发射筒薄膜前盖的性能试验装置及方法制造方法及图纸

技术编号:32018427 阅读:41 留言:0更新日期:2022-01-22 18:36
本发明专利技术提供了一种发射筒薄膜前盖的性能试验装置及方法,包括安装薄膜前盖的气密试验工装,所述气密试验工装通过一通气管连通有安装管;所述安装管处允许安装进气机构或出气机构。本发明专利技术发射筒薄膜前盖的性能试验装置可以检测薄膜前盖正向承压性能和反向承压性能是否合格,有利于提高薄膜前盖性能试验的效果。有利于提高薄膜前盖性能试验的效果。有利于提高薄膜前盖性能试验的效果。

【技术实现步骤摘要】
发射筒薄膜前盖的性能试验装置及方法


[0001]本专利技术涉及发射筒薄膜前盖的
,具体地,涉及一种发射筒薄膜前盖的性能试验装置及方法。

技术介绍

[0002]近年来,随着导弹发射技术的不断提高,对发射筒也提出了更多的要求,而发射筒前盖作为导弹发射系统的重要组成部分,在导弹平时正常储存和运输中,发射筒前盖保护导弹免受外力损伤同时防止发射筒内的干燥气体泄露,保证导弹有一个良好的贮存环境。当导弹发射时,需要发射筒前盖能够迅速冲破,给导弹让出飞行通道,这就使得发射筒前盖需具备良好的耐候性与电磁屏蔽的功能。发射筒前盖技术也得到了迅速发展,相继出现了机械式、易碎式、易裂不脱落式以及薄膜前盖冲破式多种开盖方式,如US Pat.3970006,1976、US Pat.4333381,1982、US Pat.4498368,1985以及CN 1844839A等,但这些专利并未涉及到前盖性能试验方法,前盖在满足环境适应性的情况下,性能试验是否考核充分,直接影响到发射筒交付用户后设计指标能否实现,也直接影响到部队战斗力的生成。
[0003]公开号为CN1844839A的中国专利技术专利公开了一种整体冲破式复合材料薄膜盖,属导弹发射
该薄膜盖,以玻璃纤维布和环氧树脂为主体材料,其内表面粘贴有铝箔作为电磁波屏蔽层,其特征在于:由外围向内包括框架、薄弱区、主体;主体采用[(0
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)]准各向同性层板的铺叠方法,以保证薄膜盖周边强度基本相同并通过胶接与框架连接,胶接处即为薄弱区;主体与框架的胶接处上下面还粘贴有起增加薄弱区强度作用的整布或布条。通过调节其层数、宽度来调节薄弱区强度,以满足不同压力指标。此专利具有效果好,反应迅速,结构简单、制作工艺简单的特点。
[0004]针对上述中的相关技术,专利技术人认为应用后出现的层间开裂、油漆脱落等都是前盖性能试验考核不充分所致,薄膜前盖性能试验的效果较差。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中的缺陷,本专利技术的目的是提供一种发射筒薄膜前盖的性能试验装置及方法。
[0006]根据本专利技术提供的一种发射筒薄膜前盖的性能试验装置,包括安装薄膜前盖的气密试验工装,所述气密试验工装通过一通气管连通有安装管;
[0007]所述安装管处允许安装进气机构或出气机构。
[0008]优选的,所述通气管上安装有检测表。
[0009]优选的,所述气密试验工装上抵触设置有提高气密试验工装和薄膜前盖之间密封性的密封圈,且密封圈和薄膜前盖配合连接。
[0010]优选的,该装置还包括对薄膜前盖进行检漏的检漏机构。
[0011]优选的,所述检漏机构包括可拆卸覆盖设置在薄膜前盖上的密封薄膜和允许插入密封薄膜对薄膜前盖检查漏率的检漏仪,密封薄膜和薄膜前盖之间的缝隙密封设置。
[0012]优选的,还包括安装薄膜前盖的试验台,试验台上设置有对薄膜前盖进行冲破的冲破机构,冲破机构上连接有检测冲破薄膜前盖冲破力大小的检测机构。
[0013]根据本专利技术提供的一种发射筒薄膜前盖的性能试验方法,将薄膜前盖安装在所述气密试验工装上,薄膜前盖和气密试验工装之间形成封闭空间,使气密试验工装和薄膜前盖之间的压强为预设压强并保压预设时间;检测薄膜前盖的漏率是否符合要求。
[0014]根据本专利技术提供的一种发射筒薄膜前盖的性能试验方法,将薄膜前盖安装在所述气密试验工装上,薄膜前盖和气密试验工装之间形成封闭空间,使气密试验工装和薄膜前盖之间的压强为预设压强并保压预设时间;进而使气密试验工装和薄膜前盖之间的气压、外界气压二者之间压力平衡后将薄膜前盖从气密试验工装上卸下,检测薄膜前盖是否符合要求。
[0015]根据本专利技术提供的一种发射筒薄膜前盖的性能试验方法,将薄膜前盖紧固在试验台上,冲破薄膜前盖,且冲破薄膜前盖的最大冲击力不大于预设冲击力,检查薄膜前盖的冲破情况。
[0016]根据本专利技术提供的一种发射筒薄膜前盖的性能试验方法,将薄膜前盖安装在发射架的发射工位上,发射架上薄膜前盖邻侧的发射工位上装填有不带薄膜前盖的发射筒,发射筒内有导弹,进行邻筒薄膜前盖的影响试验,发射导弹;薄膜前盖累计承受发射筒内导弹多次发射的燃气流的冲刷,检测薄膜前盖的阻燃性能。
[0017]与现有技术相比,本专利技术具有如下的有益效果:
[0018]1、发射筒薄膜前盖的性能试验装置可以检测薄膜前盖正向承压性能和反向承压性能是否合格,有利于提高薄膜前盖试验的效果;
[0019]2、通过添加检漏机构,发射筒薄膜前盖的性能及方法可以检测薄膜前盖气密性能是否合格,有利于提高薄膜前盖试验的效果;
[0020]3、冲破机构冲破薄膜前盖,检测机构检测对薄膜前盖的冲破力大小可以检测薄膜前盖的动态冲破性能是否合格,有利于提高薄膜前盖试验的效果。
附图说明
[0021]通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述,本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
[0022]图1是薄膜前盖气密性能试验示意图;
[0023]图2是薄膜前盖反向承压性能试验示意图;
[0024]图3是薄膜前盖正向承压性能试验示意图;
[0025]图4是薄膜前盖冲破性能试验示意图;
[0026]图5是薄膜前盖阻燃性能试验示意图。
[0027]附图标记:1、检漏仪;2、气密试验工装;3、螺钉;4、密封圈;5、薄膜前盖;6、探针;7、密封薄膜;8、通气管;9、检测表;10、控制阀门;11、安装管;12、出气机构;13、进气机构;14、试验台;15、刚度弹;16、吸力器;17、连接绳;18、挡板;19、导轨;20、液压缓冲器;21、力传感器;22、数据传输线;23、数据采集与处理系统;24、发射架;25、发射筒;26、导弹。
具体实施方式
[0028]下面结合具体实施例对本专利技术进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本专利技术,但不以任何形式限制本专利技术。应当指出的是,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本专利技术构思的前提下,还可以做出若干变化和改进。这些都属于本专利技术的保护范围。
[0029]本专利技术实施例公开了一种发射筒薄膜前盖的性能试验装置,如图1所示,包括安装薄膜前盖5的气密试验工装2。
[0030]气密试验工装2通过一通气管8分别连通有两个安装管11;一个安装管11远离气密试验工装2的端部允许安装进气机构13,进气机构13比如是装有氮气的气瓶,另一个安装管11远离气密试验工装2的端部允许安装出气机构12,出气机构12比如是真空泵。
[0031]通气管8上安装有检测表9,检测表9比如是压力表。安装管11上分别设置有控制气体进出的控制阀门10,控制阀门10比如是压力表阀门。
[0032]气密试验工装2上抵触设置有提高本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种发射筒薄膜前盖的性能试验装置,其特征在于:包括安装薄膜前盖(5)的气密试验工装(2),所述气密试验工装(2)通过一通气管(8)连通有安装管(11);所述安装管(11)处允许安装进气机构(13)或出气机构(12)。2.根据权利要求1所述的发射筒薄膜前盖的性能试验装置,其特征在于:所述通气管(8)上安装有检测表(9)。3.根据权利要求1所述的发射筒薄膜前盖的性能试验装置,其特征在于:所述气密试验工装(2)上抵触设置有提高气密试验工装(2)和薄膜前盖(5)之间密封性的密封圈(4),且密封圈(4)和薄膜前盖(5)配合连接。4.根据权利要求1

