一种高精密元器件功能测试治具制造技术

本实用新型专利技术涉及测试治具技术领域，尤其涉及一种高精密元器件功能测试治具，解决现有技术中存在的缺点，包括治具座，所述治具座的顶部开设有凹槽，所述凹槽的内部滑动连接有连接板，所述连接板的两端分别固定连接有压板和挡块，所述挡块的顶部一侧呈倾斜状；所述治具座的顶部通过沉头螺钉固定有对称布置的仿形座，所述仿形座的内部依次开设有相连通的仿形槽和侧槽，通过压板、连接板、滑动块、测试探针以及挡块等结构的设置，在对检测时，电路板放置在仿形座中，电路板对下方的压板挤压可使得两侧的测试探针自动滑出，无需再次动作，电路板取出后探针可拉动限位块复位，大大地提高了测试效率，适用于批量检测。适用于批量检测。适用于批量检测。

【技术实现步骤摘要】
一种高精密元器件功能测试治具


[0001]本技术涉及测试治具
，尤其涉及一种高精密元器件功能测试治具。

技术介绍

[0002]治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作的一种工具，治具的分类，治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类。
[0003]现有技术中用于高精密元器件的测试治具在检测时需要先将电路板固定安放在治具上，然后推动探针与电路板接触进行检测，操作步骤多，效率低下，不适合批量检测。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种高精密元器件功能测试治具。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种高精密元器件功能测试治具，包括治具座，所述治具座的顶部开设有凹槽，所述凹槽的内部滑动连接有连接板，所述连接板的两端分别固定连接有压板和挡块，所述挡块的顶部一侧呈倾斜状；
[0007]所述治具座的顶部通过沉头螺钉固定有对称布置的仿形座，所述仿形座的内部依次开设有相连通的仿形槽和侧槽，所述侧槽的内部滑动连接有滑动块，所述滑动块的一侧固定安装有若干个呈阵列分布的测试探针；
[0008]所述滑动块的另一侧固定设置有滑杆，滑杆的端部焊接有限位块，滑杆的外部套设有第二弹簧，所述第二弹簧的两端分别通过卡扣与限位块和仿形座固定连接。
[0009]优选的，所述凹槽的底壁上开设有对称布置的安装槽，安装槽的底壁上通过卡扣固定连接有第一弹簧，第一弹簧的另一端与压板的底部固定连接。
[0010]优选的，所述仿形座上还开设有与所述侧槽相连通的滑孔，所述滑杆嵌入在滑孔的内部。
[0011]优选的，所述滑动块与滑杆为一体成型结构。
[0012]本技术的有益效果是：与现有技术相比较，本技术结构简单、设计合理，通过压板、连接板、滑动块、测试探针以及挡块等结构的设置，在对检测时，电路板放置在仿形座中，电路板对下方的压板挤压可使得两侧的测试探针自动滑出，无需再次动作，电路板取出后探针可拉动限位块复位，大大地提高了测试效率，适用于批量检测。
附图说明
[0013]图1为本技术提出的一种高精密元器件功能测试治具的正面剖视图；
[0014]图2为本技术提出的一种高精密元器件功能测试治具的标号A处放大图。
[0015]图中：1治具座、2凹槽、3仿形座、31仿形槽、32侧槽、4压板、5安装槽、6第一弹簧、7
连接板、8限位块、9第二弹簧、10滑杆、11滑动块、12挡块、13测试探针。
具体实施方式
[0016]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0017]参照图1
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2，一种高精密元器件功能测试治具，包括治具座1，治具座1的顶部开设有凹槽2，凹槽2的内部滑动连接有连接板7，连接板7的两端分别固定连接有压板4和挡块12，挡块12的顶部一侧呈倾斜状；治具座1的顶部通过沉头螺钉固定有对称布置的仿形座3，仿形座3的内部依次开设有相连通的仿形槽31和侧槽32，侧槽32的内部滑动连接有滑动块11，滑动块11的一侧固定安装有若干个呈阵列分布的测试探针13；滑动块11的另一侧固定设置有滑杆10，滑杆10的端部焊接有限位块8，滑杆10的外部套设有第二弹簧9，第二弹簧9的两端分别通过卡扣与限位块8和仿形座3固定连接。
[0018]其中，通过压板4、连接板7、滑动块11、测试探针13以及挡块12等结构的设置，在对检测时，电路板放置在仿形座3中，电路板对下方的压板4挤压可使得两侧的测试探针13自动滑出，无需再次动作，电路板取出后探针可拉动限位块8复位，大大地提高了测试效率，适用于批量检测。
[0019]凹槽2的底壁上开设有对称布置的安装槽5，安装槽5的底壁上通过卡扣固定连接有第一弹簧6，第一弹簧6的另一端与压板4的底部固定连接，仿形座3上还开设有与侧槽32相连通的滑孔，滑杆10嵌入在滑孔的内部，滑动块11与滑杆10为一体成型结构。
[0020]本实施例中，测试时，将电路板放置在两个仿形座3的仿形槽31中，电路板与压板4接触后再推动压板4向下滑移，压板4带着与之刚性连接的连接板7和挡块12一同移动，当电路板完全放好后，滑动块11的一侧无作用力，滑动块11则在弹簧的弹力推动下滑移，带着测试探针13与电路板接触进行测试；
[0021]在仿形座3上有与电路板相匹配的卡扣件，电路板不会弹出，在测试完成后，将电路板取下，顶板受到弹簧的弹力顶出，此时人员可拉动两侧的限位块8，滑动块11沿着挡块12的倾斜面移动，可再次移动至挡块12的另一侧复位。
[0022]以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高精密元器件功能测试治具，包括治具座(1)，其特征在于，所述治具座(1)的顶部开设有凹槽(2)，所述凹槽(2)的内部滑动连接有连接板(7)，所述连接板(7)的两端分别固定连接有压板(4)和挡块(12)，所述挡块(12)的顶部一侧呈倾斜状；所述治具座(1)的顶部通过沉头螺钉固定有对称布置的仿形座(3)，所述仿形座(3)的内部依次开设有相连通的仿形槽(31)和侧槽(32)，所述侧槽(32)的内部滑动连接有滑动块(11)，所述滑动块(11)的一侧固定安装有若干个呈阵列分布的测试探针(13)；所述滑动块(11)的另一侧固定设置有滑杆(10)，滑杆(10)的端部焊接有限位块(8)，滑杆(10)的外部...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈增，陈耀平，李平，
申请(专利权)人：昆山楷泰威精密机械有限公司，
类型：新型
国别省市：