【技术实现步骤摘要】
一种CSP封装的声表面波双工器陶瓷基板
[0001]本技术涉及电子元器件封装基板领域,尤其涉及一种CSP封装的声表面波双工器陶瓷基板。
技术介绍
[0002]日本电子工业协会把CSP定义为芯片面积与封装体面积之比大于80%的封装;美国国防部元器件供应中心的J
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012标准把CSP定义为LSI封装产品的面积小于或等于LSI芯片面积的120%的封装。CSP封装内存不但体积小,而且也更薄,提高了内存芯片在长时间运行后的可靠性,线路阻抗显著减小,芯片速度也随之得到大幅度提高。
[0003]CSP封装的陶瓷基板是声表面波双工器芯片的载体,实现芯片在集成电路上的电气连接。CSP封装陶瓷基板,不但应具备机械强度高、散热能力好、气密性好、绝缘电阻高等物理性能,还应具备尺寸精度高、平整度佳等加工要求。因此,CSP封装陶瓷基板在满足基本性能的基础上,如何提高产品的平整度,提高CSP封装的可靠性,是产品技术发展的迫切需求。
[0004]由于CSP封装的陶瓷基板在制作过程中,涉及到金属与 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种CSP封装的声表面波双工器陶瓷基板,所述基板包括依次叠层的顶层盘(100)、中间层盘(200)和底层盘(300),所述顶层盘(100)、中间层盘(200)和底层盘(300)均包括陶瓷介质和金属焊盘,所述顶层盘(100)、中间层盘(200)和底层盘(300)上的金属焊盘通过金属导电柱来上下连接,其特征在于,所述顶层盘(100)上的所有金属焊盘同时呈中心对称和镜面对称排列。2.根据权利要求1所述的一种CSP封装的声表面波双工器陶瓷基板,其特征在于,所述中间层盘(200)上的所有金属焊盘呈中心对称排列。3.根据权利要求1所述的一种CSP封装的声表面波双工器陶瓷基板,其特征在于,所述顶层盘(100)上的金属焊盘的总面积与所述底层盘(300)上的金属焊盘的总面积之比为0.80~1.25。4.根据权利要求3所述的一种CSP封装的声表面波双工器陶瓷基板,其特征在于,所述顶层盘(100)的金属焊盘的总面积与所述底层盘(300)的金属焊盘的总面积之比为1。5.根据权利要求1所述的一种CSP封装的声表面波双工器陶瓷基板,其特征在于,所述顶层盘(100)到所述中间层盘(200)的厚度与所述中间层盘(200)到所述底层盘(300)的厚度之比0.80~1.25。6.根据权利要求5所述的一种CSP封装的声表面波双工器陶瓷基板,其特征在于,所述顶层盘(100)到所述中间层盘(200)的厚度与所述中间层盘(200)到所述底层盘(300)的厚度之比1。7.根据权利要求1所述的一种CSP封装的声表面...
【专利技术属性】
技术研发人员:黄聪,叶沈宏,唐晓斌,汪涛,周恒斌,童建喜,罗绍谨,卢冠宇,谢凯南,
申请(专利权)人:嘉兴佳利电子有限公司,
类型:新型
国别省市:
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