一种用于IPM高温反偏试验系统的老化板技术方案

技术编号:32060337 阅读:79 留言:0更新日期:2022-01-27 15:04
本实用新型专利技术公开了一种用于IPM高温反偏试验系统的老化板,属于试验设备技术领域,包括板体,其特征在于:板体一侧设置VCC供电端,VCC供电端一侧设置插板检测采样端,插板检测采样端远离VCC供电端一侧设置Vg驱动电源供电端,Vg驱动电源供电端远离VCC供电端一侧设置金手指漏电采样端,板体表面设置放置台,放置台与VCC供电端、插板检测采样端、Vg驱动电源供电端均电性连接,放置台的数量为24组,24组放置台呈8*3矩形阵列设置,本实用新型专利技术相较于现有老化板,老化工位更多,试验效率更高,有效地解决了现有IPM模块的高温反向偏压试验老化工位偏少、对试验量大的厂商来说不够用的问题。对试验量大的厂商来说不够用的问题。对试验量大的厂商来说不够用的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于IPM高温反偏试验系统的老化板


[0001]本技术涉及试验设备
,具体是一种用于IPM高温反偏试验系统的老化板。

技术介绍

[0002]为保证器件的可靠性,厂商在器件出厂前,会采用一系列可靠性试验对器件进行考核、筛选,针对器件不同的使用环境,采用的可靠性试验的种类、条件也会有一定的差异。对于高压器件来说,高温反向偏压试验是器件出厂前必做的试验之一。根据国际电工委员会的标准,该试验的条件为:试验过程中的结温优选器件所能承受的最高结温,施加的电压优选最大反偏电压的80%,考核时长根据器件应用环境的不同而不同,在电力系统中的应用一般要达到1000h,器件内部应当仅有很小的反向漏电流通过,几乎不消耗功率,该试验对剔除具有表面效应缺陷的早期失效器件特别有效,这些器件的失效与时间和应力有关,如未经此试验,这些器件在正常的使用条件下会发生早期失效,但在现有技术条件下,该试验存在一些问题,比如,市场上IPM模块的高温反向偏压试验老化工位偏少,对一些试验量大的厂商来说并不够用,安装也不方便,基于这种情况,如何才能避免IPM模块的高温反向偏压试验老化本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于IPM高温反偏试验系统的老化板,包括板体(8),其特征在于:所述板体(8)一侧设置VCC供电端(1),所述VCC供电端(1)一侧设置插板检测采样端(2),所述插板检测采样端(2)远离所述VCC供电端(1)一侧设置Vg驱动电源供电端(3),所述Vg驱动电源供电端(3)远离所述VCC供电端(1)一侧设置金手指漏电采样端(4),所述板体(8)表面设置放置台(7),所述放置台(7)与所述VCC供电端(1)、插板检测采样端(2)、Vg驱动电源供电端(3)均电性连接。2.根据权利要求1所述的一种用于IPM高温反偏试验系统的老化板,其特征在于,所述放置台(7)的数量为24组,24组所...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡久恒代凯旋胡久旺安浙文
申请(专利权)人:杭州高坤电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1