一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其包括用于向集成电路测试系统发送控制指令的可编程键盘控制模块，与可编程键盘控制模块通信连接的无线信号发送模块；以及与集成电路测试系统通信连接的无线信号接收模块；其中，所述可编程键盘控制模块电性连接有启停控制部件。通过可编程键盘控制模块与脚踏开关的配合控制，利用可编程键盘控制模块的编程设定功能确定输出组合键值信号，并通过脚踏开关实现单个控制多个键值输出的目的，进而提高集成电路测试系统的测试效率；且相较手动操作节约时间，单键代替按组合键盘触发测试失误率更低，另外还通过无线通信的方式突破了集成电路测试系统与可编程键盘控制模块之间的通信距离限制。盘控制模块之间的通信距离限制。盘控制模块之间的通信距离限制。

【技术实现步骤摘要】
一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置


[0001]本专利技术涉及集成电路测试
，特别涉及一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置。

技术介绍

[0002]集成电路测试分为自动测试和手动测试两种方式，自动测试时各部件和机械手直接和主机通信并同步，手动测试时需要多个操作人员同时进行操作键盘。当操作人员和主机距离较近时，通用的做法是采用USB HUB连接多个商用USB键盘，每个操作人员独立的操作各自的数字键盘即可交互的操作。但是基于集成电路测试系统的控制要求，操作人员的需要输入是按键组合，例如需要按CTRL+F1来触发测试程序，因此，按键操作的速度受到了限制，集成电路测试系统的测试效率也无法提升，且集成电路测试系统和键盘操作控制台之间的间距也受USB HUB数据线的长度限制，因此需要设计一种不受距离限、且能够输出组合键值的通用分布式数字键盘。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，用以解决上述提出的技术问题。
[0004]本专利技术提供一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其特征在于，包括：
[0005]可编程键盘控制模块，所述可编程键盘控制模块用于向集成电路测试系统发送控制指令；
[0006]与可编程键盘控制模块通信连接的无线信号发送模块；以及
[0007]与集成电路测试系统通信连接的无线信号接收模块；
[0008]其中，所述可编程键盘控制模块电性连接有启停控制部件。
[0009]优选的，所述启停控制部件为脚踏开关。
[0010]优选的，所述可编程键盘控制模块为CH451键盘控制芯片。
[0011]优选的，所述无线信号接收模块通过数据转换模块与集成电路测试系统通信连接。
[0012]优选的，所述数据转换模块为CH9328串口转HID类芯片。
[0013]优选的，所述从站主控模块为STC15W201S系列单片机。
[0014]优选的，所述CH451键盘控制芯片的DCLK,DIN,DOUT,LOAD管脚连接STC15W201 S系列单片机的IO口。
[0015]本专利技术所述一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其通过可编程键盘控制模块与脚踏开关的配合控制，利用可编程键盘控制模块的编程设定功能确定输出组合键值信号，并通过脚踏开关实现单个控制多个键值输出的目的，进而提高集成电路测试系统的测试效率；且相较手动操作节约时间，单键代替按组合键盘触发测试失误率更
低，另外还通过无线通信的方式突破了集成电路测试系统与可编程键盘控制模块之间的通信距离限制。
[0016]下面通过附图和实施例，对本专利技术的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
[0017]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：
[0018]图1为本专利技术实施例所述通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置的模块原理示意图。
具体实施方式
[0019]以下结合附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0020]本专利技术提供一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其包括：启停控制部件1、可编程键盘控制模块2、无线信号发送模块3、无线信号接收模块4、数据转换模块5、主站控制模块6和从站控制模块7。
[0021]所述可编程键盘控制模块2用于向集成电路测试系统发送控制指令，优选为CH451键盘控制芯片，所述CH451键盘控制芯片具有内部编程设定功能，通过编程设置可以使CH451键盘控制芯片同时输出多个键值信号，即输出组合键值信号。所述可编程键盘控制模块2电性连接有启停控制部件1，所述启停控制部件1优选为脚踏开关。所述脚踏开关的两端引线分别连接至CH451键盘控制芯片的键盘扫描输入管脚DI G[0:7]中的任意一个管脚和键盘扫描输出管脚SEG[0:7]中的任意一个管脚，则通过脚踏开关即可以控制CH451键盘控制芯片直接输出组合键值信号，从而实现单个控制多个键值输出的目的。在需要连接更多脚踏开关时，可以将脚踏开关连接到CH451键盘控制芯片的DIG[0:7]中的任意一个管脚和SEG[0:7]中的任意一个管脚，CH451键盘控制芯片总计可以支持连接64个脚踏开关。
[0022]所述可编程键盘控制模块2通过无线信号发送模块3、无线信号接收模块4与集成电路测试系统通信连接，所述无线信号发送模块3、无线信号接收模块4优选MAX485收发器，CH451键盘控制芯片输出组合键值信号通过MAX485收发器发送给集成电路测试系统。
[0023]所述从站控制模块7同时与无线信号发送模块3、可编程键盘控制模块2通信连接，所述从站主控模块为STC15W201S系列单片机，所述CH451键盘控制芯片的DCLK,DIN,DOUT,LOAD管脚连接STC15W201 S系列单片机的IO口，STC15W201S系列单片机串口RXD和TXD连接到MAX485收发器的RXD和TXD收发端。
[0024]所述无线信号接收模块4通过数据转换模块5与集成电路测试系统通信连接，所述数据转换模块5为CH9328串口转HID类芯片，所述CH9328串口转HID类芯片接收串口数据，并按照HID键盘类设备规范，将串口数据打包成标准的键盘码值并通过USB接口传给集成电路测试系统。所述主站控制模块6同时与无线信号接收模块4、数据转换模块5通信连接。
[0025]当脚踏开关被按下，从站控制模块7STC15W201 S检测到CH451键盘控制芯片1的DOUT发出的低电平中断后，读取CH451键盘控制芯片输出的组合键值信号，并将键值通过MAX485收发器发送给CH9328串口转H ID类芯片。
[0026]主站单片机接收到组合键值信号后开始读取键值，并控制通过串口将键值发送CH9328串口转HID类芯片进行数据转换，进而发送给集成电路测试系统，集成电路测试系统接收到键值数据后作出相应的动作。
[0027]本专利技术所述一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其通过可编程键盘控制模块2与脚踏开关的配合控制，利用可编程键盘控制模块2的编程设定功能确定输出组合键值信号，并通过脚踏开关实现单个控制多个键值输出的目的，进而提高集成电路测试系统的测试效率；且相较手动操作节约时间，单键代替按组合键盘触发测试失误率更低，另外还通过无线通信的方式突破了集成电路测试系统与可编程键盘控制模块之间的通信距离限制。
[0028]显然，本领域的技术人员可以对本专利技术进行各种改动和变型而不脱离本专利技术的精神和范围。这样，倘若本专利技术的这些修改和变型属于本专利技术权利要求及其等同技术的范围之内，则本专利技术也意图包含这些改动和变型在内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其特征在于，包括：可编程键盘控制模块，所述可编程键盘控制模块用于向集成电路测试系统发送控制指令；与可编程键盘控制模块通信连接的无线信号发送模块；以及与集成电路测试系统通信连接的无线信号接收模块；其中，所述可编程键盘控制模块电性连接有启停控制部件。2.根据权利要求1所述通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其特征在于，所述启停控制部件为脚踏开关。3.根据权利要求1所述通用集成电路测试系统分布式可组合触发键盘装置，其特征在于，所述可编程键盘控制模块为CH451键盘控制芯片。4.根据权利要求1所述通用集成电路测...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖莹，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七零九研究所，
类型：发明
国别省市：