探针校准方法和装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种探针校准方法和装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取探针位于第一预设校准位的第一探针阻值和初始探针高度；根据第一探针阻值和初始探针高度，得到探针校准高度；获取探针位于第二预设校准位的第一探针坐标，获取相机位于第一探针坐标的第一相机坐标和第二相机坐标，并获取相机的中心点坐标；根据第一探针坐标、第一相机坐标、第二相机坐标和中心点坐标，得到第二探针坐标；根据探针校准高度和第二探针坐标，得到探针的校准坐标；根据校准坐标对探针进行校准处理。本申请实施例通过结合探针与相机的位置关系，计算出探针的校准坐标，通过校准坐标可以使探针精准移动并扎到设备的测试位置，进而提高测试的准确率。准确率。准确率。

【技术实现步骤摘要】
探针校准方法和装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及探针领域，尤其涉及一种探针校准方法和装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在制造相关电子设备的过程中，为了能确保每个PCB板和PCBA板电路及功能的稳定性，通常会使用探针测试设备来检测PCB板或PCBA板上的设备。其中，探针测试设备在测试过程中的扎针精度是基于探针针尖与模组之间的坐标关系来确定的，但是目前模组移动的坐标不准确，使得探针无法精确移动并扎到设备的测试位置，导致测试结果出现偏差。

