测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试设备，包括机架组件、输送组件、下模组件、上模组件、测试模组与驱动组件，机架组件包括下机架与上机架，上机架设置于下机架；输送组件包括承载台与第一驱动件，承载台设置有容置槽，第一驱动件用于驱动承载台运动；下模组件活动摆放于容置槽；上模组件用于与下模组件相扣合；测试模组设置于所述上模组件；驱动组件用于驱动上模组件与下模组件相对运动；其中，上模组件与下模组件其中之一设置有第一定位柱，另一个设置有第一定位孔，第一定位柱的端部和/或第一定位孔的插口处设置有第一纠偏周面。下模组件与上模组件扣接过程中，第一定位柱通过第一纠偏周面纠正下模组件的位置。正下模组件的位置。正下模组件的位置。

【技术实现步骤摘要】
测试设备


[0001]本技术涉及功能器件测试的
，尤其涉及一种测试设备。

技术介绍

[0002]功能器件在生产完成后，需要采用测试设备对功能器件进行RF电磁频率测试以及ICT电气功能测试。
[0003]相关技术中，测试设备包括输送组件、治具以及测试模组，治具固定设置于输送组件，功能器件固定于治具上。具体的，初始时，治具位于上料位，外部的上料机构将制备好的功能器件上料至治具；此后，输送组件将治具输送至测试位，测试模组对功能器件进行RF电磁频率测试或ICT电气功能测试。然而，由于测试设备长时间使用，输送组件在将治具输送至测试位时，可能会无法精确地将治具输送至测试位，导致功能器件无法得到测试模组的测试，因此，需要投入较大的人力去维修测试设备，保证输送组件能够精确地将治具输送至测试位。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出一种测试设备，保证下模组件能够到达测试位，功能器件得到测试。
[0005]根据本技术实施例的测试设备，包括：
[0006]机架组件，包括下机架与上机架，所述上机架设置于所述下机架；
[0007]输送组件，包括承载台与第一驱动件，所述承载台活动设置于所述下机架，并设置有容置槽，所述第一驱动件用于驱动所述承载台运动，以使所述容置槽在上料位与测试位之间转换；
[0008]下模组件，所述下模组件活动设置于所述容置槽，所述容置槽的平面尺寸大于所述下模组件，以使所述下模组件能够在所述容置槽中活动，且所述下模组件用于定位所述功能器件；
[0009]上模组件，设置于所述上机架，用于与所述下模组件相扣合；其中，所述上模组件与所述下模组件其中之一设置有第一定位柱，另一个设置有第一定位孔，所述第一定位柱的插入端和/或所述第一定位孔的插口处设置有横截面逐渐缩小的第一纠偏周面，以使所述第一定位柱在所述上模组件与所述下模组件相扣合时能够滑入所述第一定位孔；
[0010]测试模组，设置于所述上模组件，所述测试模组具有插接部，所述插接部用于与所述对接部插接连接；
[0011]驱动组件，用于驱动所述上模组件与所述下模组件相对运动，以使所述上模组件与所述下模组件相扣合。
[0012]根据本技术实施例的测试设备，至少具有如下有益效果：下模组件活动放置于容置槽内，并能够在容置槽内平面活动，并且第一定位柱的端部和/或第一定位孔的插口处设置有横截面逐渐缩小的第一纠偏周面。通过上述设置，承载台在运动过程中，即使承载
台无法精准地将下模组件输送至测试位，但是，在测试模组的插接部与柔性电路板的对接部插接配合之前，由于第一纠偏周面使第一定位孔的插口足够大和/或使第一定位柱的插入端足够小，第一定位柱在插入第一定位孔的过程中，第一定位柱通过第一纠偏周面逐渐纠正下模组件的位置，此时，下模组件在容置槽内活动，直至移动至测试位，因此，测试模组的插接部能够与功能器件的对接部精确插接连接，保证功能器件能够正常测试。
[0013]根据本技术的一些实施例，所述上模组件与所述下模组件其中之一设置有第二定位柱，另一个设置有第二定位孔，所述第二定位柱的插入端和/或所述第二定位孔的插口处设置有横截面逐渐缩小的第二纠偏周面，以使所述第二定位柱在所述上模组件与所述下模组件相扣合时能够滑入所述第二定位孔，所述第一定位柱的直径大于所述第二定位柱的直径，其中，所述第一定位柱的长度大于所述第二定位柱的长度，以使所述第一定位柱在插入第一定位孔后，所述第二定位柱插入所述第二定位孔。
[0014]根据本技术的一些实施例，所述下模组件的侧壁与所述容置槽的侧壁之间的间距在 1毫米与3毫米之间。
[0015]根据本技术的一些实施例，所述驱动组件包括第二驱动件与顶升座，所述第二驱动件设置于所述下机架，所述第二驱动件与所述顶升座相连接，用于驱动所述顶升座上下运动，所述顶升座的顶部能够抵持于所述下模组件的底部，以推动所述下模组件能够向上运动，从而使所述下模组件与所述上模组件相扣合。
