一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置，包括：用于输送厚膜晶片的输送带一；固定于所述输送带一前端面的工作台，所述工作台上端面安装有与所述输送带一平行设置的输送带二。本发明专利技术中，通过往复移动的吸盘，可以将生产线上带有厚膜电阻的晶片，取样移动至输送带二上进行电阻检测，并且安装不同数量的吸盘，与现有抽样装置相比，吸盘可以吸附在取样晶片的居中位置，防止抽样过程中造成晶片受力不均匀，断裂损坏的情况，可以根据生产线上不同数量的晶片，自由控制抽样数，提高抽样检测的精准度，且抽样速度快，无需停止生产线进行上下料抽样，更适用于厚膜晶片电阻大批量生产和抽样检测作业，提高工厂的加工效率。提高工厂的加工效率。提高工厂的加工效率。

【技术实现步骤摘要】
一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置


[0001]本专利技术涉及厚膜晶片电阻检测设备领域，尤其是一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置。

技术介绍

[0002]厚膜晶片电阻，是安装于晶片上的元器件，晶片是LED最主要的原物料之一，厚膜晶片电阻的好坏将直接决定LED的性能，在LED封装时，晶片来料呈整齐排列在晶片膜上，晶片上的厚膜电阻需要对其进行抽样检测，检测电阻是否符合标准。
[0003]现有的厚膜晶片电阻中抽样检测装置，在其使用的过程中，通过人工选样，将装有厚膜电阻的晶片通过检测装置进行检测，取样的过程中晶片易出现刮花，检测作业易造成损坏，同时检测效率慢，能抽样检测的电阻有限，使得检测的结果不够精准。
[0004]为此，我们提出一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置解决上述问题。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出现有的厚膜晶片电阻中抽样检测装置，通过人工选样，将装有厚膜电阻的晶片通过检测装置进行检测，检测效率慢，能抽样检测的电阻有限，使本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置，其特征在于，包括：用于输送厚膜晶片的输送带一(1)；固定于所述输送带一(1)前端面的工作台(2)，所述工作台(2)上端面安装有与所述输送带一(1)平行设置的输送带二(3)，所述输送带二(3)的输出端与所述输送带一(1)之间安装有固定于所述工作台(2)上端面的输送带三(4)；固定于所述工作台(2)上端面的检测仓(5)，所述检测仓(5)上端安装有电阻检测模块(6)；固定于所述工作台(2)上端面一侧的支撑杆(7)，所述支撑杆(7)上端安装有驱动组件(8)，所述驱动组件(8)包括固定于所述支撑杆(7)上端面的两个安装板(801)，两个所述安装板(801)一侧之间转动安装有主动轮(802)，两个所述安装板(801)另一侧之间转动安装有从动轮(803)，所述安装板(801)表面安装有驱动电机(804)，所述主动轮(802)与所述从动轮(803)表面啮合套接有转动带(805)，所述转动带(805)表面等距固定有若干个连接板(806)；设于所述连接板(806)表面的取样组件(9)；及设于所述安装板(801)上端的监测组件(11)。2.根据权利要求1所述的一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置，其特征在于，所述驱动电机(804)输出端与所述主动轮(802)固定连接，用于驱动连接板(806)转动。3.根据权利要求1所述的一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置，其特征在于，所述取样组件(9)包括：固定于若干个所述连接板(806)表面的支撑板(901)，所述支撑板(901)内腔套接插设有两个插杆(902)，两个所述插杆(902)一端固定有弹簧一(903)，所述弹簧一(903)延长端固定有挡块(904)，两个所述插杆(902)表面套接有安装座(905)，所述安装座(905)上端面固定有气缸(906)，所述气缸(906)伸缩端固定有托板(907)；及固定于所述托板(907)表面的吸盘(908)，所述托...

【专利技术属性】
技术研发人员：帅晓晴，蔡薇，吴倩楠，王新，何园彰，仲期胜，
申请(专利权)人：江西昶龙科技有限公司，
类型：发明
国别省市：