一种集成电路测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供的一种集成电路测试装置，包括集成电路测试座，集成电路测试座的顶部向内凹设有测试槽，测试槽内壁两侧相对设置有限位槽，限位槽内均滑动安装有滑块，两个滑块相互靠近的一端上均设置有卡块，两个滑块相互背离的一端上均安装有拉杆，拉杆延伸至集成电路测试座外并固定安装有把手，拉杆上套设有弹簧，弹簧的一端连接所述滑块，弹簧的另一端连接限位槽内壁。采用上述技术方案，进行测试时，当接触件出现氧化或损坏的情况时，只需向外拉动拉杆，使卡块不再抵持在测试板的上表面，便能将测试板快速取出，再将正常无损坏的测试板底部的接脚对准集成电路测试座的接触件，向下按压，便能将测试板快速固定在测试槽内，实现测试板的快速更换。测试板的快速更换。测试板的快速更换。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置


[0001]本技术涉及集成电路测试领域，特别涉及一种集成电路测试装置。

技术介绍

[0002]测试载板是用以承载完成制程的集成电路并与测试机台耦接，使测试机台藉由测试载板检测集成电路的功能是否正常，并剔除功能不完全的集成电路，其中，集成电路可配置于集成电路脚座以藉由集成电路脚座与测试载板耦接。习知的测试载板上具有多个测试垫，这些测试垫是用以与集成电路脚座的多个测试脚直接耦接，使测试讯号可藉由测试脚传送至集成电路脚座中的集成电路，而在测试讯号传送的过程中，测试垫会受到不同的电压、电流以及温度的影响而发生氧化及损坏的情形，而只要多个测试垫中的其中一个氧化或损坏，整个测试载板就需要进行维修，影响测试效率。

