本实用新型专利技术提供的一种用于集成电路的电路板老化检测装置，包括测试台，测试台的上表面开设有多条测试通道，测试通道的终点端设置有供电插头，测试通道内滑动安装有用于固定电路板的测试座，测试通道内还滑动安装有驱动块，驱动块与测试座间通过固定杆相连接，测试台上方悬设有驱动横梁；采用上述技术方案，将待测电路板一一安装至对应测试座内，并且将待测电路板上的连接接口对准供电插头，再通过驱动机构使驱动横梁向测试通道的终点端方向移动，使待测电路板上的连接接口连接供电插头，使待测电路板通电，对其进行老化检测，本实用新型专利技术能够批量对电路板进行老化检测，提高了电路板老化检测效率。路板老化检测效率。路板老化检测效率。
【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路的电路板老化检测装置
[0001]本技术涉及集成电路的电路板老化检测领域，特别涉及一种用于集成电路的电路板老化检测装置。
技术介绍
[0002]集成电路板是载装集成电路的一个载体。但往往说集成电路板时也把集成电路带上。集成电路板主要由硅胶构成，所以一般呈绿色，集成电路的电路板老化就是在一定的条件下使电路板通电工作一定时间，目的是因为电路板的一些元件参数会在使用初期会随着使用时间的改变而发生变化；集成电路的电路板老化在整个生产过程中是个很重要的测试环节，目前的电路板老化检测装置大多只能针对单个电路板进行检测，无法批量对带你路版进行老化检测，导致检测效率低下，因此，提供一种检测效率高的用于集成电路的电路板老化检测装置就成为急需解决的问题了。
技术实现思路
[0003](一)要解决的技术问题
[0004]为了解决现有技术的上述问题，本技术提供一种检测效率高的用于集成电路的电路板老化检测装置。
[0005](二)技术方案
[0006]为了达到上述目的，本技术采用的主要技术方案包括：
[0007]一种用于集成电路的电路板老化检测装置，包括测试台，所述测试台的上表面开设有多条测试通道，所述测试通道的终点端设置有供电插头，所述测试通道内滑动安装有用于固定电路板的测试座，所述测试通道内还滑动安装有驱动块，所述驱动块与所述测试座间通过固定杆相连接，所述测试台上方悬设有驱动横梁，所述驱动块固定连接所述驱动横梁，所述驱动横梁连接有驱动其沿所述测试通道方向移动的驱动机构。
[0008]优选的，所述驱动机构包括相对设置在所述驱动横梁两侧的第一驱动架和第二驱动架，所述第一驱动架内转动安装有丝杆一，所述丝杆一上螺纹连接有移动块一，所述丝杆一的一端连接伺服电机，所述第二驱动架内固定安装有导杆，所述导杆上滑动安装有移动块二，所述驱动横梁的两端分别与所述移动块一和所述移动块二固定连接。
[0009]优选的，所述测试座上开设有用于安装电路板的安装槽，所述安装槽底部设置有插槽，所述插槽底部设置有压力传感器，所述测试座表面设置有信号灯，所述压力传感器与所述信号灯均电连接单片机。
[0010]优选的，所述安装槽底部并位于插槽的两侧相对设置有活动槽，两个所述活动槽内均设置有活动杆，两个所述活动杆相互靠近的一侧设置有夹板，且两个所述活动杆连接有驱动其相向或相背移动的移动机构。
[0011]优选的，所述移动机构包括与两个所述活动槽相连通的驱动槽，所述驱动槽内转动安装有丝杆二，所述丝杆二的一端连接马达，所述丝杆二上对称设置有两段旋向相反的
螺纹段，两段所述螺纹段上均螺纹连接有连接块，两个所述活动杆分别于对应的连接块固定连接。
[0012](三)有益效果
[0013]本技术的有益效果在于：采用上述技术方案，将待测电路板一一安装至对应测试座内，并且将待测电路板上的连接接口对准供电插头，再通过驱动机构使驱动横梁向测试通道的终点端方向移动，使待测电路板上的连接接口连接供电插头，使待测电路板通电，对其进行老化检测，本技术能够批量对电路板进行老化检测，提高了电路板老化检测效率。
附图说明
[0014]图1为一种用于集成电路的电路板老化检测装置的结构示意图；
[0015]图2为测试座的立体结构示意图；
[0016]图3为测试座的纵剖结构示意图。
[0017]【附图标记说明】
[0018]1‑
测试台；2
‑
测试通道；3
‑
测试座；4
‑
供电插头；5
‑
待测电路板；6
‑
驱动横梁；7
‑
固定杆；8
‑
