阻抗校准方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了一种阻抗校准方法，包括调节第二阻抗调节单元的控制参数，以调节第二阻抗调节单元的阻抗，直至比较器单元输出校准完成信号，将第二阻抗调节单元的控制参数作为第二调节控制参数；之后调节第一阻抗调节单元的控制参数，以调节第一阻抗调节单元的阻抗，直至比较器单元输出校准完成信号，将第一阻抗调节单元的控制参数作为第一调节控制参数，将第一调节控制参数和第二调节控制参数调节高速发射电路，从而使得在对高速发射电路的阻抗校准在校准的过程中，分别以第一电阻单元、第二电阻单元、第三电阻单元作为参考，有效消除了校准过程中累积误差的存在，使得校准后的结果更加准确。本发明专利技术还提供了实现阻抗校准方法的阻抗校准系统。抗校准系统。抗校准系统。

【技术实现步骤摘要】
阻抗校准方法及系统


[0001]本专利技术涉及阻抗校准
，尤其涉及一种阻抗校准方法及系统。

技术介绍

[0002]由于高速信号在传输过程中存在反射，高速TX电路输出阻抗必须与外部传输线特征阻抗进行匹配。当传输线特征阻抗为50Ohm时，高速TX电路输出阻抗也需要做到50Ohm附近，以降低反射，提高信号质量。高速TX电路输出阻抗一般由MOSFET和电阻构成，在芯片制作过程中，由于工艺误差的存在，该输出阻抗会发生偏差。MOSFET的阻抗还会受到电源电压的影响，因此，芯片制作完成后由于电源电压和工艺的偏差会使得该输出阻抗会偏离50Ohm，需要校准电路进行对其校准，将其校准到50Ohm附近。
[0003]因此，有必要提供一种新型的阻抗校准方法及系统以解决现有技术中存在的上述问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种阻抗校准方法及系统，有效提高了阻抗校准的精确度。
[0005]为实现上述目的，本专利技术的所述一种阻抗校准方法，用于对高速发射电路进行阻抗校准，所述方法包括：
[0006]提供阻抗校准电路，所述阻抗校准电路包括第一阻抗调节单元、第一电阻单元、第一开关单元、第二电阻单元、第三电阻单元、第二阻抗调节单元、第二开关单元、比较器单元和第十三电阻，所述第一阻抗调节单元、所述第一电阻单元、所述第十三电阻的一端和所述比较器单元的负向输入端均与所述第一开关单元连接，所述第十三电阻的另一端接工作电压，所述第二电阻单元、所述第三电阻单元、所述第二阻抗调节单元和所述比较器单元的正向输入端均与所述第二开关单元连接；
[0007]调节所述第一开关单元，以使所述第一电阻单元与所述比较器单元的负向输入端连通，调节所述第二开关单元，以使所述第二阻抗调节单元、第三电阻单元与所述比较器单元的正向输入端连通，并使所述第二电阻单元与所述比较器单元的正向输入端断开连接，调节所述第一阻抗调节单元的控制参数，以将所述第一阻抗调节单元的阻抗调节到最小阻抗，调节所述第一电阻单元的电阻和所述第三电阻单元的电阻，以将所述第一电阻单元的电阻和所述第三电阻单元的电阻均调节至最大电阻；
[0008]调节所述第二阻抗调节单元的控制参数，以调节所述第二阻抗调节单元的阻抗，直至所述比较器单元输出校准完成信号，将所述第二阻抗调节单元的控制参数作为第二调节控制参数；
[0009]调节所述第一开关单元，以使得所述第一阻抗调节单元与所述比较器单元的负向输入端连通，调节所述第二开关单元，以使得所述第二阻抗调节单元、所述第三电阻单元与所述比较器单元的正向输入端断开连接，并使得所述第二电阻单元与所述比较器单元的正
向输入端连通，调节所述第二阻抗调节单元的控制参数，以将所述第二阻抗调节单元的阻抗调节至最大阻抗；
[0010]调节所述第一阻抗调节单元的控制参数，以调节所述第一阻抗调节单元的阻抗，直至所述比较器单元输出校准完成信号，将所述第一阻抗调节单元的控制参数作为第一调节控制参数；
[0011]通过所述第一调节控制参数和所述第二调节控制参数调节所述高速发射电路，以实现对所述高速发射电路的阻抗校准。
[0012]本专利技术所述的阻抗校准方法的有益效果在于：通过上述阻抗校准方法依次对第一阻抗调节单元和第二阻抗调节单元进行校准，并分别获得第一调节控制参数和第二调节控制参数，在校准的过程中，分别以第一电阻单元、第二电阻单元、第三电阻单元这些阻值准确的外部精准电阻作为参考，有效消除了校准过程中累积误差的存在，从而使得校准后的结果更加准确。
[0013]可选的，所述第一电阻单元包括第一开关，所述第三电阻单元包括第六开关，所述第一开关和所述第六开关均内置电阻；
[0014]所述调节所述第一电阻单元的电阻和所述第三电阻单元的电阻，以将所述第一电阻单元的电阻和所述第三电阻单元的电阻均调节至最大电阻，包括：
[0015]接通所述第一开关，将所述第一开关内置的电阻接入所述第一电阻单元，以将所述第一电阻单元的电阻调节至最大电阻；
[0016]接通所述第六开关，将所述第二开关内置的电阻接入所述第三电阻单元，以将所述第三电阻单元的电阻调节至最大电阻。
[0017]可选的，所述第一开关的阻抗为所述第六开关的阻抗的两倍。
[0018]可选的，所述调节所述第一阻抗调节单元的控制参数，以将所述第一阻抗调节单元的阻抗调节到最小阻抗，包括：
