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本发明涉及半导体测试测量技术领域，具体为一种探针钳点治具制造设备。一种探针钳点治具制造设备，包括机台，所述机台内部开设有腔室，所述机台在腔室的一侧设有高度调节机构，且高度调节机构的顶部贯穿腔室并延伸至机台外部，所述高度调节机构的顶部设有探针...
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