本申请涉及用于面板元件检测的拍摄路径确定方法，包括：以面板上的每个待测元件所在位置为区域中心形成每个待测元件各自对应的原始拍摄区域，得到多个原始拍摄区域；以每个原始拍摄区域各自对应的待测元件所在位置为相应的原始拍摄区域的移动约束，将各原始拍摄区域向面板所在平面的预设方向移动，得到多个初始拍摄区域；移动多个初始拍摄区域，以使移动后的初始拍摄区域的区域中心与初始拍摄区域囊括的所有待测元件整体对应的位置中心相重合，得到多个候选拍摄区域；从多个候选拍摄区域中选取多个目标拍摄区域；多个目标拍摄区域覆盖面板上所有待测元件；根据拍摄路径长度约束，基于个目标拍摄区域形成拍摄路径。采用本方法能够提升检测效率。本方法能够提升检测效率。本方法能够提升检测效率。
【技术实现步骤摘要】
用于面板元件检测的拍摄路径确定方法、装置和设备
[0001]本申请涉及面板元件检测
，特别是涉及一种用于面板元件检测的拍摄路径确定方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。
技术介绍
[0002]AOI（Automated Optical Inspection缩写）检测设备，又名AOI光学自动检测设备，现已成为电子制造业确保产品质量的重要检测工具和过程质量控制工具。AOI检测设备原理：当自动检测时，AOI检测设备机器通过高清CCD摄像头自动扫描PCBA产品，采集图像，测试的检测点与数据库中的合格的参数进行比较，经过图像处理，检查出目标产品上的缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示/标示出来，供维修人员修整和SMT工程人员改善工艺。
[0003]由于待测面板上的元件都是十分细小的元件，而面板本身面积却很大，为了保留更多的细节来判断待测元件的缺陷，在采集图像时不得不选择缩小每次成像时拍摄出来的物体的范围。如图1所示，为了保证元件的细节丰富度，每张图片只能拍摄出方框大小的范围。因此，需要多次移动照相机，通过拍摄面板的不同区域才能完成对整张面板上所有的待测元件的检测。常见的方法的是对面板整体进行密铺式的扫描，如图2所示。为了保证不漏掉任何一个元件，通常还会在图片与图片之间保留一定的重叠区域。图中的数字代表这是第几张扫描的图。
[0004]然而，密铺式扫描可能出现一个元件在两次拍摄的图像中出现的情况，导致图片数据多且图片资源有着太多冗余。并且，每行的扫描都会出现一个很长的回到行初始位置的操作，而这在物理上会是一段很长的距离，从而耗费较多时间进而影响扫描效率。
技术实现思路
[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种用于面板元件检测的拍摄路径确定方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
[0006]第一方面，本申请提供了一种用于面板元件检测的拍摄路径确定方法。所述方法包括：以面板上的每个待测元件所在位置为区域中心形成所述每个待测元件各自对应的原始拍摄区域，得到多个原始拍摄区域；以每个原始拍摄区域各自对应的待测元件所在位置为相应的原始拍摄区域的移动约束，将各原始拍摄区域向所述面板所在平面的预设方向移动，得到多个初始拍摄区域；移动所述多个初始拍摄区域，以使移动后的初始拍摄区域的区域中心与所述初始拍摄区域囊括的所有待测元件整体对应的位置中心相重合，得到多个候选拍摄区域；从所述多个候选拍摄区域中选取多个目标拍摄区域；所述多个目标拍摄区域覆盖所述面板上所有待测元件；根据拍摄路径长度约束，基于所述多个目标拍摄区域形成拍摄路径。
[0007]在其中一个实施例中，所述从所述多个候选拍摄区域中选取多个目标拍摄区域，包括：按照预设的遍历优先顺序及根据预设的区域间所含元件排斥条件，遍历所述多个候选拍摄区域的每一候选拍摄区域，得到所述多个目标拍摄区域。
[0008]在其中一个实施例中，还包括：若所述多个目标拍摄区域未能覆盖所述面板上所有待测元件，则基于预设的面板剩余元件覆盖条件，从所述多个候选拍摄区域中补充选取目标拍摄区域；其中，所述补充选取的目标拍摄区域覆盖所述面板上的剩余元件且与所述已选取的所述多个目标拍摄区域部分重叠。
[0009]在其中一个实施例中，所述遍历优先顺序为行优先顺序。
[0010]在其中一个实施例中，所述拍摄路径为蛇形路径。
[0011]在其中一个实施例中，所述以面板上的每个待测元件所在位置为区域中心形成所述每个待测元件各自对应的原始拍摄区域，包括：获取以所述面板上的每个待测元件所在位置为区域中心且与拍摄设备的拍摄范围对应的拍摄区域，作为所述每个待测元件各自对应的原始拍摄区域。
[0012]第二方面，本申请还提供了一种用于面板元件检测的拍摄路径确定装置。所述装置包括：原始拍摄区域生成模块，用于以面板上的每个待测元件所在位置为区域中心形成所述每个待测元件各自对应的原始拍摄区域，得到多个原始拍摄区域；初始拍摄区域生成模块，用于以每个原始拍摄区域各自对应的待测元件所在位置为相应的原始拍摄区域的移动约束，将各原始拍摄区域向所述面板所在平面的预设方向移动，得到多个初始拍摄区域；候选拍摄区域生成模块，用于移动所述多个初始拍摄区域，以使移动后的初始拍摄区域的区域中心与所述初始拍摄区域囊括的所有待测元件整体对应的位置中心相重合，得到多个候选拍摄区域；目标拍摄区域生成模块，用于从所述多个候选拍摄区域中选取多个目标拍摄区域；所述多个目标拍摄区域覆盖所述面板上所有待测元件；拍摄路径生成模块，用于根据拍摄路径长度约束，基于所述多个目标拍摄区域形成拍摄路径。
