一种废旧芯片重新处理再利用的方法技术

本发明专利技术公开一种废旧芯片重新处理再利用的方法，包括以下步骤：S1：用由退火缓冲液和无核酸酶水按照(0.75

【技术实现步骤摘要】
一种废旧芯片重新处理再利用的方法


[0001]本专利技术属于芯片再生利用领域，具体涉及一种废旧芯片重新处理再利用的方法。

技术介绍

[0002]基于高通量测序基本原理，在孕妇血浆中的游离DNA片段两端加上通用的测序接头，构建好可以用于测序的测序文库。利用乳液PCR技术对测序文库进行扩增，形成测序模板，通过对阳性模板进行富集以达到测序要求。
[0003]利用半导体测序系统通过在半导体芯片的微孔中固定DNA链，DNA聚合酶以单链DNA为模板，按碱基互补原理，合成互补的DNA链。DNA链每延伸一个碱基时，就会释放一个质子，导致局部pH变化，离子传感器检测pH变化，并将化学信号转换成数字信号，从而可以实时判读碱基，最终获得每个DNA片段的碱基序列。利用生物信息分析把这些序列定位到人类基因组参考图谱上，计算出样本的游离DNA序列被分配到每条染色体上的具体数值比例。当胎儿的某条染色体数目增加时，其对应的游离DNA序列数量会小幅增加，通过半导体测序技术和生物信息学数据分析可以检测出这种微量变化，从而获得染色体数目的信息，进而实现对21三体综合征，18三体综合征和13三体综合征进行快速的产前辅助诊断。但是，利用半导体测序由于试剂、样本等原因会出现测序失败的情况，具体原因如下：1)模板序列富集步骤中1M NaOH和洗脱液配制错误，导致双链DNA无法碱变性为单链DNA，则不能进行碱基互补配对，测序失败；2)清洗芯片时，氮气没有完全把异丙醇吹干，芯片里面有残留的异丙醇，导致polyclonal偏高，Low Quality增加，Usable Reads偏低，测序失败；3)上样测序步骤，测序试剂配制错误，使异丙醇残留，导致polyclonal偏高，Low Quality增加，Usable Reads偏低，测序失败；4)退火缓冲液、测序引物加入错误，退火反应程序设置错误，导致测序引物无法连接到单链DNA模板上，测序失败；5)酶反应液配制错误，无碱基互补配对所必须的测序聚合酶，测序失败。现有方法在半导体测序失败或失效之后，由于用过的半导体芯片中DNA呈双链结构，无法准确识别和测序，只能用新的半导体芯片进行二次检测，废半导体芯片通常作为废弃物处理，提高了医学检测成本，造成了资源浪费。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足之处，本专利技术的目的在于提供一种废旧芯片重新处理再利用的方法。
[0005]本专利技术的技术方案概述如下：
[0006]一种废旧芯片重新处理再利用的方法，包括以下步骤：
[0007]S1：用AB溶液清洗测序失败的废旧芯片3
‑
5次，每次清洗，AB溶液用量为80
‑
150uL；
[0008]所述AB溶液由退火缓冲液和无核酸酶水按照(0.75
‑
1.25)：1的体积比混合配制而成；
[0009]S2：分两次将200
‑
250uL洗脱液加入芯片孔中，25℃室温孵育3
‑
5min；
[0010]所述洗脱液由吐温溶液和NaOH溶液按照(6
‑
8)：1的体积比混合配制而成；
[0011]S3：再用AB溶液清洗芯片3
‑
5次，每次清洗，AB溶液用量为80
‑
150uL；
[0012]S4：将35
‑
45uL测序引物和30
‑
35uL退火缓冲液混合均匀后，配制成65
‑
80uL退火体系，再将其加入芯片孔中，再放到pcr仪进行退火；
[0013]S5：用80
‑
150uL的AB溶液清洗芯片3
‑
5次后，将60
‑
70uL酶反应液加入芯片孔中，25℃室温孵育4
‑
8min后，上机测序；
[0014]所述酶反应液由55
‑
63μL AB溶液和5
‑
7μL测序聚合酶配制而成。
[0015]优选的是，所述废旧芯片中含有9
‑
20个上次测序失败的待测序样本。
[0016]优选的是，所述待测序样本总体积为50
‑
60μL。
[0017]优选的是，所述AB溶液由退火缓冲液和无核酸酶水按照1：1的体积比混合配制而成。