[0019]所述第一阻抗调节单元的控制参数为四位的二进制数值，调节所述第一阻抗调节单元的控制参数为最小值，以将所述第一阻抗调节单元调节到最小阻抗。其有益效果在于：使得第一阻抗调节单元处于关闭状态，减少功耗。
[0020]可选的，所述调节所述第二阻抗调节单元的控制参数，以调节所述第二阻抗调节单元的阻抗，包括：
[0021]所述第二阻抗调节单元的控制参数为四位的二进制数值，将所述第二阻抗调节单元的控制参数自大到小调节，以调节所述第二阻抗调节单元的阻抗。其有益效果在于：通过将第二阻抗调节单元的控制参数设置为四位的二进制数值，便于实现对第二阻抗调节单元的控制，并提高校准精度。
[0022]可选的，所述调节所述第二阻抗调节单元的控制参数，以将所述第二阻抗调节单元的阻抗调节至最大阻抗，包括：
[0023]所述第二阻抗调节单元的控制参数为四位的二进制数值，调节所述第二阻抗调节单元的控制参数为最大值，以将所述第二阻抗调节单元调节到最大阻抗。
[0024]可选的，所述调节所述第一阻抗调节单元的控制参数，以调节所述第一阻抗调节单元的阻抗，包括：
[0025]所述第一阻抗调节单元的控制参数为四位的二进制数值，将所述第一阻抗调节单
元的控制参数自小到大调节，以调节所述第一阻抗调节单元的阻抗。其有益效果在于：通过将第一阻抗调节单元的控制参数设置为四位的二进制数值，便于实现对第一阻抗调节单元的控制，并提高校准精度。
[0026]本专利技术还提供了一种阻抗校准系统，包括阻抗校准电路和逻辑控制模块，所述阻抗校准电路包括第一阻抗调节单元、第一电阻单元、第一开关单元、第二电阻单元、第三电阻单元、第二阻抗调节单元、第二开关单元、比较器单元和第十三电阻，所述第一阻抗调节单元、所述第一电阻单元、所述第十三电阻的一端和所述比较器单元的负向输入端均与所述第一开关单元连接，所述第十三电阻的另一端接工作电压，所述第二电阻单元、所述第三电阻单元、所述第二阻抗调节单元和所述比较器单元的正向输入端均与所述第二开关单元连接，所述逻辑控制模块用于根据上述的阻抗调节方法调节所述第一开关单元、所述第二开关单元、所述第一阻抗调节单元的控制参数、所述第一电阻单元的控制参数、所述第二电阻单元的控制参数、所述第三电阻单元的控制参数、所述第二阻抗调节单元的控制参数和所述比较器单元的控制参数。
[0027]本专利技术所述的阻抗校准系统的有益效果在于：所述逻辑控制模块用于根据阻抗调节方法调节所述第一开关单元、所述第二开关单元、所述第一阻抗调节单元的控制参数、所述第一电阻单元的控制参数、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阻抗校准方法，用于对高速发射电路进行阻抗校准，其特征在于，所述方法包括：提供阻抗校准电路，所述阻抗校准电路包括第一阻抗调节单元、第一电阻单元、第一开关单元、第二电阻单元、第三电阻单元、第二阻抗调节单元、第二开关单元、比较器单元和第十三电阻，所述第一阻抗调节单元、所述第一电阻单元、所述第十三电阻的一端和所述比较器单元的负向输入端均与所述第一开关单元连接，所述第十三电阻的另一端接工作电压，所述第二电阻单元、所述第三电阻单元、所述第二阻抗调节单元和所述比较器单元的正向输入端均与所述第二开关单元连接；调节所述第一开关单元，以使所述第一电阻单元与所述比较器单元的负向输入端连通，调节所述第二开关单元，以使所述第二阻抗调节单元、第三电阻单元与所述比较器单元的正向输入端连通，并使所述第二电阻单元与所述比较器单元的正向输入端断开连接，调节所述第一阻抗调节单元的控制参数，以将所述第一阻抗调节单元的阻抗调节到最小阻抗，调节所述第一电阻单元的电阻和所述第三电阻单元的电阻，以将所述第一电阻单元的电阻和所述第三电阻单元的电阻均调节至最大电阻；调节所述第二阻抗调节单元的控制参数，以调节所述第二阻抗调节单元的阻抗，直至所述比较器单元输出校准完成信号，将所述第二阻抗调节单元的控制参数作为第二调节控制参数；调节所述第一开关单元，以使得所述第一阻抗调节单元与所述比较器单元的负向输入端连通，调节所述第二开关单元，以使得所述第二阻抗调节单元、所述第三电阻单元与所述比较器单元的正向输入端断开连接，并使得所述第二电阻单元与所述比较器单元的正向输入端连通，调节所述第二阻抗调节单元的控制参数，以将所述第二阻抗调节单元的阻抗调节至最大阻抗；调节所述第一阻抗调节单元的控制参数，以调节所述第一阻抗调节单元的阻抗，直至所述比较器单元输出校准完成信号，将所述第一阻抗调节单元的控制参数作为第一调节控制参数；通过所述第一调节控制参数和所述第二调节控制参数调节所述高速发射电路，以实现对所述高速发射电路的阻抗校准。2.根据权利要求1所述的阻抗校准方法，其特征在于，所述第一电阻单元包括第一开关，所述第三电阻单元包括第六开关，所述第一开关和所述第六开关均内置电阻；所述调节所述第一电阻单元的电阻和所述第三电阻单元的电阻，以将所述第一电阻单元的电阻和所述第三电阻单元的电阻均调节至最大电阻，包括：接通所述第一开关，将所述第一开关内置的电阻接入所述第一电阻单元，以将所述第一电阻单元的电阻调节至最...

【专利技术属性】
技术研发人员：张浩，
申请(专利权)人：上海安路信息科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：