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发射筒薄膜前盖的性能试验装置及方法制造方法及图纸
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文档序号:32018427
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本发明提供了一种发射筒薄膜前盖的性能试验装置及方法,包括安装薄膜前盖的气密试验工装,所述气密试验工装通过一通气管连通有安装管;所述安装管处允许安装进气机构或出气机构。本发明发射筒薄膜前盖的性能试验装置可以检测薄膜前盖正向承压性能和反向承压性...
该专利属于上海机电工程研究所所有,仅供学习研究参考,未经过上海机电工程研究所授权不得商用。
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