【技术实现步骤摘要】
一种测试效率高的水冷式间歇工作寿命测试机
[0001]本技术涉及半导体测试设备
，尤其涉及一种测试效率高的水冷式间歇工作寿命测试机。
技术介绍
[0002]半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域已得到广泛应用。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，其在投入使用前需要用寿命测试设备进行不同温度、不同电流下的寿命进行测试。传统的寿命测试设备一般都由一组测试元件构成，测试不同温度，不同电流下的半导体寿命，需要等待温控装置进行温度变换，等待时间较长，并且一次只能测试一个半导体元件，测试效率比较低。
技术实现思路
[0003]本技术所要解决的技术问题是提供结构简单，被测元件拆装方便，可同时进行多温度、多元件寿命测试的一种测试效率高的水冷式间歇工作寿命测试机。
[0004]本技术是通过以下技术方案予以实现：
[0005]一种测试效率高的水冷式间歇工作寿命测试机，包括机箱、多块水冷板及安装于每块水冷板上的多个被测元件固...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试效率高的水冷式间歇工作寿命测试机，其特征在于：包括机箱、多块水冷板及安装于每块水冷板上的多个被测元件固定装置，机箱底板上设有多个纵向导槽，每块所述水冷板底部固定安装有两个导板，所述导板插入相应的导槽内，每块所述水冷板上表面开设有多排限位盲孔，水冷板内外两侧一体成型有导轨，每个所述被测元件固定装置包括滑动的安装于导轨上的门形安装架、多个顶紧组件及被测元件安装座，每个所述顶紧组件包括滑片及顶紧螺栓，所述滑片滑动的卡装到门形安装架上且滑片中部开设有螺纹孔，所述顶紧螺栓穿过螺纹孔，所述被测元件安装座四角分别开设有通孔。2.根据权利要求1所述的一种测试效率高的水冷式间歇工作寿命测试机，其特征在于，所述门形安装架包括两侧的支撑柱及固定于两个支撑柱之间的横梁，所述横梁中部沿横梁延伸方...
【专利技术属性】
技术研发人员：朱永兵，
申请(专利权)人：天津海瑞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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