[0013]第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：以面板上的每个待测元件所在位置为区域中心形成所述每个待测元件各自对应的原始拍摄区域，得到多个原始拍摄区域；以每个原始拍摄区域各自对应的待测元件所在位置为相应的原始拍摄区域的移动约束，将各原始拍摄区域向所述面板所在平面的预设方向移动，得到多个初始拍摄区域；移动所述多个初始拍摄区域，以使移动后的初始拍摄区域的区域中心与所述初始拍摄区域囊括的所有待测元件整体对应的位置中心相重合，得到多个候选拍摄区域；从所述多个候选拍摄区域中选取多个目标拍摄区域；所述多个目标拍摄区域覆盖所述面板上所有待测元件；
根据拍摄路径长度约束，基于所述多个目标拍摄区域形成拍摄路径。
[0014]第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：以面板上的每个待测元件所在位置为区域中心形成所述每个待测元件各自对应的原始拍摄区域，得到多个原始拍摄区域；以每个原始拍摄区域各自对应的待测元件所在位置为相应的原始拍摄区域的移动约束，将各原始拍摄区域向所述面板所在平面的预设方向移动，得到多个初始拍摄区域；移动所述多个初始拍摄区域，以使移动后的初始拍摄区域的区域中心与所述初始拍摄区域囊括的所有待测元件整体对应的位置中心相重合，得到多个候选拍摄区域；从所述多个候选拍摄区域中选取多个目标拍摄区域；所述多个目标拍摄区域覆盖所述面板上所有待测元件；根据拍摄路径长度约束，基于所述多个目标拍摄区域形成拍摄路径。
[0015]第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：以面板上的每个待测元件所在位置为区域中心形成所述每个待测元件各自对应的原始拍摄区域，得到多个原始拍摄区域；以每个原始拍摄区域各自对应的待测元件所在位置为相应的原始拍摄区域的移动约束，将各原始拍摄区域向所述面板所在平面的预设方向移动，得到多个初始拍摄区域；移动所述多个初始拍摄区域，以使移动后的初始拍摄区域的区域中心与所述初始拍摄区域囊括的所有待测元件整体对应的位置中心相重合，得到多个候选拍摄区域；从所述多个候选拍摄区域中选取多个目标拍摄区域；所述多个目标拍摄本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于面板元件检测的拍摄路径确定方法，其特征在于，所述方法包括：以面板上的每个待测元件所在位置为区域中心形成所述每个待测元件各自对应的原始拍摄区域，得到多个原始拍摄区域；以每个原始拍摄区域各自对应的待测元件所在位置为相应的原始拍摄区域的移动约束，将各原始拍摄区域向所述面板所在平面的预设方向移动，得到多个初始拍摄区域；移动所述多个初始拍摄区域，以使移动后的初始拍摄区域的区域中心与所述初始拍摄区域囊括的所有待测元件整体对应的位置中心相重合，得到多个候选拍摄区域；从所述多个候选拍摄区域中选取多个目标拍摄区域；所述多个目标拍摄区域覆盖所述面板上所有待测元件；根据拍摄路径长度约束，基于所述多个目标拍摄区域形成拍摄路径。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述从所述多个候选拍摄区域中选取多个目标拍摄区域，包括：按照预设的遍历优先顺序及根据预设的区域间所含元件排斥条件，遍历所述多个候选拍摄区域的每一候选拍摄区域，得到所述多个目标拍摄区域。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：若所述多个目标拍摄区域未能覆盖所述面板上所有待测元件，则基于预设的面板剩余元件覆盖条件，从所述多个候选拍摄区域中补充选取目标拍摄区域；其中，所述补充选取的目标拍摄区域覆盖所述面板上的剩余元件且与已选取的所述多个目标拍摄区域部分重叠。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述遍历优先顺序为行优先顺序。5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述拍摄路径为蛇形路径。6.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其特征在于，所述以面板上的每个待测元件所在位置为区域...
【专利技术属性】
技术研发人员：徐宇梁，周超，沈小勇，吕江波，
申请(专利权)人：北京思谋智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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