【技术实现步骤摘要】
真空环境下的低温吸附与再生系统
[0001]本专利技术涉及真空设备
,特别是涉及一种真空环境下的低温吸附与再生系统。
技术介绍
[0002]目前,在半导体制造行业中,如真空镀膜、刻蚀、EUV光刻等工艺,往往需要真空条件,而现有的真空腔室由于内部材料出气、腔室壁漏气、工作过程释放的气体等情况,能达到的极限真空低于真空抽气机组的极限真空,要想改善这种情况,就需要增加真空设备,如通过增加真空泵数量提高真空抽气机组的抽速,但由于高真空工况下的真空泵需要搭配前级泵以及在腔室内外壁上设置相应的接口等,占据较大的空间,使用不方便。另外,部分特殊工况下的腔室,如EUV光刻的投影腔室,含有对水分子和碳氢化合物非常敏感的反射光学元件,需要针对这些特定气体进行低分压控制,而真空泵无法满足这些需求。
[0003]针对现有真空系统存在的问题,本专利技术提供一种低温吸附与再生系统,通过制冷系统对冷板进行低温控制,相比于真空泵,该系统占用更少的空间,使用灵活方便;针对临界温度高的水分子、碳氢化合物分子,该系统利用冷板的低温吸附原理,能够在更 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种真空环境下的低温吸附与再生系统,其特征在于:包括主腔室、工件台、冷板、再生系统、真空系统和制冷系统;其中,所述工件台和所述冷板设置在所述主腔室内;所述再生系统设置在所述冷板外围,用于所述冷板的再生;所述真空系统设置在所述主腔室的顶部外侧,用于对所述主腔室抽真空;所述制冷系统对称设置在所述主腔室的外侧面,用于对所述冷板进行低温控制。2.如权利要求1所述的真空环境下的低温吸附与再生系统,其特征在于,在所述冷板的内部设置有S型管道,在所述冷板的表面设置有温度传感器,所述冷板为偶数个,数量至少为两个,所述冷板在所述工件台的下方沿所述主腔室的中心线对称设置。3.如权利要求1所述的真空环境下的低温吸附与再生系统,其特征在于,所述再生系统包括再生腔室、薄膜展开系统、冷却气体管道、再生加热系统以及气体回收泵;其中,所述再生腔室的顶部和底部为敞口,所述冷板设置在所述再生腔室的中央位置;所述薄膜展开系统用于所述冷板再生过程中封闭所述再生腔室;所述冷却气体管道设置在所述冷板的侧面,用于将所述制冷系统的低温气体通入所述冷板内部;所述再生加热系统包括热气体管道和电加热丝;所述气体回收泵设置在所述主腔室的底部外侧,并通过泵管道与所述冷板连通,以回收所述冷板再生过程中的再生气体。4.如权利要求3所述的一种真空环境下的低温吸附与再生系统,其特征在于,所述薄膜展开系统包括卷轴、电机、薄膜和密封机构;其中,所述卷轴设置有两个,且对称设置在所述再生腔室一侧,用于收纳封闭...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱煜,张鸣,文振武,成荣,刘相波,殷凤志,
申请(专利权)人:清华大学,
类型:发明
国别省市:
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