【技术实现步骤摘要】
本技术的实施例涉及用于衬底处理室的构件及包括其的衬底处理室。
技术介绍
在处理诸如半导体晶片和显示器之类的衬底时,衬底被置于处理室中并且被暴露于激发气体以在衬底上沉积或者刻蚀材料。典型的处理室包含如下构件,包括包围处理区域的围壁、提供室中的气体的气体供应源、激发处理气体以处理衬底的气体激发器、衬底支撑件、以及气体排出装置。处理室构件还可以包括处理套件,该处理套件通常包括可以在处理过程中帮助固定和保护衬底的一个或者多个部件。处理套件构件的示例是保持夹具,其可以至少部分地环绕衬底的周围以在支撑件上固定衬底。保持夹具还可以至少部分地覆盖衬底和支撑件中的一个或者多个,以减少其上的处理残余物的沉积。在处理室中处理衬底的过程中,在室中产生可能沉积在内表面上的处理残余物。例如,处理残余物可以沉积在包括衬底支撑件表面和围壁表面的表面上。在随后的工艺循环中,被沉积的处理残余物可以从内室表面“剥落”,而落到衬底上并且污染衬底。为了解决该问题,室中的构件的表面常常被纹理化,以减小处理残余物对衬底的污染。处理残余物粘附到这些经纹理化的表面上,并且处理残余物污染衬底的发生率被减小了。在一个方案中,通过将电磁能量束引导向构件表面以形成处理沉积物可以更好地粘附到其上的凹入和凸起,来形成经纹理化的构件表面。经纹理化的构件表面也可以通过在构件上形成经纹理化的涂层来提供。但是,即使这样的经纹理化的构件表面也不能充分地减少处理残余物形成问题。例如,当经纹理化的构件上的较小或者较窄的纹理化特征,诸如构件表面中的孔或者凹入被处理残余物过快地填满时,通常会带来问题,而要求在处理仅仅少量的衬底后就清 ...
【技术保护点】
一种构件,其能够暴露于衬底处理室中的激发气体,其特征在于,所述构件包括: 构件结构,所述构件结构具有包括间隔开的滚花垄和沟槽的滚花的暴露表面, 在所述衬底处理室中在所述激发气体中处理衬底的过程中,处理残余物粘附到所述构件结构的所述表面上,以减小所述处理残余物对所述衬底的污染。
【技术特征摘要】
US 2004-6-28 10/880,235;US 2004-11-16 10/990,100;U1.一种构件,其能够暴露于衬底处理室中的激发气体,其特征在于,所述构件包括构件结构,所述构件结构具有包括间隔开的滚花垄和沟槽的滚花的暴露表面,在所述衬底处理室中在所述激发气体中处理衬底的过程中,处理残余物粘附到所述构件结构的所述表面上,以减小所述处理残余物对所述衬底的污染。2.根据权利要求1所述的构件,其特征在于,其中所述滚花垄和沟槽包括彼此相反的第一和第二螺旋槽。3.根据权利要求2所述的构件,其特征在于,其中所述第一和第二螺旋槽包括如下特征中的至少之一至少约45度的螺旋角;至少约0.25mm的深度;不大于约1.5mm的深度;或倒圆的边缘。4.根据权利要求2所述的构件,其特征在于,其中所述第一和第二螺旋槽具有下述中的至少之一在所述表面的第一区域中的第一间距,和在所述表面的第二区域中的第二间距;或者在所述表面的第一区域中的第一深度,和在所述表面的第二区域中的第二深度。5.根据权利要求1所述的构件,其特征在于,其中所述滚花的暴露表面还包括下述中的至少之一多个环形槽,所述环形槽彼此同心并且在所述表面上轴向或径向地间隔开;粗糙化区域,具有从约1.6微米到约12.5微米的平均表面粗糙度;或为基本连续部分的处在所述第一和第二螺旋槽之间的未成槽部分,所述未成槽部分具有小于约0.1cm的尺寸。6.根据权利要求1所述的构件,其特征在于,包括气体排出装置、气体供应装置、气体激发器、护罩、处理套件、室围壁和衬底支撑件的至少一部分。7.一种包括根据权利要求1所述的构件的衬底处理室,其特征在于,所述室包括衬底支撑件、气体激发器、气体供应装置和气体排出装置。8.根据权利要求1所述的构件,其特征在于,其中包括间隔开的滚花垄和沟槽的所述滚花的暴露表面包括具有第一纹理化特征的第一纹理化图案区域,所述第一纹理化特征彼此间隔开并且每一特征具有第一深度和第一密度,和具有第二纹理化特征的第二纹理化图案区域,所述第二纹理化特征彼此间隔开并且每一特征具有第二深度和第二密度,其中,所述第二深度和所述第二密度中的至少之一不同于所述第一深度和所述第一密度;在处理衬底的过程中,处理残余物粘附到所述表面上,以减小对所述衬底的污染。9.根据权利要求8所述的构件,其特征在于,其中所述第一纹理化特征包括具有拥有所述第一深度或者间距的螺旋臂的第一螺旋槽,并且其中所述第二纹理化特征包括具有拥有所述第二深度或者间距的螺旋臂的第二螺旋槽。10.根据权利要求9所述的构件,其特征在于,其中所述第一或者第二螺旋槽每一个都包括这样的螺旋臂,所述螺旋臂的深度从在所述第一区域中的至少约0.8mm的第一深度连续变化到所述第二区域中的小于约0.6mm的第二深度,并且间距从在所述第一区域中的至少约1.5mm的第一间距连续变化到所述第二区域中的小于约1.8mm的第二间距。11.根据权利要求9所述的构件,其特征在于,其中所述第一和第二螺旋槽彼...
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡建昆,布赖恩T韦斯特,李茂城,拉克斯曼穆鲁盖什,王洪,阿比吉特德赛,
申请(专利权)人:应用材料公司,
类型:实用新型
国别省市:US[美国]
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