[0018]优选的是，所述洗脱液由吐温溶液和NaOH溶液按照7：1的体积比混合配制而成。
[0019]优选的是，所述吐温溶液质量浓度为1
‑
5％。
[0020]优选的是，所述NaOH溶液浓度为0.8
‑
1.2M。
[0021]优选的是，所述退火反应条件为：93
‑
97℃变性1.5
‑
3min，36
‑
38℃退火1.5
‑
3min，18
‑
22℃保存。
[0022]优选的是，所述退火反应条件为：95℃变性2min，37℃退火2min，20℃保存。
[0023]优选的是，所述测序聚合酶的酶活力为10
‑
20U/μL。
[0024]本专利技术的有益效果：
[0025]1、本专利技术采用AB溶液清洗测序过的芯片，可将上次测序过程中加入的聚合酶、碱基、产生的磷酸根离子等表面杂质冲洗干净，还能将S2洗脱过程中，产生的另一条无用的单链DNA和洗脱液清除。
[0026]2、本专利技术洗脱液加入芯片孔里，室温孵育3
‑
5min，根据碱变性的原理，使双链DNA解螺旋为单链DNA，以备后面上机测序，使其在后续步骤中不断地以单链DNA为模板进行碱基互补配对，达到精准测序的目的。
[0027]3、本专利技术退火体系打到芯片里，放到pcr仪进行退火，高温加热使异丙醇挥发，解决了因异丙醇在芯片里残留所致的测序失败问题，同时使测序引物连接到单链DNA模板上，以备后面上机测序，解决了因退火体系(退火缓冲液和测序引物)加入错误的测序失败问题。
[0028]4、本专利技术酶反应液加入芯片孔里，25℃室温孵育4
‑
8min，通过步骤S2、S4的处理后再重新酶孵育，解决了因酶反应液配制错误所致的测序失败问题。
[0029]5、本专利技术通过对测序失败的废旧芯片进行处理利用，使废芯片能重新测序，实现废旧芯片的循环再生，节约资源，避免造成浪费。
附图说明
[0030]图1为废旧芯片重新处理再利用的方法流程图；
[0031]图2为对比例1未处理前的废旧芯片测序结果质控分析图；
[0032]图3为实施例1处理的废旧芯片测序结果质控分析图；
[0033]图4为对比例2未处理前的废旧芯片测序结果质控分析图；
[0034]图5为实施例2处理的废旧芯片测序结果质控分析图；
[0035]图6为对比例3处理的废旧芯片测序结果质控分析图；
[0036]图7为实施例3处理的废旧芯本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种废旧芯片重新处理再利用的方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：用AB溶液清洗测序失败的废旧芯片3
‑
5次，每次清洗，AB溶液用量为80
‑
150uL；所述AB溶液由退火缓冲液和无核酸酶水按照(0.75
‑
1.25)：1的体积比混合配制而成；S2：分两次将200
‑
250uL洗脱液加入芯片孔中，25℃室温孵育3
‑
5min；所述洗脱液由吐温溶液和NaOH溶液按照(6
‑
8)：1的体积比混合配制而成；S3：再用AB溶液清洗芯片3
‑
5次，每次清洗，AB溶液用量为80
‑
150uL；S4：将35
‑
45uL测序引物和30
‑
35uL退火缓冲液混合均匀后，配制成65
‑
80uL退火体系，再将其加入芯片孔中，再放到pcr仪进行退火；S5：用80
‑
150uL的AB溶液清洗芯片3
‑
5次后，将60
‑
70uL酶反应液加入芯片孔中，25℃室温孵育4
‑
8min后，上机测序；所述酶反应液由55
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63μL AB溶液和5
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7μL测序聚合酶配制而成。2.根据权利要求1所述一种废旧芯片重新处理再利用的方法，其特征在于，所述废...

【专利技术属性】
技术研发人员：康卫灵，李志强，丁璐，王蔚然，
申请(专利权)人：合肥金域医学检验实验室有限公司，
类型：发明
国别省市：