一种探针钳点治具制造设备制造技术

本发明专利技术涉及半导体测试测量技术领域，具体为一种探针钳点治具制造设备。一种探针钳点治具制造设备，包括机台，所述机台内部开设有腔室，所述机台在腔室的一侧设有高度调节机构，且高度调节机构的顶部贯穿腔室并延伸至机台外部，所述高度调节机构的顶部设有探针，所述高度调节机构用于带动探针上下位移；所述高度调节机构的上方处外部套设有连接柱，且连接柱的底部抵接端与机台的顶端外部固定连接，所述连接柱的下方处外部套设有带动柱。本发明专利技术的有益效果是：该装置通过驱动机构以及高度调节机构的配合使钳点部件能自动且快速的将探针一次性完成钳点过程，可提高对探针进行钳点的效率，增大生产完整可检测探针成品的数量。增大生产完整可检测探针成品的数量。增大生产完整可检测探针成品的数量。

【技术实现步骤摘要】
一种探针钳点治具制造设备


[0001]本专利技术涉及半导体测试测量
，具体为一种探针钳点治具制造设备。

技术介绍

[0002]电子设备一般都含有一块甚至多块或大或小的电路板，这些电路板上焊接了各种各样的接口，特别是微机使用的主板接口更多，这些电子产品在出厂时都需要进行一系列的检测，在这些半导体测试测量的检测中需要用到探针进行检测，在进行检测时就需要用到探针治具。
[0003]目前在半导体测试测量使用到的探针治具，在生产的过程中不能自动且快速的将探针一次性完成钳点，相对制造生产的探针效率较为缓慢，很难实现对半导体测试测量使用到的探针治具进行大量制作，导致设备加工生产完整可检测探针成品的数量不理想。

技术实现思路

[0004]本专利技术针对现有技术中存在的技术问题，提供一种探针钳点治具制造设备来解决在生产的过程中不能自动且快速的将探针一次性完成钳点，相对制造生产的探针效率较为缓慢，很难实现对半导体测试测量使用到的探针治具进行大量制作，导致设备加工生产完整可检测探针成品的数量不理想的问题。
[0005]本专利技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种探针钳点治具制造设备，包括机台，其特征在于，所述机台内部开设有腔室，所述机台在腔室的一侧设有高度调节机构，且高度调节机构的顶部贯穿腔室并延伸至机台外部，所述高度调节机构的顶部设有探针，所述高度调节机构用于带动探针上下位移；所述高度调节机构的上方处外部套设有连接柱，且连接柱的底部抵接端与机台的顶端外部固定连接，所述连接柱的下方处外部套设有带动柱，且带动柱的底部通过转轴与连接柱的抵接端顶部转动连接，所述带动柱的顶部固定连接有旋转块，且旋转块内部沿轴向方向延伸开设有接触通孔并套设在所述连接柱的外部，所述接触通孔的内壁周向环绕设置有四个弧形片，所述旋转块内部沿周向方向开设有四个第一容纳槽，四个所述第一容纳槽内部固定连接有气缸，且气缸一端的驱动杆贯穿第一容纳槽并延伸至弧形片的一侧，所述旋转块内部沿周向方向开设有四个第二容纳槽，且四个所述第二容纳槽内部均设有钳点部件，每个所述第二容纳槽的一侧内壁均设有弹簧，且弹簧套设在钳点部件的外部，所述钳点部件一侧贯穿第二容纳槽并延伸至探针的一侧，所述驱动机构用于驱动钳点部件远离和靠进探针方向位移以对探针进行钳点。2.根据权利要求1所述的一种探针钳点治具制造设备，其特征在于，所述钳点部件包括接触块和钳刀，所述钳刀滑动设置于第二容纳槽中，所述接触块位于弹簧的一侧并与钳刀的一侧外部固定连接。3.根据权利要求2所述的一种探针钳点治具制造设备，其特征在于，所述接触块呈现出球形并向外突出至第二容纳槽的外部，所述钳刀为钢针，所述钳刀靠近探针方向的一端呈现出尖锥形。4.根据权利要求1所述的一种探针钳点治具制造设备，其特征在于，所述弧形片为...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐炳超，
申请(专利权)人：东莞市台易电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：