一种烤箱温度监控系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种烤箱温度监控系统，尤其涉及一种应用于半导体封装测试行业中的后道烤箱温度监控系统。本实用新型专利技术包括：至少一个位于烤箱中的温度传感器；与所述温度传感器连接的至少一个模数转换器；与所述模数转换器连接的至少一个逻辑控制器；连接所述逻辑控制器的数据服务器，所述数据服务器包括读写模块和数据库模块；以及连接所述数据服务器的用户端，所述用户端包括读取模块。本实用新型专利技术提供的烤箱温度监控系统成本较低且便于时时监控以及进行历史资料查询等数据资料的管理。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种烤箱温度监控系统，其特征在于包括：　　　　至少一个位于烤箱中的温度传感器；　　　　与所述温度传感器连接的至少一个模数转换器，所述模数转换器将模拟信号转换成数字信号；　　　　与所述模数转换器连接的至少一个逻辑控制器，所述逻辑控制器接收并存储来自所述模数转换器的数字信号；　　　　连接所述逻辑控制器的数据服务器，所述数据服务器包括读写模块和数据库模块，所述数据服务器的读写模块读取来自所述逻辑控制器的数字信号并将其写入所述数据库模块中；　　　　以及连接所述数据服务器的用户端，所述用户端包括读取模块，所述读取模块可从所述数据库模块中读取数据，生成温度曲线图。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：余龙明，
申请(专利权)人：威宇科技测试封装有限公司，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]