驱动块；9
‑
连接接口；10
‑
导杆；11
‑
移动块二；12
‑
第二驱动架；13
‑
丝杆一；14
‑
移动块一；15
‑
第一驱动架；31
‑
活动杆；32
‑
安装槽；33
‑
插槽；34
‑
夹板；35
‑
信号灯；36
‑
活动槽；37
‑
马达；38
‑
压力传感器；39
‑
驱动槽；310
‑
丝杆二；311
‑
连接块。
具体实施方式
[0019]为了更好的解释本技术，以便于理解，下面结合附图，通过具体实施方式，对本技术作详细描述。
[0020]请参照图1，本技术第一实施例：一种用于集成电路的电路板老化检测装置，包括测试台1，测试台1的上表面开设有多条测试通道2，测试通道2的终点端设置有供电插头4，测试通道2内滑动安装有用于固定电路板的测试座3，测试通道2内还滑动安装有驱动块8，驱动块8与测试座3间通过固定杆7相连接，测试台1上方悬设有驱动横梁6，驱动块8固定连接驱动横梁6，驱动横梁6连接有驱动其沿测试通道2方向移动的驱动机构；使用时，将待测电路板5一一安装至对应测试座3内，并且将待测电路板5上的连接接口9对准供电插头4，再通过驱动机构使驱动横梁6向测试通道2的终点端方向移动，使待测电路板5上的连接接口9连接供电插头4，使待测电路板5通电，对其进行老化检测，本技术能够批量对电路板进行老化检测，提高了电路板老化检测效率。
[0021]本实施例中，驱动机构包括相对设置在驱动横梁6两侧的第一驱动架15和第二驱动架12，第一驱动架15内转动安装有丝杆一13，丝杆一13上螺纹连接有移动块一14，丝杆一13的一端连接伺服电机，第二驱动架12内固定安装有导杆10，导杆10上滑动安装有移动块二11，驱动横梁6的两端分别与移动块一14和移动块二11固定连接；通过伺服电机驱动丝杆一13旋转，带动丝杆一13上的移动块一14移动，在导杆10上的移动块二11的配合移动下，带动驱动横梁6移动。
[0022]参考图2，本技术第二实施例：测试座3上开设有用于安装电路板的安装槽32，安装槽32底部设置有插槽33，插槽33底部设置有压力传感器38，测试座3表面设置有信号灯
35，压力传感器38与信号灯35均电连接单片机；将待测电路板5插入插槽33内，对待测电路板5实现固定定位；当待测电路板5插入插槽33且触碰到压力传感器38，压力传感器38将压力信号输送至单片机，单片机驱动信号灯35，表明了待测电路板5在插槽33内安装到位。
[0023]需要说明的是，单片机的型号为：STM8S003。
[0024]参考图3，本实施例中，安装槽32底部并位于插槽33的两侧相对设置有活动槽36，两个活动槽36内均设置有活动杆31，两个活动杆31相互靠近的一侧设置有夹板34，且两个活动杆31连接有驱动其相向或相背移动的移动机构，在移动机构的驱动下，两个活动杆31相向移动本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路的电路板老化检测装置，包括测试台，其特征在于，所述测试台的上表面开设有多条测试通道，所述测试通道的终点端设置有供电插头，所述测试通道内滑动安装有用于固定电路板的测试座，所述测试通道内还滑动安装有驱动块，所述驱动块与所述测试座间通过固定杆相连接，所述测试台上方悬设有驱动横梁，所述驱动块固定连接所述驱动横梁，所述驱动横梁连接有驱动其沿所述测试通道方向移动的驱动机构。2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路的电路板老化检测装置，其特征在于，所述驱动机构包括相对设置在所述驱动横梁两侧的第一驱动架和第二驱动架，所述第一驱动架内转动安装有丝杆一，所述丝杆一上螺纹连接有移动块一，所述丝杆一的一端连接伺服电机，所述第二驱动架内固定安装有导杆，所述导杆上滑动安装有移动块二，所述驱动横梁的两端分别与所述移动块一和所述移动块二固定连接。3.根据权利要求1所述的一种用...
【专利技术属性】
技术研发人员：连珍娇，谢宝珠，樊武华，
申请(专利权)人：福州市左海电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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