一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其包括用于向集成电路测试系统发送控制指令的可编程键盘控制模块，与可编程键盘控制模块通信连接的无线信号发送模块；以及与集成电路测试系统通信连接的无线信号接收模块；其中，所述可编程键盘控制模块电性连接有启停控制部件。通过可编程键盘控制模块与脚踏开关的配合控制，利用可编程键盘控制模块的编程设定功能确定输出组合键值信号，并通过脚踏开关实现单个控制多个键值输出的目的，进而提高集成电路测试系统的测试效率；且相较手动操作节约时间，单键代替按组合键盘触发测试失误率更低，另外还通过无线通信的方式突破了集成电路测试系统与可编程键盘控制模块之间的通信距离限制。盘控制模块之间的通信距离限制。盘控制模块之间的通信距离限制。

【技术实现步骤摘要】
一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，特别涉及一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置。

技术介绍

[0002]集成电路测试分为自动测试和手动测试两种方式，自动测试时各部件和机械手直接和主机通信并同步，手动测试时需要多个操作人员同时进行操作键盘。当操作人员和主机距离较近时，通用的做法是采用USB HUB连接多个商用USB键盘，每个操作人员独立的操作各自的数字键盘即可交互的操作。但是基于集成电路测试系统的控制要求，操作人员的需要输入是按键组合，例如需要按CTRL+F1来触发测试程序，因此，按键操作的速度受到了限制，集成电路测试系统的测试效率也无法提升，且集成电路测试系统和键盘操作控制台之间的间距也受USB HUB数据线的长度限制，因此需要设计一种不受距离限、且能够输出组合键值的通用分布式数字键盘。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，用以解决上述提出的技术问题。
[0004]本专利技术提供一种通用集成电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其特征在于，包括：可编程键盘控制模块，所述可编程键盘控制模块用于向集成电路测试系统发送控制指令；与可编程键盘控制模块通信连接的无线信号发送模块；以及与集成电路测试系统通信连接的无线信号接收模块；其中，所述可编程键盘控制模块电性连接有启停控制部件。2.根据权利要求1所述通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其特征在于，所述启停控制部件为脚踏开关。3.根据权利要求1所述通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其特征在于，所述可编程键盘控制模块为CH451键盘控制芯片。4.根据权利要求1所述通用集成电路测...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖莹，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七零九研究所，
类型：发明
国别省市：