包括两个下测量杆40，它们分别对称地设置在两个立柱20上，其中一个下测量杆40上安装有直径测量表41；测量工具100还包括一个上测量杆30，其设置于其中一个立柱20上，且安装有角度测量表31。
[0024]实际的检测步骤如下：
[0025]步骤1)，首先准备一个标准件，其经过鉴定，具有标准的大端尺寸和锥面角度，符合工艺要求或者误差可忽略不计；
[0026]步骤2)，如图1和2所示，将本技术的测量工具100套在标准件上，使环规本体10的底面与基准面Z(标准件的测量基准面)重合，使环规本体10的中心轴X与标准件的中心轴重合；再调节上测量杆30和两个下测量杆40在各自的立柱20上横向移动直至与标准件的锥面相抵；此时，将角度测量表31和直径测量表41归零(调至“0”)；
[0027]步骤3)，如图1和2所示，再将经步骤2)校准归零的测量工具100套在被测主轴1工件上，使环规本体10的中心轴X与主轴1的中心轴重合，使环规本体10的底面与基准面Z重合(可以在主轴上套一个限位件，环规本体10的底面支承于限位件的上表面，从而使得环规本体10的底面与基准面Z重合)，再观察角度测量表31和直径测量表41；
[0028]若直径测量表41往“+”方向偏移，则说明被测工件的大端直径尺寸比标准件的大端直径尺寸大，若往
“‑”
方向偏移，则说明被测工件的大端直径尺寸比标准件的大端直径尺寸小；具体数值可根据的偏移量可以计算得出。
[0029]若角度测量表31往“+”方向偏移，则说本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种主轴锥面的测量工具，其特征在于，所述测量工具包括：环规本体，其内径大于所述主轴的大端直径；两个立柱，所述两个立柱对称地设置于所述环规本体的上表面，且与所述环规本体的中心轴平行；以及，设置在所述两个立柱上的上测量杆和下测量杆；所述上测量杆和下测量杆，相对于各自的立柱垂直地设置且横向移动。2.如权利要求1所述的测量工具，其特征在于：所述测量工具...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷树德，
申请(专利权)人：上海法音机电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：