【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种，特别涉及一种可适用于封装完成的电晶体进行全面测试作业的自动化测试装置及其测试方法。
技术介绍
习知的电子元件及电子产品等，在制程当中及出厂前，均会进行一系列的检验及测试等品管动作，除了确保其产品品质之外，并可因检测动作发现制程上的瑕疵，以进行修正、改进或更换，俾提升其产品的良品率。现今的晶片封装或微处理器制造厂商，通常提供给消费者长期的保固期间，甚或终身保固，因此特别需在产品制程中及出厂前经过严密的品质控管，尤其在出厂前常会进行全面的测试工作，以确保市面上每一颗晶片具有良好的品质及功能效果，藉此降低其后续的品管成本。但习知的晶片实际测试方法，是使用多数人力分别看守数个测试用主机板的置柜，该置柜内部安装有复数测试用主机板以供晶片植装测试，因此一人仅能看守若干主机板置柜，造成人力成本的增加；其次，习知的测试作业是以人力将晶片植装于测试主机板，经过一系列测试动作之后，再以人力取下电晶体，可见其浪费许多时间在前置作业(拿取晶片)及后续作业(取出晶片并区别置放等)动作中，影响品管速率甚深，不利于大量生产，如此虽能降低往后保固期间回厂维修成本，却增加了...
【技术保护点】
一种电子元件的自动化测试装置，其特征在于：其包括有一主机板置柜、二组撷取装置、一收纳区、一输送装置、一控管主机，其中，主机板置柜为立式柜，该主机板置柜内设有复数测试用主机板，测试用主机板与控管主机连线；二组撷取装置是进行电子元件取撷、插植及置放动作的自动化机械装置，其分别设置于主机板置柜两面处，二组撷取装置与控管主机连线；收纳区区分有已测区及未测区，供集中置放电子元件，收纳区设有一整理装置，该整理装置与控管主机连线；输送装置是将收纳区未测电子元件运输至主机板置柜处，并将主机板置柜的已测电子元件输出至收纳区的运送装置，该输送装置设于二组撷取装置及收纳区的整理装置间，输送装置与控管主机连线。
【技术特征摘要】
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