技术实现思路

[0003](一)要解决的技术问题
[0004]为了解决现有技术的上述问题，本技术提供一种集成电路测试装置。
[0005](二)技术方案
[0006]为了达到上述目的，本技术采用的主要技术方案包括：
[0007]一种集成电路测试装置，包括集成电路测试座，所述集成电路测试座的顶部向内凹设有测试槽，所述测试槽内壁两侧相对设置有限位槽，所述限位槽内均滑动安装有滑块，两个所述滑块相互靠近的一端上均设置有卡块，两个所述滑块相互背离的一端上均安装有拉杆，所述拉杆延伸至集成电路测试座外并固定安装有把手，所述拉杆上套设有弹簧，所述弹簧的一端连接所述滑块，所述弹簧的另一端连接限位槽内壁；所述测试槽内安装有测试板，所述测试板的两端均设置有向上倾斜的斜面，所述卡块靠近所述测试板的一端上均设置有与所述斜面相平行的锥面，所述测试板的上方还设置有用以承载待测试的集成电路的集成电路载板，所述集成电路测试座、所述测试板和所述集成电路载板间通过接触件和接脚依次耦合。
[0008]优选的，所述集成电路载板的底部沿四周边角处均设置有支脚，所述集成电路测试座的上表面设置有与所述支脚相对应的连接槽。
[0009]优选的，所述限位槽的开口处设置有用于防止滑块脱离的固定块。
[0010]优选的，所述接触件的顶部向内凹设有用于连接所述接脚的安装槽，所述安装槽呈漏斗状，所述接脚包括杆部，所述杆部的底部两侧对称设置有具有弹性的L型金属连接片。
[0011]优选的，所述测试板内接触件和接脚通过导电线路相连接，所述导电线路电连接电压传感器，所述电压传感器通过单片机连接显示屏。
[0012](三)有益效果
[0013]本技术的有益效果在于：采用上述技术方案，进行测试时，集成电路板安装在
集成电路载板内，测试讯号会通过集成电路测试座、测试板和集成电路载板间的接触件和接脚传送至集成电路板，并将测试结果回传至外部测试装置，在测试过程中，由于测试板的接触件直接与集成电路载板的接脚耦接，因此测试板的接触件会因为测试过程中所产生的电压、电流以及温度而氧化或损坏，当接触件出现氧化或损坏的情况时，只需向外拉动拉杆，使卡块不再抵持在测试板的上表面，便能将测试板快速取出，再将正常无损坏的测试板底部的接脚对准集成电路测试座1的接触件，向下按压，便能将测试板快速固定在测试槽内，实现测试板的快速更换。
附图说明
[0014]图1为一种集成电路测试装置的结构示意图；
[0015]图2为测试板的结构示意图；
[0016]图3为本技术第二实施例的结构示意图。
[0017]【附图标记说明】
[0018]1‑
集成电路测试座；2
‑
弹簧；3
‑
把手；4
‑
支脚；5
‑
限位槽；6
‑
集成电路载板；7
‑
卡块；8
‑
集成电路板；9
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固定块；10
‑
滑块；11
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连接槽；12
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拉杆；13
‑
接触件；14
‑
测试板；15
‑
接脚；16
‑
安装槽；151
‑
L型金属连接片；152
‑
杆部；17
‑
电压传感器。
具体实施方式
[0019]为了更好的解释本技术，以便于理解，下面结合附图，通过具体实施方式，对本技术作详细描述。
[0020]请参照图1至图2，本技术第一实施例：一种集成电路测试装置，包括集成电路测试座1，集成电路测试座1的顶部向内凹设有测试槽，测试槽内壁两侧相对设置有限位槽5，限位槽5内均滑动安装有滑块10，两个滑块10相互靠近的一端上均设置有卡块7，两个滑块10相互背离的一端上均安装有拉杆12，拉杆12延伸至集成电路测试座1外并固定安装有把手3，拉杆12上套设有弹簧2，弹簧2的一端连接滑块10，弹簧2的另一端连接限位槽5内壁；测试槽内安装有测试板14，测试板14的两端均设置有向上倾斜的斜面，卡块7靠近测试板14的一端上均设置有与斜面相平行的锥面，测试板14的上方还设置有用以承载待测试的集成电路的集成电路载板6，集成电路测试座1、测试板14和集成电路载板6间通过接触件13和接脚15依次耦合；使用时，集成电路测试座1通过接脚15耦接外部测试装置(未绘示)，的外部测试装置是用以藉由集成电路测试载板来测试集成电路板8的功能是否正常，进行测试时，集成电路板8安装在集成电路载板6内，测试讯号会通过集成电路测试座1、测试板14和集成电路载板6间的接触件13和接脚15传送至集成电路板8，并将测试结果回传至外部测试装置，在测试过程中，由于测试板14的接触件13直接与集成电路载板6的接脚15耦接，因此测试板14的接触件13会因为测试过程中所产生的电压、电流以及温度而氧化或损坏，当接触件13出现氧化或损坏的情况时，只需向外拉动拉杆12，使卡块7不再抵持在测试板14的上表面，便能将测试板14快速取出，再将正常无损坏的测试板14底部的接脚15对准集成电路测试座1的接触件13，向下按压，便能将测试板14快速固定在测试槽内，实现测试板14的快速更换。
[0021]本实施例中，集成电路载板6的底部沿四周边角处均设置有支脚4，集成电路测试
座1的上表面设置有与支脚4相对应的连接槽11，将支脚4对准连接槽11，实现对集成电路载板6的快速安装。
[0022]本实施例中，限位槽5的开口处设置有用于防止滑块10脱离的固定块9。
[0023]本实施例中，接触件13的顶部向内凹设有用于连接接脚15的安装槽16，安装槽16呈漏斗状，接脚15包括杆部152，杆部152的底部两侧对称设置有具有弹性的L型金属连接片151，杆部152底部的L型金属连接片151进入安装槽16内，由于安装槽16呈漏斗状，因此杆部152与接触件13连接的过程中，L型金属连接片151能够更方便与安装槽16相接处。
[0024]参考图3，本技术第二实施例：测试板14内接触件13和接脚15通过导电线路相连接，导本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置，包括集成电路测试座，其特征在于，所述集成电路测试座的顶部向内凹设有测试槽，所述测试槽内壁两侧相对设置有限位槽，所述限位槽内均滑动安装有滑块，两个所述滑块相互靠近的一端上均设置有卡块，两个所述滑块相互背离的一端上均安装有拉杆，所述拉杆延伸至集成电路测试座外并固定安装有把手，所述拉杆上套设有弹簧，所述弹簧的一端连接所述滑块，所述弹簧的另一端连接限位槽内壁；所述测试槽内安装有测试板，所述测试板的两端均设置有向上倾斜的斜面，所述卡块靠近所述测试板的一端上均设置有与所述斜面相平行的锥面，所述测试板的上方还设置有用以承载待测试的集成电路的集成电路载板，所述集成电路测试座、所述测试板和所述集成电路载板间通过接触件和接脚依次耦合。2....

【专利技术属性】
技术研发人员：连珍娇，谢宝珠，樊武华，
申请(专利权)人：福州市左海电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：