3任一所述的发射筒薄膜前盖的性能试验装置,其特征在于:该装置还包括对薄膜前盖(5)进行检漏的检漏机构。5.根据权利要求4所述的发射筒薄膜前盖的性能试验装置,其特征在于:所述检漏机构包括覆盖设置在薄膜前盖(5)上的密封薄膜(7)和允许插入密封薄膜(7)对薄膜前盖(5)检查漏率的检漏仪(1),密封薄膜(7)和薄膜前盖(5)之间的缝隙可拆卸密封设置。6.根据权利要求1所述的发射筒薄膜前盖的性能试验装置,其特征在于:还包括安装薄膜前盖(5)的试验台(14),试验台(14)上设置有对薄膜前盖(5)进行冲破的冲破机构,冲破机构上连接有检测冲破薄膜前盖(5)冲破力大小的检测机构。7.一种发射筒薄膜前盖的性能试验方法,其特征在于:应用权利要求1

6任一所述的发射筒薄膜前盖的性能试验装置,将薄膜前盖(5)安装在所述气密试验工装(2)上,薄膜前盖(5)和气密试验工...

【专利技术属性】
技术研发人员:张保刚刘龙涛张兴勇俞刘建孙立东陈晶华李微微仇理宽董锡君
申请(专利权)人:上海机电工程研究所
类型:发明
国别省市:

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