【技术实现步骤摘要】
面向医疗成像的半导体硅基的混合成像芯片及制备方法
[0001]本申请涉及半导体
,尤其涉及一种面向医疗成像的半导体硅基的混合成像芯片及制备方法。
技术介绍
[0002]混合成像芯片涉及半导体
,其是一种热探测器,其原理是在半导体衬底内设置可见光吸收区,检测光经过半导体衬底底部射入后,经过可见光吸收区吸收,再照射到微桥结构上,利用微桥结构吸收红外线,并产生电阻、电容等信号的变化,在利用读出电路对信号进行读取,以获得检测光强弱程度。因此,对于提高混合成像芯片的灵敏度是混合成像芯片设计的重要部分。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供一种面向医疗成像的半导体硅基的混合成像芯片,包括:微桥结构、电连接支撑柱以及半导体衬底;其中,电连接支撑柱位于半导体衬底上,电连接支撑柱用于支撑微桥结构,并将微桥结构上的第一电信号引出到半导体衬底内;半导体衬底内设有P型区域和N型区域,且在P型区域与N型区域接触的部分形成PN结;P型区域和N型区域位于微桥结构的下方;在半导体衬底的下表面设有转换膜层,且转换膜层在P型区域和N型区域的下方;在第一光线经过微桥结构的上方射入后,微桥结构吸收第一光线中的第一红外光和经转换膜层反射的第四光线中的第三红外光,并产生第一电信号;转换膜层用于将从P型区域和N型区域射出的第三光线中的第二红外光转换为第一可见光,并将第一可见光反射至P型区域和N型区域;P型区域和N型区域用于将从微桥结构射出的第二光线中的第二可见光以及第一可见光吸收并生成第二电信号。
[0004]在一实施例 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种面向医疗成像的半导体硅基的混合成像芯片,其特征在于,包括:微桥结构、电连接支撑柱以及半导体衬底;其中,所述电连接支撑柱位于所述半导体衬底上,所述电连接支撑柱用于支撑所述微桥结构,并将所述微桥结构上的第一电信号引出到所述半导体衬底内;所述半导体衬底内设有P型区域和N型区域,且在所述P型区域与所述N型区域接触的部分形成PN结;所述P型区域和N型区域位于所述微桥结构的下方;在所述半导体衬底的下表面设有转换膜层,且所述转换膜层在所述P型区域和所述N型区域的下方;在第一光线经过微桥结构的上方射入后,所述微桥结构吸收所述第一光线中的第一红外光和经所述转换膜层反射的第四光线中的第三红外光,并产生所述第一电信号;所述转换膜层用于将从所述P型区域和所述N型区域射出的第三光线中的第二红外光转换为第一可见光,并将所述第一可见光反射至所述P型区域和N型区域;所述P型区域和N型区域用于将从所述微桥结构射出的第二光线中的第二可见光以及所述第一可见光吸收并生成第二电信号。2.根据权利要求1所述的混合成像芯片,其特征在于,所述转换膜层包括从上到下依次设置的多层中间膜层以及反射膜层,所述多层中间膜层用于将红外光转换为可见光,所述反射膜层用于反射光线以及作为所述转换膜层的一个连接电极,所述多层中间膜层与所述半导体衬底接触,通过所述反射膜层和所述半导体衬底向所述多层中间膜层施加第三电信号;或者所述转换膜层包括从上到下依次设置的透明电极膜层、多层中间膜层以及反射膜层;所述多层中间膜层用于将红外光转换为可见光,所述反射膜层用于反射光线以及作为所述转换膜层的一个连接电极,所述透明电极膜层与所述半导体衬底接触,通过所述反射膜层和所述半导体衬底向所述多层中间膜层施加第三电信号。3.根据权利要求1或2所述的混合成像芯片,其特征在于,所述转换膜层呈开口的梯形结构,且所述转换膜层的开口朝向所述微桥结构;所述P型区域位于所述N型区域的上方,所述N型区域呈倒梯形结构;所述半导体衬底为P型半导体衬底,所述P型区域的离子掺杂浓度比所述N型区域的离子掺杂浓度高至少一个数量级,且所述P型区域的电位与所述半导体衬底的电位相同。4.根据权利要求1或2所述的混合成像芯片,其特征在于,所述混合成像芯片还包括:位于所述微桥结构的上方的滤波结构;所述滤波结构包括从上到下依次设置的滤波吸收层以及导热层;所述滤波吸收层用于对所述第一光线进行滤波,并吸收滤波后的第一光线中的红外光并产生热量,所述导热层用于将热量传递至所述微桥结构。5.根据权利要求4所述的混合成像芯片,其特征在于,所述滤波吸收层包括多层吸收薄膜层,且所述多层吸收薄膜层上设有呈阵列分布的通孔;所述呈阵列分布的通孔用于对所述第一光线进行滤波,所述多层吸收薄膜层用于吸收过滤后的第一光线中的红外光并产生热量;或者所述滤波吸收层包括从上到下依次设置的金属阵列层以及第一吸收层;所述金属阵列层用于对所述第一光线进行滤波,所述第一吸收层用于吸收过滤后的第一光线中的红外光
并产生热量。6.根据权利要求5所述的混合成像芯片,其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员:刘伟,刘刚,何兵,代琪,
申请(专利权)人:中国人民解放军火箭军工程大学,
类型:发明
国别省市:
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