技术实现思路

[0003]本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种探针校准方法和装置、电子设备及存储介质，能够保证探针精准地移动并扎到设备的测试位置，进而提高测试的准确率。
[0004]根据本申请的第一方面实施例的探针校准方法，包括：
[0005]获取探针位于第一预设校准位的第一探针阻值和初始探针高度；
[0006]根据所述第一探针阻值和所述初始探针高度，得到探针校准高度；
[0007]获取所述探针位于第二预设校准位的第一探针坐标，获取相机位于所述第一探针坐标的第一相机坐标和第二相机坐标，并获取所述相机的中心点坐标；
[0008]根据所述第一探针坐标、所述第一相机坐标、所述第二相机坐标和所述中心点坐标，得到第二探针坐标；
[0009]根据所述探针校准高度和所述第二探针坐标，得到所述探针的校准坐标；
[0010]根据所述校准坐标对所述探针进行校准处理。
[0011]根据本申请实施例的探针校准方法，至少具有如下有益效果：
[0012]获取探针位于第一预设校准位的第一探针阻值和初始探针高度；根据第一探针阻值和初始探针高度，得到探针校准高度；获取探针位于第二预设校准位的第一探针坐标，获取相机位于第一探针坐标的第一相机坐标和第二相机坐标，并获取相机的中心点坐标；根据第一探针坐标、第一相机坐标、第二相机坐标和中心点坐标，得到第二探针坐标；根据探针校准高度和第二探针坐标，得到探针的校准坐标；根据校准坐标对探针进行校准处理。本申请实施例通过结合探针与相机的位置关系，计算出探针的校准坐标，通过校准坐标可以使探针精准移动并扎到设备的测试位置，进而提高测试的准确率。
[0013]根据本申请的一些实施例，所述根据所述第一探针阻值和所述初始探针高度调整所述探针的高度，得到探针校准高度，包括：
[0014]获取第一预设阻值；
[0015]比较所述第一探针阻值和所述第二预设阻值之间的大小关系；
[0016]根据所述大小关系和所述初始探针高度，得到探针校准高度。
[0017]根据本申请的一些实施例，所述根据所述大小关系和所述初始探针高度，得到探
针校准高度，包括：
[0018]若所述第一探针阻值大于等于所述第一预设阻值，则根据所述初始探针高度和预设的第一调整高度，得到第一校准高度；
[0019]获取所述探针位于所述第一校准高度的第二探针阻值；
[0020]根据所述第一校准高度和所述第二探针阻值得到探针校准高度。
[0021]根据本申请的一些实施例，所述根据所述大小关系和所述初始探针高度，得到探针校准高度，还包括：
[0022]若所述第一探针阻值小于所述第一预设阻值，则根据所述第一校准高度和预设的第二调整高度，得到第二校准高度；
[0023]获取第二预设阻值，并获取所述探针位于所述第二校准高度的第三探针阻值；
[0024]比较所述第三探针阻值和所述第二预设阻值之间的大小关系；
[0025]根据所述大小关系和所述第二校准高度，得到探针校准高度。
[0026]根据本申请的一些实施例，所述根据所述大小关系和所述第二校准高度，得到探针校准高度，包括：
[0027]若所述第三探针阻值小于所述第二预设阻值，则根据所述第二校准高度和所述第二调整高度，得到第三校准高度；
[0028]获取所述探针位于所述第三校准高度的第四探针阻值；
[0029]根据所述第三校准高度和所述第四探针阻值，得到探针标准高度。
[0030]根据本申请的一些实施例，所述根据所述大小关系和所述第二校准高度，得到探针校准高度，包括：
[0031]若所述第三探针阻值大于等于所述第二预设阻值，则确定所述第三校准高度为探针校准高度。
[0032]根据本申请的一些实施例，所述根据所述第一探针坐标、所述第一相机坐标、所述第二相机坐标和所述中心点坐标，得到第二探针坐标，包括：
[0033]根据所述第一探针坐标和所述第一相机坐标，得到第一坐标差；
[0034]根据所述第二相机坐标和所述中心点坐标，得到第二坐标差；
[0035]根据所述第一坐标差和所述第二坐标差，得到第二探针坐标。
[0036]根据本申请第二方面实施例的探针校准装置，包括：
[0037]第一获取模块：用于获取探针位于第一预设校准位的第一探针阻值和初始探针高度；
[0038]高度调整模块：用于根据所述第一探针阻值和所述初始探针高度调整所述探针的高度，得到探针校准高度；
[0039]第二获取模块：用于获取所述探针位于第二预设校准位的第一探针坐标，获取相机位于所述第一探针坐标的第一相机坐标和第二相机坐标，并获取所述相机的中心点坐标；
[0040]第一计算模块：用于根据所述第一探针坐标、所述第一相机坐标、所述第二相机坐标和所述中心点坐标，得到第二探针坐标；
[0041]第二计算模块：用于根据所述探针校准高度和所述第二探针坐标，得到所述探针的校准坐标；
[0042]探针校准模块：用于根据所述校准坐标对所述探针进行校准处理。
[0043]根据本申请实施例的探针校准装置，至少具有如下有益效果：
[0044]第一获取模块获取探针位于第一预设校准位的第一探针阻值和初始探针高度；第二获取模块根据第一探针阻值和初始探针高度，得到探针校准高度；第三获取模块获取探针位于第二预设校准位的第一探针坐标，获取相机位于第一探针坐标的第一相机坐标和第二相机坐标，并获取相机的中心点坐标；第一计算模块根据第一探针坐标、第一相机坐标、第二相机坐标和中心点坐标，得到第二探针坐标；第二根据探针校准高度和第二探针坐标，得到探针的校准坐标；根据校准坐标对探针进行校准处理。本申请实施例通过结合探针与相机的位置关系，计算出探针的校准坐标，通过校准坐标可以使探针精准移动并扎到设备的测试位置，进而提高测试的准确率。
[0045]根据本申请的第三方面实施例的电子设备，包括：存储器和处理器，其中，存储器中存储有程序，程序被处理器执行时处理器用于执行：
[0046]本申请第一方面实施例的方法。
[0047]根据本申请的第四方面实施例的存储介质，存储介质为计算机可读存储介质，其特征在于，计算机可读存储有计算机程序，在计算机程序被计算机执行时，计算机用于执行：
[0048]本申请第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针校准方法，其特征在于，包括：获取探针位于第一预设校准位的第一探针阻值和初始探针高度；根据所述第一探针阻值和所述初始探针高度，得到探针校准高度；获取所述探针位于第二预设校准位的第一探针坐标，获取相机位于所述第一探针坐标的第一相机坐标和第二相机坐标，并获取所述相机的中心点坐标；根据所述第一探针坐标、所述第一相机坐标、所述第二相机坐标和所述中心点坐标，得到第二探针坐标；根据所述探针校准高度和所述第二探针坐标，得到所述探针的校准坐标；根据所述校准坐标对所述探针进行校准处理。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一探针阻值和所述初始探针高度调整所述探针的高度，得到探针校准高度，包括：获取第一预设阻值；比较所述第一探针阻值和所述第二预设阻值之间的大小关系；根据所述大小关系和所述初始探针高度，得到探针校准高度。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述大小关系和所述初始探针高度，得到探针校准高度，包括：若所述第一探针阻值大于等于所述第一预设阻值，则根据所述初始探针高度和预设的第一调整高度，得到第一校准高度；获取所述探针位于所述第一校准高度的第二探针阻值；根据所述第一校准高度和所述第二探针阻值得到探针校准高度。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述大小关系和所述初始探针高度，得到探针校准高度，还包括：若所述第一探针阻值小于所述第一预设阻值，则根据所述第一校准高度和预设的第二调整高度，得到第二校准高度；获取第二预设阻值，并获取所述探针位于所述第二校准高度的第三探针阻值；比较所述第三探针阻值和所述第二预设阻值之间的大小关系；根据所述大小关系和所述第二校准高度，得到探针校准高度。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述大小关系和所述第二校准高度，得到探针校准高度，包括：若所述第三探针阻值小于所述第二预设阻值，则根据所述第二校准高度和所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄亮，黄龙，邵勇锋，汪兴友，聂荣刚，
申请(专利权)人：深圳橙子自动化有限公司，
类型：发明
国别省市：