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本发明公开了一种从批量厚膜晶片电阻中抽样检测装置，包括：用于输送厚膜晶片的输送带一；固定于所述输送带一前端面的工作台，所述工作台上端面安装有与所述输送带一平行设置的输送带二。本发明中，通过往复移动的吸盘，可以将生产线上带有厚膜电阻的晶片，取...
该专利属于江西昶龙科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江西昶龙科技有限公司授权不得商用。

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