[0016]根据本技术的一些实施例，所述承载台转动设置于所述下机架，所述下模组件设置有圆弧槽，所述圆弧槽包括第一槽部与第二槽部，所述第一槽部设置于所述下模组件的底部，并延伸至所述下模组件的两侧，所述第二槽部开设于所述第一槽部的侧壁，并延伸至所述下模组件的两侧，所述第一槽部的中心轴与所述第二槽部的中心轴均与所述承载台的转动中心轴重合；所述顶升座包括主体部与卡接部，所述主体部滑动设置于所述第一槽部，所述卡接部滑动设置于所述第二槽部。
[0017]根据本技术的一些实施例，所述圆弧槽具有供所述顶升座滑入的进口端，沿所述承载台的转动方向，所述进口端设置有逐渐向外扩展的导向侧壁。
[0018]根据本技术的一些实施例，所述下模组件包括底板结构，所述底板结构包括底板与两个侧板，两个所述侧板分别固定连接于所述底板的下表面，并间隔设置，所述两个侧板与所述底板之间形成所述第一槽部，两个所述侧板相对的一侧均开设有所述第二槽部。
[0019]根据本技术的一些实施例，所述下模组件包括吸盘结构、立柱与底板结构，所述容置槽贯穿至所述承载台的上表面即下表面，所述容置槽的侧壁具有朝上的台阶面，所述吸盘结构活动摆放于所述台阶面，并与所述容置槽的侧壁间隔设置，所述立柱的下端部与所述底板结构相连接，上端部通过所述容置槽的下端口与所述吸盘结构相连接，所述顶升座的顶部用于抵持于所述底板结构的下表面。
[0020]根据本技术的一些实施例，所述下模组件包括吸盘结构，所述吸盘结构包括吸盘与至少两个下治具，所述吸盘设置有与所述下治具数量一致的第一吸气孔，各个所述下治具设置有第二吸气孔，各个所述下治具均与所述吸盘相连接，以使所述第一吸气孔与所述第二吸气孔相连通，所述第二吸气孔用于吸住所述功能器件。
[0021]根据本技术的一些实施例，所述测试模组设置有两个，分为第一测试机构与
第二测试机构，所述第一测试机构用于对所述功能器件进行RF电磁频率测试，所述第二测试机构用于对所述功能器件进行ICT电气功能测试。
[0022]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0023]下面结合附图和实施例对本技术做进一步的说明，其中：
[0024]图1为本技术实施例的功能器件的结构示意图；
[0025]图2为本技术实施例的测试设备的整体结构示意图；
[0026]图3为本技术实施例的下模组件与承载台的装配示意图；
[0027]图4为本技术实施例的下机架与第一驱动组件及第二驱动组件的装配示意图；
[0028]图5为本技术实施例的下模组件的一种角度示意图；
[0029]图6为本技术实施例的下模组件中下治具的结构示意图；
[0030]图7为本技术实施例的上模组件的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.测试设备，用于测试功能器件，其特征在于，包括：机架组件，包括下机架与上机架，所述上机架设置于所述下机架；输送组件，包括承载台与第一驱动件，所述承载台活动设置于所述下机架，并设置有容置槽，所述第一驱动件用于驱动所述承载台运动，以使所述容置槽在上料位与测试位之间转换；下模组件，所述下模组件活动设置于所述容置槽，以使所述下模组件能够在所述容置槽中水平活动，且所述下模组件用于定位所述功能器件；上模组件，设置于所述上机架，用于与所述下模组件相扣合；其中，所述上模组件与所述下模组件其中之一设置有第一定位柱，另一个设置有第一定位孔，所述第一定位柱的插入端和/或所述第一定位孔的插口处设置有横截面逐渐缩小的第一纠偏周面，以使所述第一定位柱在所述上模组件与所述下模组件相扣合时能够滑入所述第一定位孔；测试模组，设置于所述上模组件，用于测试所述功能器件；驱动组件，用于驱动所述上模组件与所述下模组件相对运动，以使所述上模组件与所述下模组件相扣合。2.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述上模组件与所述下模组件其中之一设置有第二定位柱，另一个设置有第二定位孔，所述第二定位柱的插入端和/或所述第二定位孔的插口处设置有横截面逐渐缩小的第二纠偏周面，以使所述第二定位柱在所述上模组件与所述下模组件相扣合时能够滑入所述第二定位孔，所述第一定位柱的直径大于所述第二定位柱的直径，其中，所述第一定位柱的长度大于所述第二定位柱的长度，以使所述第一定位柱在插入第一定位孔后，所述第二定位柱插入所述第二定位孔。3.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述下模组件的侧壁与所述容置槽的侧壁之间的间距在1毫米与3毫米之间。4.根据权利要求1所述的测试设备，其特征在于，所述驱动组件包括第二驱动件与顶升座，所述第二驱动件设置于所述下机架，所述第二驱动件与所述顶升座相连接，用于驱动所述顶升座上下运动，所述顶升座的顶部能够抵持于所述下模组件的底部，以推动所述下模组件能够向上运动，从而使所述下模组件与所述上模组件相扣合。5.根据权利要求4所述的测试设备，...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋龙泉，汪金德，刘龑，黄龙，
申请(专利权)人：深圳橙子自动化有限公司，
类型：新型
国别省市：